QNix4500镀层测厚仪

 4500镀层测厚仪

品牌：德国尼克斯

型号：QNix4500

 

QNix4500涂镀层测厚仪，我公司大量现货供应，提供送货上门服务，可开具增值税专用发票；产品保证为原厂原装，假一罚十万现金；欢迎来电咨询我们，谢谢。

 

一、4500镀层测厚仪简介

QNix4200和QNix4500这两种型号一体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的非磁性涂层、镀层；QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪，不仅可以用来测量钢铁等磁性基体上的非磁性涂镀层，还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的非导电涂层，如油漆层、氧化膜、磷化膜等覆层。这两个型号操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。

 

二、测量

将仪器探头垂直接触被测物的表面，仪器将自动开机并测得数据。注意：测量时务必要使探头垂直接触被测物表面、并压实，每测量一次后将仪器拿起，离开被测物10cm以上，再进行下一点测量。

 

三、调零

仪器在测量前，为减少测量误差，应在基体上取零位作基准。建议用未喷涂的同一种工件表面调零，因为材料之间磁性和导电性不同，会造成一定误差。若没有未喷涂的工件可以用附送的调零板调零。用仪器测量基体，如显示0，表明已是零位，不需要再调零。如不显示0，则需要调零。将仪器探头压在调零板或未喷涂的工件表面上，不要抬起，按一下仪器上的红键松开，听到响声液晶显示一组数后，拿开仪器，再次听到响声后，液晶显示0，调零完毕。 注意：由于工件表面粗糙度的原因，调零后，再测时不一定是绝对的零位，这是正常现象。

 

四、Fe/NFe探头转换

QNix4500为两用探头，当测量不同的基体时，需要对磁性模式（Fe）与非磁性模式（NFe）进行转换。在开机状态下，按红键进入菜单选项，继续按红键选择Fe或者Nfe；选项短暂停留后，就已选择相应的测量模式，也可以选择Fe/Nfe选项，短暂停留后就进入自动识别基体模式（推荐使用）！

 菜单中Averaging为平均值选项，在Averaging选项短暂停留后出现ON和OFF两个选项，在ON选项下短暂停留后进入平均值测量模式，测量时所显示读数为最后三次读数的平均值（包括本次测量），在OFF选项下短暂停留后退出平均值测量模式。

 

五、显示

Fe：测量铁磁性基体模式

NFe：测量非磁性基体模式

Err：操作失误

INFI：探头模式与被测基体不符（见第八项，第二点）

BAT：电量不足，需换电池

 

六、4500镀层测厚仪维护和维修

QNix4200/4500测厚仪采用最先进的电子技术,能满足各种不同的测量要求。高精度的设备,坚固的结构和便于使用等特点使得该仪器具有广泛的应用。只要正确使用和维护,它的寿命会很长。仪器需要保持清洁, 不要摔落, 避免与潮气,具有化学腐蚀性的物质或气体接触。使用完毕,仪器应被放回具有保护性和便于挪动的盒子中。温度的剧烈变化将影响测量结果,所以不要直接把仪器暴露在强烈的阳光下或能引起温度聚变的能量中。仪器对大多数溶剂具有抵抗性,但不能保证极少数化学物质的腐蚀,这时处理的方法仅仅是用一块潮湿,柔软的布擦洗仪器。只有探针保持清洁,才能获得准确的数据,所以要定期检查探针,清理探针上残留的污物诸如漆等。仪器长期不被使用时, 为避免因漏电而损坏,要取出电池。出现故障时,请不要自行修理,我们的维修部门随时竭诚为您服务。

 

七、技术参数

磁性基体：Fe探头（4200/4500）

非磁性基体：NFe探头（4500）

测量范围：Fe:0-3000μm/NFe:0-3000μm

精度：

0-50μm:≤±1μm；50-1000μm:≤±1.5%读数；1000-3000μm:≤±3%读数

最小接触面：10×10mm

最小曲率半径： 凸面：3mm 凹面：25mm

最小机体厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05μm

温度补偿范围：-10℃-60℃

测量范围：0℃-50℃

显示：LCD液晶

探头：红宝石固定式

电源：2×1.5V干电池

尺寸：100×60×27mm

重量：105g

 

八、4500镀层测厚仪注意事项和常见问题     

1.测量应为点接触，严禁将探头置于被测物表面滑动。

2.出现INFI时，有可能是由于测量基体选择错误造成的，请按照第四项选择测量基体FE、NFE或自动识别FE/NFE，如未能解决，请执行第三项调零过程即可。     

3.因国家地区所用厚度单位不同，在中国销售的Qnix4500/4200型使用的是μm，因此屏蔽了英制单位mil，有时因操作不当激活mil单位，此时用户只需复位即可，复位过程为先把电池取下，然后按住红键装上电池，复位完成后松开红键即可。

 

4500镀层测厚仪的任何有关信息，都可以咨询我们；还可以获得更多的图片，技术参数，规格型号，用途说明，使用操作说明书，使用注意事项；具体操作方法等；欢迎致电我们，我们将提供优质的产品和完善的服务。

该公司产品分类： 雾度仪 美能达光泽度仪维修 BYK光泽度仪维修 光泽度仪维修 日本孔雀 日本得乐 量具量仪 BYK色差仪维修 综合测试卡 色彩还原测试卡 精密色差仪 其它测试卡 畸变测试卡 灰阶测试卡 肤色卡 分辨率测试卡 动态范围测试卡 白平衡测试卡 SFR/MTF测试卡 图像分析软件

CMI900CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪

X射线荧光测厚仪CMI900

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900介绍

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900主要特点

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST认证的标准片 全球服务及支持

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900技术参数

主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950 －样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 －最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm －Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm －XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 －样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 －测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 －基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 贵金属检测，如Au karat评价 材料和合金元素分析， 材料鉴别和分类检测 液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 多达4个样品的光谱同时显示和比较 元素光谱定性分析 －调整和校正功能 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 －测量自动化功能 鼠标激活测量模式：“PointShoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 －样品台程控功能 设定测量点 连续多点测量 测量位置预览(图表显示) －统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能 任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 －系统安全监测功能 Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

 

CMI900CMI900涂镀层测厚仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪 Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

COMPACT ECOX射线镀层测厚仪

  COMPACT ECO测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能。不单性能、而且价钱超值。分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需几秒钟，便能非破坏性地得到的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。

DT-156 涂镀层测厚仪安徽芜湖合肥低价销售DT-156 涂镀层测厚仪

 

安徽芜湖合肥低价销售DT-156 涂镀层测厚仪

本涂镀层测厚仪探头可以工作在电磁感应和涡流两种原理下。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。
1.可测量涂镀层： 任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度；任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度  2.易于操作的菜单设计l  3.连续和单次测量方式l l 4.直接工作模式和组工作模式  5.可统计并显示：平均值、最大值、最小值、标准方差、统计数l  6.非常方便的进行一点或两点校准l l 7.可保存320个测量数据供随时下载至计算机处理  8.实时删除测量数据和组数据l  9.高低限报警l  10.低电和错误提示l l 11.USB传输数据至计算机分析统计  12.可设置的自动关机功能l
传感器探头
铁磁性
 非铁磁性
工作原理
磁感应
    涡流
测量范围
0~1250um  
 0~1250um
　
0~49.21mil
0~49.21mils
误差
 0~850 um （+/- 3%+1um）
0~850 um（+/- 3%+1.5um）
（相对当前读数）
850um~1250um （+/- 5%） 
850um~1250 um （+/- 5%）
　
 0~33.46 mils （+/- 3%+0.039mils）
0~33.46mils （+/- 3%+0.059mils）
　
33.46um~49.21mils （+/- 5%） 
33.46um~49.21mils （+/- 5%）
精度
    0~50um （0.1um） 
0~50um （0.1um）
　
50um~850um（1um）   
 50um~850um（1um）
　
850um~1250um（0.01mm）
850um~1250um（0.01mm）
　
 0~1.968mils （0.001mils）
 0~1.968mils （0.001mils）
　
1.968mils~33.46mils（0.01mils）
1.968mils~33.46mils（0.01mils）
　
33.46mils~49.21mils（0.1mils）
33.46mils~49.21mils（0.1mils）
 
测温仪*1  使用说明书 *1  保修卡 *1 电池 *2  硬盒*1 彩盒*1  USB连接线缆*1   软件CD*1  1.4 探头*1

 
厂家低价供应芜湖涂镀层测厚仪，合肥涂镀层测厚仪，南京涂镀层测厚仪
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镀层测厚仪

探头  ECO-M锌镍均可测量 
度  ±1%
测量范围  0.08-1.50mils（2-38um） 
分辨率  0.01mils（0.1um） 
执行标准  ASTM B244-B259;DIN 50984;ISO 2360;ISO29168（DRAFT）;BS 5411 
单位  公、英制自动转换 
统计数据显示  读取次数、平均值、标准差、值、值、最终值 
记忆储存  12400个数据 
接口  RS-232 
显示  液晶显示，字符高12.7mm 
电池  9V电池 
外型尺寸  14.9X7.94X3.02cm 
重量  260g（含电池） 
品牌  英国牛津仪器 
产地  美国 
该公司产品分类： 化学/化工 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 在线折射仪 水质毒性分析仪/水质生物毒性分析仪 对色灯箱、标准光源箱 光度仪、雾度仪、光泽度仪 电磁/电涡流测厚仪 电导率仪、电导仪、盐度计 PH计、酸度计 色牢度仪、色牢度试验机 其它纺织类仪器 纱线类测试仪器 织物类测试仪器 摩擦系数测试仪、剥离系数试验仪 耐折度试验机 耐破度试验机 纸板环压强度试验机 其他 电解式测厚仪 压力测厚仪

MC-2000AMC-2000A涂层测厚仪,涂镀层测厚仪,山东涂层测厚仪

 

MC-2000A涂层测厚仪,涂镀层测厚仪,山东涂层测厚仪
高精度涂层测厚仪,北京涂层测厚仪,质优价廉涂层测厚仪
涂层测厚仪MC-2000A应用范围：
本仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
涂层测厚仪MC-2000A工作原理：
MC-2000A型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。
涂层测厚仪MC-2000A技术参数：
    1、测量范围 ：　　0~1200um
    2、测量误差：　　<3%±1um
    3、最小示值：　　1um
    4、显示方式 ：    4位液晶数字显示
    5、主要功能：
       （1）.测量：   　 单探头全量程测厚
       （2）.存储、删除： 可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。
       （3）.读：　 读出已存入的测量数据
       （4）.统计： 设有三个统计量，平均值最大值最小值
       （5）.校准： 可进行零点校准、两点校准及系统校准
       （6）.电量： 具有欠压显示功能
       （7）.蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示
       （8）.打印：可打印测量值，选配微型打印机
       （9）.关机：具有自动关机和手动关机两种方法
    6、电源： 　　　 两节1.5v电池
    7、功耗：  　　　最大功耗100mw
    8、外形尽寸：    　50mm*124mm*24mm
    9、重量：　　　　　150g（含电池）
10、使用环境温度：　0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%
11、基体最小厚度：     0.2mm
   12、基体最小平面：     7mm  
13、最小曲率半径：     凸:1.5mm      凹:6mm
14、欠电压指示：       右上角显示＂＂
*临界厚度小：工件铁基厚度大于1mm时,其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度
济宁陆屹销售专员：李慧霞    

 

该公司产品分类： 矿车

CMI960X荧光镀层测厚仪

CMI900 X荧光镀层测厚仪特点:● 精度高、稳定性好 ● 强大的数据统计、处理功能 ● 测量范围宽 ● X荧光镀层测厚仪NIST认证的标准片 ● 全球服务及支持

CMI900 X荧光镀层测厚仪技术参数： X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准? 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统X荧光镀层测厚仪最多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)样品室结构： 开槽式样品室 最大样品台尺寸： 610mm x 610mm XY轴程控移动范围： 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 Z轴程控移动高度:? 43.18mm XYZ三轴控制方式: X荧光镀层测厚仪多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 样品观察系统:高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置: IBM计算机,惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件:? 操作系统：Windows2000中文平台, 分析软件包：SmartLink FP软件包 测厚范围:?可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 CMI900 X荧光镀层测厚仪基本分析功能:采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 贵金属检测，如Au karat评价 材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析调整和校正功能: 系统自动整和校正功能，自动消除系统漂移 测量自动化功能鼠标激活测量模式：“PointShoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 样品台程控功能: 设定测量点, 连续多点测量, 测量位置预览(图表显示)X荧光镀层测厚仪统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能 任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 系统安全监测功能Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

LE-370/LH-370/LZ-37涂镀层测厚仪（膜厚計）

 

技术参数

测量方式
电磁式
涡流式
探头型号
LEP-J（Fe）
LHP-J（NFe）
测量对象
磁性金属（铁、钢）上非磁性涂镀层
非磁性金属（非铁）上的绝缘层
测量范围
0～2500um（99mils）
0～1200um（47mils）
测量精度
<50um:±1um;  50～1000um:±2%; >1000um:±3%
分辨率
<100um:0.1um;   >1000um:±1um
存储数据
约3000个
预存通道
电磁式和涡流式各50个，共计100个
显示方式
LCD数显
数据输出
连接电脑或打印机
电源
5#电池×4个
消费电量
80mW（不使用背光状态下）
电池寿命
100小时（不使用背光状态下连续使用的情况下）
室温要求
0～40℃
外形尺寸
主机：75（W）×145（D）×31（H）,  340g
标准配置
铁基体，非铁基体，标准片，V型块，主机皮套，电池×4个，使用说明书
可选附件
标准片，专用台架，软件，数据线，探头

EX-3000台式涂镀层测厚仪

Windows下中文操作界面●　可选择自动测量台●　解析度0.001μm●　最小测量面积0.1mm2●　可测量合金层的厚度以及成分比例●　对于多层镀层可测量每一层精确厚度●　可通过X线进行元素光谱分析●　适用对象：IC导线架、封装业PCB业、精密零件业●　电镀业、电子各机型规格其它：各机型规格、机型 手动测量台、自动测量台、测量主体、移动量、测定物量大高度、尺寸、重量、样品最大荷重、电脑、印表机、本体、显示幕。各机型规格

机型

手动测量台

自动测量台

测量台尺寸（mm）

170x110

240x220

测量主体

移动量

X（mm）

70

200

Y（mm）

70

200

Z(mm)

50(最大150)

50

测定物最大高度（mm）

50（option150）

50

尺寸（mm）

602(W)x463(D)x732(H)

重量（kg）

55

61

样品最大荷重（kg）

3

1

电脑

尺寸（mm）

本体182（W）x372(H)/显示幕412（W）x415(D)x432(H)

重量（kg）

本体9/显示幕

印表机

重量（kg）

5.2

AC100V±10V(otion AC115V.AC220V)

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