Zetatrac新型Zetatrac 纳米/Zeta电位分析仪

30多年来，Microtrac 公司一直于激光散射技术在颗粒粒度分布中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，纳米颗粒分析仪器，NPA引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生的能谱概念，利用背散射Back-scattered和异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术，结合动态光散射理论和的数学处理模型，取代传统的光子相关光谱PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，将分析范围为延伸至0.003-6.5µm。随着技术的发展，Microtrac 公司不断完善其麾下的专业颗粒分析仪器，快速分析高浓度的纳米颗粒，生化材料及胶体体系成为现实，成为众多行业纳米分析的参考仪器。  应用领域：  有机聚和物和高分子研究，纳米金属和其他纳米无机物，结晶分析，表面活性剂胶束大小，蛋白质，甾体，DNA，RNA，极稀浓度或不宜稀释高浓度的样品分析。

主要特点

﹡ 专利的异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术，比较传统的多谱勒频 移分析方法，获得颗粒散射信号的强度高出几个数量级，提高分析结果的性 ﹡ 专利的可控参比方法CRM, Controlled Reference Method，能精细分析多谱勒频移产生的能 谱，确保分析的灵敏度 ﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，避免了多重散射现象，高浓度溶液中纳米颗粒测 试的性 ﹡ 的“Y型”光纤光路系统，精确聚焦蓝宝石测量窗口，消除杂散光对检测器的负面影响 ﹡ 专利的快速傅利叶变换算法FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method，迅速处理检 测系统获得的光谱，缩短分析时间 ﹡ 引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素，内置常用分析物质光学数据库，提 高颗粒粒度分布测试的性 ﹡ 符合甚至部分超过ISO 13321 激光粒度分析国际标准－纳米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准

技术参数

粒度范围：0.8纳米－ 6.5微米 Zeta 电位测量：+/- 5mv 电泳迁移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重复性：误差小于1%（标准颗粒） 测量原理：动态光背散射技术及米氏理论 专利技术：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纤光路设计，“非球形”颗粒校正选项，微电场设计技术 检测角度：180º 浓度范围：0.1ppm – 40wt% 分析时间：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半导体光纤 样品体积：0.2ml 操作软件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 国际标准：ISO 13321 环境温度：10ºC to 35ºC 相对湿度：小于90%

 

NANOPLUS纳米粒度与Zeta电位分析仪

NanoPlus是一款新型的、具有极宽测试范围的多用途分析仪，它采用光子相关光谱法、电泳光散射以及最新的FST技术来分析纳米粒度和zeta电位，并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位，符合ISO标准。该仪器采用了高灵敏度测量技术，可同时满足低浓度和高浓度样品纳米粒度与zeta电位分析的要求，浓度范围由0.001%到40%，可检测粒径从0.6nm到10μm，浓度从0.00001%到40%的样品的粒径。

该款仪器具有以下技术特点：

  • 可测定颗粒在高浓度溶液中的zeta电位
  • 可测定固体zeta电位
  • 宽粒径范围（0.6nm~10μm），宽浓度范围（粒径测试：0.00001%~40%，zeta电位测试：0.001%~40%）
  • 可精确测量稀释或浓缩的悬浮液
  • 用户友好的软件
  • 多种样品池选择
  • 可选择一次性样品池
  • 结合线性相关器和对数相关器相结合的技术对各种样品进行表征
  • 可选择自动滴定装置控制悬浮液PH值

 

产品应用：

 

半导体

研究半导体晶体表面残留杂质与磨蚀剂、添加剂和晶片表面之间的相互影响的净化机制。

 

医药和食品行业

乳剂的分散和凝聚的模拟控制研究（如食品、香水、药品和化妆品），蛋白质功能研究，核糖体分散和凝聚控制研究，表面活性剂功能研究（微囊）。

 

陶瓷和颜料工业

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化铝、二氧化钛等）和无机溶胶的研究，颜料的分散和凝聚的控制研究，浮矿收集器的吸附研究。

 

聚合物和化工领域

乳剂（涂料和粘合剂）的分散和凝聚控制研究，乳胶表面重整控制（药品和工业用途）。电解聚合物（聚苯乙烯磺酸钠、多羧酸等）功能研究，控制造纸和生产纸浆过程研究，纸浆添加剂研究。

该公司产品分类： 反应釜、反应器 密度仪、密度计 压汞仪 物理/化学吸附仪 比表面仪、比表面积、比表面及孔结构分析仪 孔径/隙度分析仪 蒸气吸附仪 粒度仪、激光粒度仪、粒度分析仪 沉降粒度仪/颗粒沉降仪 颗粒计数器 Zeta电位仪/微电泳仪 固体(粉末)表面分析仪

激光粒度仪及Zeta电位分析仪

   90Plus专门用于纳米及亚微米颗粒的粒径测量，操作方便、快捷，并可升级带Zeta电位测量功能。ZetaPlus的升级产品为ZetaPALS。对于高浓度悬浮体系粒度的测量，BI-FOQELS为选择。此外，对于需要研究体系聚集过程，或测量分子量的用户，还可选择添加BI-200SM以完成研究目的。主要特点   1.高功率的激光器了测量结果的精度。2.开放式样品池和平板式电极的设计,是具有革新性的专利技术。3.基本避免了电渗运动和交叉污染的影响，从而提高测量的精度和速度。4.采用世界公认功能的相关器BI-9000，仪器具有的性能。5.良好的升级前景，延长了仪器的使用寿命。  技术参数     1.粒度范围：2nm-5um2.温控范围：6-75℃, ±0.1℃3.浓度范围：0.01%-0.1%体积 (0.001%-40%选项)4.pH范围：2-125.激光器功率：30mW  

超声粒度及Zeta电位分析仪DT-1202

超声粒度及Zeta电位分析仪

提供所有单台仪器测量粒度分布, zeta电位和流变性质(选件)的可能性 在一个样品池中可以同时测量粒度分布和zeta电位 可以选择附加各种探头式测量传感器, 包括温度、pH值、电导率、和流变性质测量，以及非水系统选项和软件控制的自动滴定系统 所有探头均可同时操作 统一的数据管理                                                      超声粒度及Zeta电位分析仪产品简介：利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度，采用多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。 传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到※佳分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制超声粒度及Zeta电位分析仪参数规格： 1. 粒径由超声波( Acoustic)方式 , Zeta 电位由电声波( Electro Acoustic)方式 2. 样品无需稀释直接测定,测量固体含量范围:1% ～ 50% 3. 樣品※大测量搅拌浓度:10,000cps 4. 樣品测量电位范围:+/- 300mV或以上 5. 声波范围: 500～3000m/s 6. 频率范围: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動掃描18個gap或以上 7. 粒径测量: 5nm ～ 1000um 8. 可测量混合物之粒径及Zeta电位 , 并可分析混合物之个別粒径 9. 测量Zeta电位只需10ml或以下 10. 操作软件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒径分布图及累计图 - 粒径分布数据表含D10 , D50 , D90 - 数据库可在 Windows Access中由使用者自由选取 - 使用者可自由选取声波速度及衰减图 - 任何两个参数的散射图 - 用户定义自动选择多数据系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可选自动酸碱与濃度滴定裝置 12.可选自动測量粒径及Zeta电位对pH变化 13.可以及时分析/显示Zeta电位与等电点 14.可及时测量/显示样品pH值,電导率,溫度 15.可选数据资料处理与显示系统: Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office软件 ( or Lap computer

超声粒度及Zeta电位分析仪DT-1202产品特点：1.能分析多种分散物的混合体 2.无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点 3.可适用于高导电（highly conducting）体系 4.可排除杂质及对样品污染的干扰 5.可精确测量无水体系 6.Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量 7.样品的※高浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量 8.具有自动电位滴定功能产品相册： 

 

该公司产品分类： 超声粒度和Zeta电位分析仪 粒子界面特性评价装置 介电常数测定仪 非水电导率测定仪 超声流变仪 Zeta电位分析仪 超声粒度分析仪 光学流变系统 混凝土流变仪 混凝土收缩测试仪 水泥/砂浆流变仪 砂浆干燥收缩测试仪 自动混凝土搅拌机 蛋白质聚集体分析仪 表面特性分析仪 超声粒度和Zeta电位分析仪 图像法Zeta电位 纳米粒度及Zeta电位分析仪 微区扫描电化学显微镜 真密度分析仪

DT-300电声法zeta电位分析仪

12.00

Normal07.8 磅02falsefalsefalseEN-USZH-CNX-NONE

DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的dispersion technology Co.研发生产的系列仪器，可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数，如zeta电位、电导率等等。

1、 用于水相、有机相（极性或非极性溶剂）悬浮液和乳液表征

2、 采用多频电声测量技术由超声探头（Zeta Probe）直接测量

3、 Zeta电位测量范围：无限制；低表面电荷可低至0.1mV

4、 原浓溶液测试，最小样品量低至 2ml

5、  同时测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Length， 德拜长度）

6、 通过Access数据库进行数据管理

7、可选自动滴定系统（DT-310）

该公司产品分类： 比表面积和孔径分析仪 真密度计 真密度分析仪 真密度测试仪 全自动真密度计 开孔、闭孔率分析仪 开孔、闭孔率测定仪 真密度分析仪 压实密度测试仪 压实密度分析仪 压实密度仪 振实密度仪 振实密度测试仪 堆密度测试仪 振实密度计 薄膜孔隙率分析仪 薄膜孔径测试仪 图像法zeta电位仪 比表面仪 比表面积测定仪

激光粒度仪及Zeta电位分析仪

   90Plus专门用于纳米及亚微米颗粒的粒径测量，操作方便、快捷，并可升级带Zeta电位测量功能。ZetaPlus的升级产品为ZetaPALS。对于高浓度悬浮体系粒度的测量，BI-FOQELS为选择。此外，对于需要研究体系聚集过程，或测量分子量的用户，还可选择添加BI-200SM以完成研究目的。主要特点   1.高功率的激光器了测量结果的精度。2.开放式样品池和平板式电极的设计,是具有革新性的专利技术。3.基本避免了电渗运动和交叉污染的影响，从而提高测量的精度和速度。4.采用世界公认功能的相关器BI-9000，仪器具有的性能。5.良好的升级前景，延长了仪器的使用寿命。  技术参数     1.粒度范围：2nm-5um2.温控范围：6-75℃, ±0.1℃3.浓度范围：0.01%-0.1%体积 (0.001%-40%选项)4.pH范围：2-125.激光器功率：30mW  

Zetatrac新型Zetatrac 纳米/Zeta电位分析仪

30多年来，Microtrac 公司一直于激光散射技术在颗粒粒度分布中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，纳米颗粒分析仪器，NPA引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生的能谱概念，利用背散射Back-scattered和异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术，结合动态光散射理论和的数学处理模型，取代传统的光子相关光谱PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，将分析范围为延伸至0.003-6.5µm。随着技术的发展，Microtrac 公司不断完善其麾下的专业颗粒分析仪器，快速分析高浓度的纳米颗粒，生化材料及胶体体系成为现实，成为众多行业纳米分析的参考仪器。  应用领域：  有机聚和物和高分子研究，纳米金属和其他纳米无机物，结晶分析，表面活性剂胶束大小，蛋白质，甾体，DNA，RNA，极稀浓度或不宜稀释高浓度的样品分析。

主要特点

﹡ 专利的异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术，比较传统的多谱勒频 移分析方法，获得颗粒散射信号的强度高出几个数量级，提高分析结果的性 ﹡ 专利的可控参比方法CRM, Controlled Reference Method，能精细分析多谱勒频移产生的能 谱，确保分析的灵敏度 ﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，避免了多重散射现象，高浓度溶液中纳米颗粒测 试的性 ﹡ 的“Y型”光纤光路系统，精确聚焦蓝宝石测量窗口，消除杂散光对检测器的负面影响 ﹡ 专利的快速傅利叶变换算法FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method，迅速处理检 测系统获得的光谱，缩短分析时间 ﹡ 引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素，内置常用分析物质光学数据库，提 高颗粒粒度分布测试的性 ﹡ 符合甚至部分超过ISO 13321 激光粒度分析国际标准－纳米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准

技术参数

粒度范围：0.8纳米－ 6.5微米 Zeta 电位测量：+/- 5mv 电泳迁移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重复性：误差小于1%（标准颗粒） 测量原理：动态光背散射技术及米氏理论 专利技术：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纤光路设计，“非球形”颗粒校正选项，微电场设计技术 检测角度：180º 浓度范围：0.1ppm – 40wt% 分析时间：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半导体光纤 样品体积：0.2ml 操作软件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 国际标准：ISO 13321 环境温度：10ºC to 35ºC 相对湿度：小于90%

 

颗粒度及Zeta电位分析仪

我们的粒度和Zeta电位分析仪器, 采用专利技术---多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。Zeta Probe 能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。

产品特性1.能分析多种分散物的混合体 2.无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点 3.可适用于高导电（highly conducting）体系 4.可排除杂质及对样品污染的干扰 5.可精确测量无水体系 6.Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量7.样品的浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量 8.具有自动电位滴定功能

产品规格1.所检测粒径范围款从５nm至 1000um hspace=02.可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、PH、温度、声衰减、声速、电声信号，动态迁移率、等电点（IEP） 3.Zeta电位测量范围：无限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度（±0.1mv） 4.Zero surface charge条件下也可测量粒径 5.允许样品浓度：0.1～50％（体积百分数） 6.样品体积：20-110ml（检测粒径），2-100ml（检测Zeta电位）7.PH 范围：0.5～13.5 8.电导率范围：0.0001～10 S/m9.温度范围：< 50℃10.最大粘度：20，000厘泊11.电位滴定和体积滴定，滴定分辨率0.1μl

DT-1200高浓度胶体颗粒度及Zeta电位分析仪

主要特点

1.能分析多种分散物的混合体 2.无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点 3.可适用于高导电（highly conducting）体系 4.可排除杂质及对样品污染的干扰 5.可精确测量无水体系 6.Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量 7.样品的浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量 8.具有自动电位滴定功能

仪器介绍

高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪,测试:  粒径、Zeta电位、滴定、电导等  此仪器容易使用、测量精确。对于高达50％（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。  Dispersion Technology，Inc.         产品：       　                      应用于：  DT-1200声波和电声波测量仪        实验室中粒径和Zeta电位及滴定、pH值测量  DT-100声波测量仪                 实验室中粒径分析仪   DT-300Zeta电位探头               实验室中Zeta电位分析  DT-400自动胶体滴定               滴定、pH值、表面活性、盐度等  分析软件                         胶体科学领域的理论  典型应用领域：       Aggregative Stability, 水泥浆, 陶瓷, 化学机械研磨, 煤浆, 涂料, 化妆品, 环境保护浮选法矿物富集, 食品工业, 乳胶, 微乳, 混合分散体系, 纳米粉, 无水体系, 油漆成像材料.  测量参数：       粒子/液体的密度、液体的粘度、粒子的重量百分比、介电常数等参数。  优于光学方法的技术优势：       1、被测样品无需稀释       2、排除杂质及对样品污染的干扰       3、不需定标       4、能分析多种分散物的混合体       5、高精度       6、所检测粒径范围款从５nm至 1000um  优于electroactics方法的技术优势：       1、无需定标       2、能测更宽的粒径范围       3、无需依赖Double Layer 模式       4、不需依赖（electric surface properties）电表面特性       5、Zero surface charge条件下也可测量粒径       6、可适用于无水体系       7、可适用于高导电（highly conducting）体系  优于微电泳方法的技术优势：       1、无需稀释，固含量高达50%       2、可排除杂质及对样品污染的干扰       3、高精度（±0.1mv）       4、low surface charges (可低至0.1mv)        5、electrosmotic flow 不影响测量       6、对流（convection）不影响测量       7、可精确测量无水体系

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪

     作为最先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。

 

NanoBrook产品系列

 

项目

173

173Plus

Omni

ZetaPALS

功 能

粒度测量功能

●

●

●

○

分子量测量功能

●

●

●

○

Zeta电位测量功能

○

○

●

●

技 术 参 数

散射角

15°与173°

15°、90°与173°

○

粒度范围

0.3nm-10μm

○

分子量测定范围

342～2×107Dalton

○

相关器

4×522个物理通道，4×1011个线性通道

○

Zeta电位适用粒度范围

○

1nm～100μm

Zeta电位范围

○

－500mV～500mV

电导率范围

○

0-30S/m

电泳迁移率范围

○

10-11～10-7m2/V.s

电极

○

开放式永久型电极

系 统 参 数

温控范围与精度

－5～110℃，±0.1℃

激光源

35mW光泵半导体激光器

检测器

PMT或APD

分析软件

Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件

大小及重量

233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg

选 件

BI-ZTU自动滴定仪

可对PH值、电导率和添加剂浓度作图

BI-870介电常数仪

直接测量溶剂的介电常数值

BI-SV10粘度计

用于测量溶剂及溶液的粘度

●代表“有” ○代表“无”

 

 

典型应用

 

☆   蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束

☆   脂质体、外切酶体及其他生物胶体

☆   多糖、药物制备

☆   纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液

☆   油包水、水包油体系

☆   涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂

☆   食品、化妆品配方

☆   陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑

 

ZetaPALS测定电泳迁移率 （单位 10 -8m2 /V·s）

样品 

PALS 结果 

文献值 

备注

NIST 1980

2.51 ± 0.11

2.53 ± 0.12

标准样品电泳迁移率

Blood Cells

-1.081 ± 0.015

-1.08 ± 0.02

分散于生理盐水

Fe 2O3

0.013 ± 0.0015

N.A.

分散于十二烷

TiO2

0.255 ± 0.010

N.A.

分散于甲苯（非脱水）

TiO2

0.155 ± 0.011

N.A.

分散于甲苯（脱水）

TiO2

-0.503 ± 0.0015

N.A.

分散于乙醇

Casein

-0.025 ± 0.002

N.A.

分散于PEG（粘性）

SiO2

-0.73 ± 0.04

N.A.

分散于 2.0 M KCl（高盐浓度）

 

应用案例

 不同粒径对Zeta电位等电点的影响       不同官能团配比对等电点的影响        Zeta电位值与细胞吸收度的关系

    通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）

技术参数

 

适用粒度范围：粒度：0.3nm～10μm（与折射率，浓度，散射角有关）；Zeta电位：1nm～100μm

样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v（与颗粒大小和折射率有关）

典型精度：粒度：1％；Zeta电位：3％

样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品

样品体积：粒度：1～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）；Zeta电位：0.18～1.5 ml

分子量测定范围：342～2×107Dalton

Zeta电位范围：-500mV～500mV

电导率范围：0～30S/m

电泳迁移率范围：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s

电场强度：0 ～ 60 kV/m

电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）

温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。

pH测量范围：1-14

激光源：35mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）

检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）

相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配

自动趋势分析：对时间、温度及其他参数

散射角：15°、90°与173°

室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝

大小及重量：233mm （H） x 427 mm （W） x 481 mm （D），15 kg

电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

计算机（选件）：商用计算机，包括WindowTM软件

自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图

该公司产品分类： 光散射系统 粒度及Zeta电位测量 TurboCorr数字相关器 Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 NanoDLS高灵敏在线粒度分析仪 FOQELS高浓度粒度分析仪 BI-XDC圆盘式离心沉降粒度仪 BioDLS高通量自动化粒度分析仪 BI-DCP圆盘式离心沉降粒度仪 ACOS实时在线粒度检测系统 173Plus多角度粒度分析仪 90Plus亚微米激光粒度分析仪 BI-ZTU自动滴定仪 BI-870介电常数测定仪 Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 90Plus Zeta型Zeta电位及粒度分析仪 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪 BI-2010/2020粘度检测器 BI-DNDC示差折射仪 BI-MwA多角度激光光散射（绝对分子量测定）仪
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