CMI900CMI900(X射线镀层测厚仪)

CMI900X射线镀层测厚仪)

应用
CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的
情况下进行表面镀层厚度的测量 ,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
行业
用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……多个行业表面镀层厚
度的测量。
技术参数
主要规格                           规格描述 X射线激发系统                   垂直照式X射线光学系统                                        空冷式微聚焦型X射线管,Be                                        标准靶材:Rh靶;任选靶材:WMoAg                                        功率:50W(4-50kV0-1.0mA)-标准
                                       75W(4-50kV0-1.5mA)-可选                                        装备有安全防射线光闸                                        二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片
                                       任选 准直器程控交换系统            最多可同时装配6种规格的准直器                                        多种规格尺寸准直器任选:
                                       -圆形,如4681220 mil
                                       -矩形,如1x22x20.5x101x102x104x16
测量斑点尺寸                     12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055mm
                                       (使用0.025 x 0.05 mm准直器                                        12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm
                                       (使用0.3mm准直器 样品室
-样品室结构                      开槽式样品室 -最大样品台尺寸                610mm x 610mm XY轴程控移动范围            标准:152.4 x 177.8mm                                        还有5种规格任选 Z轴程控移动高度               43.18mm XYZ三轴控制方式              多种控制方式任选:XYZ三轴编程控制、XY轴手动控制和Z轴编程控制、
                                         XYZ三轴手动控制 -样品观察系统                     高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。
                                         50倍和100倍观察系统任选。)
                                         激光自动对焦功能
                                         可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 电脑系统配置                      P4双核处理器/512M内存/160G硬盘/DVD-ROM/鼠标键盘/15寸液晶显示器
                                         
分析应用软件                       操作系统:WindowsXP(OEM)中文平台
分析软件包:                       SmartLink FP软件包 -测厚范围                          可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 -基本分析功能                    采用基本参数法校正。我们将根据您的应用提供必要的校正用标准
                                        样品。 样品种类:                          镀层、涂层、薄膜、液体镀液中的元素含量                                          可检测元素范围:Ti22 – U92                                          可同时测定5/15种元素/共存元素校正                                          贵金属检测,如Au karat评价                                          材料和合金元素分析,                                          材料鉴别和分类检测                                          液体样品分析,如镀液中的金属元素含量                                          多达4个样品的光谱同时显示和比较                                          元素光谱定性分析 -调整和校正功能                 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 -测量自动化功能                 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”                                          多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复
                                         测量模式                                          测量位置预览功能                                          激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能                 设定测量点                                         连续多点测量                                          测量位置预览-统计计算功能                    平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、
                                         数据编号、CPCPK、控制上限图、控制下限图                                         数据分组、X-bar/R图表、直方图                                         数据库存储功能                                         任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书-系统安全监测功能               Z轴保护传感器                                         样品室门开闭传感器●精度高、稳定性好●强大的数据统计、处理功能●测量范围宽NIST认证的标准片●全球服务及支持

X射X射线镀层测厚仪

    X射线镀层测厚仪/电镀测厚仪的详细资料:
  XRF2000电镀测厚仪
  检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
  可测单层,双层,多层,合金镀层,
  测量范围:0.04-35um
  测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
  全自动台面,操作非常方便简单
  XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值
  同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
  甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
  可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。
  可测元素范围:钛(Ti)–铀(U)原子序22–92
  准直器:固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm
  自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm
  电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
  综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能
  更多产品详情:http://www.shjcx.com/fanhouxian-Products-6443517/
 
该公司产品分类: 仪器仪表

maXXi 4X射线镀层测厚仪

名称: X-RAY荧光测厚仪 型号: ECO (普通型)和ComPact5(经济型) 厂家: 德国Roentgenanalytik公司 特点: 无损单、双、三层镀层的厚度测量 容易对焦镀层厚度和成分同时分析 /合金定量分析 十字叉丝带点状试样指示器 镀液定量分析 用能X射线转换器使测量时间缩短 现代化技术领先的软件 安全性高,使用寿命长 用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算 多层镀层系统的厚度和成分分析 软件 μ-MasteR 厚度测量值的评估软件 Fun-MasteR 非标基本元素校准软件 Element-MasteR 快速、简便的定性分析软件 %-MasteR 可达8种元素的量化软件 LiQuiD-MasteR 电镀液分析软件 Data-MasteR 数据处理软件 Report-MasteR 客户化的报告软件 技术数据 电源: 110伏或230伏 60赫兹或50赫兹 样件台: 100mm(长)×85mm(高)×60mm(深) 仪器尺寸: 450mm(长)×400mm(高)×650mm(深) 式样室: 60mm(长)×350mm(高)×380mm(深) X-射线管: 带钨阳极的高功率管(空冷) X-射线源: 40千伏,电流1毫安 辐射安全: 配合测试标准AnlageII,Abs.3 经PTB试验

13923457025  许先生

供应德国宏德牌Rontgenfluoreszenz X射线镀层测厚仪及元素分析仪

我司专业从事各类膜厚测试仪的销售,拥有十数年行业经验,为广大客户提供高质低价的检测设备。

主要经营产品:

* 德国宏德牌Rontgenfluoreszenz X射线镀层测厚仪及元素分析仪(总代理)无论是很大的汽车部件、卫浴器具,还是很小的半导体支架,接插端子,金银首饰,五金工件,我们都一一有理想的仪器去进行测量,适合塑胶电镀,五金电镀,首饰电镀,化学电镀等各类电镀层,真正做到无需标准片亦能完成测量,绝对是节省成本的好帮手。(特价18万/台,期3个月,产品进口)

* 金相显微镜及测量软件套装(自己开发)绝对超值,适合各类电镀层,膜层及材料分析,可拍照,存档,发Email,添加附注,打印图片等等。

* 金相切片系列制作设备及各类耗材经济实用,配套完善

*世界名厂二手X射线镀层测厚仪,适合五金电镀首饰电镀,化学电镀等(现货供应)

本司所售产品,均由本司实行终身维护保养,热诚欢迎各方有识人士合作代理。更多详情敬请光临公司网站:http://www.leader-hk.com.hk

手提式X射线镀层测厚仪美国MATRIX手提式X射线镀层测厚仪

美国MATRIX手提式X射线镀层测厚仪

美国MATRIX手提式 X射线镀层测厚仪 全球款手提式 X-射线镀层测厚仪 这一款手提式测厚仪,在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。 具备“批量测试”模式,即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度 可广泛应用于建筑材料,电子,镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。

配置说明: 微型银或钨X-射线管,5个准直器。

检测器:半导体高分辩率的检测器。

电源供应:包含两块可充电锂电池和充电器。

操作温度:-10 ~50摄氏度

FP软件测试包:测镀层薄膜厚度及金属元素分析

 

我们的经营理念是:

1.我们以公平的价格提供质量的仪器。

2.对顾客提供的服务和极好的最适合的设备。

3.顾客提出的建议和新想法,将被我们采纳并作为我们未来的事务。

4.我们的目标和战略是与企业建立并且连续性的合作伙伴。

十多年来,我们一直服务于PCB 厂商、电镀行业、科研机构及半导体生产等电子行业。我们提供的高质量产品和质服务都得到顾客的奖励,在未来,我们将继续履行顾客的期望、要求和需要,愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!

SFT-110日本日立X射线镀层测厚仪,XRF光谱仪,日本精工X射线荧光膜厚仪的价格

 

一、X射线镀层测厚仪的概述。

1.即放即测!2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量!4.通过样品整体图像更方便选择测量位置!

二、X射线镀层测厚仪的图片。

三、日本日立仪器制X射线镀层测厚仪的介绍。[SFT110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。

四、X射线镀层测厚仪的参数。

该公司产品分类: 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

XRF-2000韩国MicroPioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪

 韩国MicroPioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

XRF-2000 系列分为以下三种:  1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。  2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。  3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。   应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )。   行业 :  五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。   特色 :   非破坏,非接触式检测分析,快速精準。   可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。   相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。   全系列独特设计样品与光径自动对準系统。   标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。    移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。    独特2D与3D或任意位置表面量测分析。   雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。 

光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。  

单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。   优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。    仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。   测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 

韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,

其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用; 

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;

电镀溶液分析;

定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;

贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);

自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;

性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)

可测量样器大小:W550mm D550mm H30mm

该公司产品分类: 其他仪器 水质检测 控制器及配件 金相耗材 测厚仪

320金属镀层膜厚测试仪 镀层测厚仪 X射线镀层测厚仪

 

 

产品介绍:
    Ux-320新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。
    采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
    Ux-320微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
    X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
    Ux-320镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
    样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
    设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
    软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
 

 

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该公司产品分类: 电镀测厚仪 金属成份分析仪 镀层测厚仪 合金分析仪 ROHS检测仪、卤素检测仪 影像设备 环境实验检测设备 X谢线仪

X射线镀层测厚仪

X射线镀层测厚仪 性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
最小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
X射线镀层测厚仪技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层 
一次可同时分析多达五层镀层
最薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
公司介绍          江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司四家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司两家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
     天瑞仪器的发展得到了中国各级政府的大力支持与帮助,现任中共中央政治局常委、十二届全国人大常委会委员长张德江,现任中共中央政治局常委、政协第十二届全国委员会主席俞正声,时任中共中央政治局委员、国务院副总理回良玉等各级领导多次来访视察工作!
应用领域
  天瑞仪器产品包括ROHS测试仪,ROHS卤素检测仪,X荧光镀层测厚仪,X荧光光谱仪,不锈钢合金分析仪,ROHS六项检测仪,X射线荧光测厚仪,镀金镀银测厚仪,ROHS检测仪,直读光谱仪,手持式光谱仪,ROHS检测设备,手持式合金分析仪,气相质谱仪,液相质谱仪,原子荧光光谱仪,电感耦合等离子发射光谱仪,手持式光谱仪,等离子体质谱仪, 镀层膜厚测试仪,X荧光测厚仪,ROHS仪器,气质联用仪,液质联用仪,ROHS卤素检测仪,便携式水质重金属检测仪,x荧光光谱分析仪,手持式xrf合金分析仪,手持式光谱分析仪,x射线荧光测厚仪,气相色谱质谱联用仪,液相质谱联用仪,便携式合金分析仪,ROHS测试仪,环保ROHS检测仪
 
该公司产品分类: 物流 合金牌号分析仪 粮食重金属检测仪 食品安全 锡合金成分分析仪 铜合金成分分析仪 不锈钢牌号分析仪 合金成分分析仪 烟气重金属在线监测仪 大气重金属在线监测仪 烟气挥发性有机物VOC在线监测仪 大气挥发性有机物VOC在线监测仪 大气在线监测 气质联用仪GC-MS系列 电感耦合等离子体发射光谱质谱联用仪ICP-MS 水泥建材行业检测仪 电感耦合等离子体发射光谱仪ICP 原子荧光AFS系列 原子吸收AAS 气相色谱仪GC-5400

X射线镀层测厚仪 价格

X射线镀层测厚仪 价格 使用X荧光射线可以非接触非破坏快速分析膜厚
* 兼容Microsoft Windows操作系统之软件
* 可测单层, 多层 1-6层, 合金厚度及比例
* 药水分析功能.
* 拥有多种 Filter 选择性
* 定点自动定位分析
* 光径对准全自动化
* 自动显示量测参数
* 2D/3D, 任意位置量测控制
* 雷射对焦与自动定位系统
* 温控稳定延长校准时效
* 20X 倍放大摄影系统.
* X-ray运作待命睡眠控制                                       
* 全进口美日系零件价格优势以及快速服务时效
* 彩色区别量测数据,多重统计显示窗口与报告编辑应用

最新产品

热门仪器: 液相色谱仪 气相色谱仪 原子荧光光谱仪 可见分光光度计 液质联用仪 压力试验机 酸度计(PH计) 离心机 高速离心机 冷冻离心机 生物显微镜 金相显微镜 标准物质 生物试剂