一、产品概述:
OU1500型钢板测厚仪是我公司最新推出的小型数字化双显测厚仪,利用嵌入式高速单片机技术及优质进口工业级电子元器件组装调试而成。采用液晶显示测量厚度值,并且同时显示声速,自动校准,实现了已知声速测厚度及已知厚度测声速两大功能。 操作简便,稳定可靠,是无损检测工作者的理想检测工具。 二、产品用途:OU1500型钢板测厚仪是基本型,该仪器利用超声波原理可以对任何超声波良导体材料厚度进行测量,如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。二、主要技术参数
| 型号 | OU1500 |
| 测量范围 | 1.0~220mm( 45#钢) |
| 显示分辨率 | 0.1mm |
| 声速范围 | 500-9999m/s |
| 工件表面温度 | -10~+50℃ |
| 显示 | 八位液晶显示 |
| 背光 | 自动感应 |
| 示值误差 | ±(0.5%H+0.1)mm, H 为实际厚度值 |
| 管材测量下限 | Φ20mm×3.0mm(5PΦ10 探头,钢材) |
| 操作时间 | 可连续操作250 小时 |
| 工作电源 | 2节5号电池 |
| 外形尺寸 | 130×65×22mm |
| 整机重量 | 160g(不包括电池) |
| 标准配置 | 手提箱-1只、主机-1台、 5PΦ10探头-1支、电池-2节 耦合剂-1瓶、随机文件-1套 |
资料来源:沧州欧谱 钢板测厚仪 http://www.gangbancehouyi.com
陶瓷砖厚度测量仪用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
二、技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
| 规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。
2) 可获得厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品
7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)超大型Stage (PDP专用)
SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m(Depends on Film Type) |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数准确、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
| 规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数准确、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
| 规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |

| MTY-8型陶瓷砖厚度测量仪-美特斯仪器 MTY-8型陶瓷砖厚度测量仪(简称测厚仪)是用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产与质检单位的良好仪器。 主要技术参数 1.测厚仪的精度:±0.1mm 2.测厚仪的测量范围:
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品名: 瓶壁厚度测量仪
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
| 规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
MTSY-8型陶瓷砖厚度测量仪
用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数、操作简便、携带方便等优点,是有关生产与质检单位的良好仪器。
技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:
| 规 格 | 最大测量范围(长×宽) | 最大测量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |

1 、YC-160T超声波测厚仪概述
YC-160T超声波测厚仪是智能型超声波测厚仪,该测厚仪采用的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,该测厚仪也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本测厚仪可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
2、YC-160T超声波测厚仪 技术参数
3 、YC-160T超声波测厚仪主要功能
4、YC-160T超声波测厚仪 工作原理
本超声波测厚仪对厚度的测量,是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体,一部分超声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,精确地计算超声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。
式中: H-测量厚度; v-材料声速; t-超声波在试件中往返一次的传播时间。
5 、YC-160T超声波测厚仪仪器配置
表1 仪器配置
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| 序号 | 名称 | 数量 | 备注 |
| 标准配置 | 1 | 主机 | 1台 |
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| 2 | 标准探头(5MHz) | 1只 |
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| 3 | 耦合剂 | 1瓶 |
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| 4 | ABS仪器箱 | 1只 |
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| 5 | 随机资料 | 1份 |
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| 6 | 电池仓工具 | 1把 |
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| 可选配置 | 8 | 粗晶探头(2MHz) |
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| 9 | 微径探头(7.5MHz) |
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| 10 | 高温探头(5MHz) |
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表2 超声波测厚仪探头选择
| 名称 | 型号 | 频 率 (MHZ) | 探 头 直 径 | 测量范围 | 最小管径 | 特性描述 |
| 粗晶探头 | N02 | 2 | 22mm | 3.0mm~300.0mm(钢) 40mm以下(灰铸铁HT200) | 20 | 用于铸铁等粗晶材质的测量 |
| 标准探头 | N05 | 5 | 10mm | 1.2mm~230.0mm(钢) | Φ20mm×3.0mm | 通用 |
| 标准探头 | N05/90° | 5 | 10mm | 1.2mm~230.0mm(钢) | Φ20mm×3.0mm | 通用 |
| 微径探头 | N07 | 7 | 6mm | 0.75mm~80.0mm(钢) | Φ15mm×2.0mm | 用于薄壁及小弧面的测量 |
| 高温探头 | HT5 | 5 | 14mm | 3~200mm (钢) | 30 | 用于温度小于300℃的材料的测量 |
型号:SFT-110
测量元素:原子序号22(Ti)~83(Bi) X射线源:空冷式小型X射线管 检测器:比例计数管 准直器:○型: 0.1mmφ、0.2mmφ 2种 样品观察:CCD摄像头(可进行广域观察) 对焦:激光点(自动) 滤波器:一次滤波器: 自动切换 样品台(台式尺寸): 500(W) x400(D) x 150(H)mm (移动量):X:250mm, Y:200mm 操作部:电脑、19寸液晶 测量软件:薄膜FP法 (最多5层膜、10种元素)、标准曲线法 数据处理:配备有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全机构:样品门连锁、样品的防冲撞功能、仪器诊断功能
配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。 对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。 为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。 近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。
特点 即放即测! 通过自动定位功能,放置样品后仅需几秒,便能自动对准观察样品焦点。 10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 以的设计实现微小区域下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。 无标样测量! 将薄膜FP软件进一步扩充,即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。 通过广域观察系统更方便选择测量位置! 通过广域观察系统,能够从画面上的样品整体图(最大250×200mm)中方便地指定测量位置