Rise-3002型颗粒图像分析仪工作原理:
Rise-3002型颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌,也可得到粒度分布等分析结果。
1、最大光学放大倍数:1600倍
2、最大分辨率:0.1微米/像素
3、数据输出:周长分布、面积分布、长径分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、Feret径分布、长短径比、中间(D50)、粒径(D10)、限定粒径(D60、D30、D97)、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不均匀系数、曲率系数。
配置参数
三目生物显微镜:平场目镜:10×、16×
消色差物镜:4×、10×、40×、100× (油)
总放大倍数:40×-1600×
摄像机:300万像素数字CCD(标准C接口镜头)
应用范围
适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。
软件功能及报告输出格式
1、可以对图像进行多项处理:如:影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大、对比度、亮度调节等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图
——开拓颗粒图像分析技术的新纪元!
产品简介:
WINNER100动态颗粒图像仪是济南微纳推出的一款划时代的颗粒测试设备。执行国际标准ISO/DIS-13322-2,众所周知,静态颗粒图像仪虽然有观测直观、数据丰富等优势,但也有其固有的问题,就是取样数量少,测试代表性不强,而本款仪器就配备了世界上最先进的高速摄像系统,动态进样动态采集,通过自主开发的软件系统,既能获得包括“长径比”“球形度”在内的形貌参数,又可以获得具有代表性的粒径分布数据。是一款定义未来趋势的产品,也是济南微纳在中国颗粒测试行业技术优势的体现。
适用范围:
Winner100动态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业,尤其对于在液体中会发生化学反应、形状变化及损失的如中草药、磁性材料等。
产品特点:
Winner100 采用超声分散技术,从根本上消除了颗粒粘连的可能性,提高了测试的准确性;
Winner100 采用高速摄像机实现颗粒运动中采样,从根本上消除了静态采样时,颗粒方位造成的分析误差,实现了理想的三维测试。
Winner100 是颗粒在循环中测试,采样数量不限,统计结果具有完全的代表性。
Winner100 不仅可以进行粒度分析,同时进行形态分析,可以输出粒度分布曲线,球形度分析、长宽比分析等十几种分析结果;
Winner100 粒度测试的准确度重复性可以与激光粒度分析相比,测试范围却远远大于激光粒度仪。
Winner100 采用了功能强大的软件不仅可以高速采集图像、即时显示颗粒形貌、自动分析颗粒粒度与形态,实现离焦补偿,而且可以记录全过程数据供分析研究,因此可以用于在线颗粒测量。
Winner100 动态颗粒图像分析仪技术参数:
规格型号 | Winner100 |
执行标准 | ISO-13322-1:2004;GB/T21649.1-2008 |
测试范围 | 2-6000μm(根据不同类型,测试范围有所不同) |
分散方式 | 超声分散、机械搅拌、内置循环 |
成像元件 | 高速高分辨率CCD摄像机 |
最大分辨率 | 1392*1040 |
快门速度 | 10-6 S |
整体分布特征参数 | D10、D50(中位径)、D90等颗粒分布特征参数 |
统计方式 | 按数量、体积、面积等方式分析颗粒的频率、累计分布 |
统计平均径 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用统计平均径 |
形状参数 | 长径比、庞大率、球形度、表面率等 |
体积 | 760mm×440mm×460 mm |
重量 | 25Kg |
JX-2000颗粒图像分析仪
JX-2000型颗粒图像分析仪,该系统由光学显微镜、USB摄像机、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。能直观颗粒形貌,并进行颗粒数据处理,适用于控制分析产品质量。
一、应用范围适用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金刚石、碳粉、药粉、涂料、水泥、硬质合金、催化剂、云母粉、填料等各种粉末物料颗粒的形貌观察和粒度分析。 二、 性能特点1、 工业摄像头高速采集,光学显微镜放大成像,图像快速显示于电脑,直接观察颗粒形貌,用软件进行颗粒数据处理。2、 测量范围:0.5μm~3000μm3、 全平场消色差物镜,大分辨率0.07微米,大光学放大倍数1600倍,打印大倍数4000倍(A4幅面)4、 提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据,配有(30)多种图像分析和处理功能,可以满足各种图像处理需要。5、 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等,提高分析分辨率,网格标注颗粒尺寸等功能,使测试结果更真实。6、 仪器分二种型号,技术原理、参数都相同,JX-2000A型颗粒图像分析仪配置透射显微镜,JX-2000B型颗粒图像分析仪配置透反射显微镜,后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。7、 颗粒形貌图像可存盘和打印,还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求,设计磨料、硅灰石等用软件。三、图像分析处理功能1、 色调处理:负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整;2、 图像矫正:水平镜像、垂直镜像、90度(逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小任意比例缩放等;3、 测量单位:微米、毫米、厘米、英吋任选;4、 图像增强:对比度均衡、膨胀、腐蚀等;5、 图像处理:图像锐化,边缘平滑,二值化,边界滤波,分析目标擦除、孔洞填充,手工擦除,手工连接,粒子属性查看、设置标尺、网格等功能;6、 分析参数:(1)几何参数:每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置,像素;(2)当量几何参数:等面积圆直径,等周长圆直径,长径,短径,长径比;(3)外接几何参数:每个颗粒的外接圆直径;(4)光密度参数:图像 R、G、B、灰度分布;(5)形态学参数:长径比,圆度系数;
Winner99是用于颗粒大小与颗粒形貌分析的专用仪器。该仪器通过精心设计的光学显微镜和专业级的摄像头获取颗粒信息;使用计算机图像分析技术进行分析处理,从而测定颗粒大小分布与颗粒形貌特征。本仪器具有操作方便、图像清晰、测量直观,分辨率高达0.1微米/象素,测试范围广的突出特点,可广泛适用于大专院校、研究院所以及大中型企业的新产品研究开发、工艺控制和质量检验。主要性能特点: 支持黑白、彩色两种图像的采集处理;备有中、英文2种工作界面配有专业级摄像头和高分辨率图像采集卡,分辨率可达每像素0.1微米配有功能强大的图像处理软件,可满足各种图像处理需要可以支持多种粒径,多种平均值和多种形状系数的计算内容丰富的测试报告可以在网上传输支持单个颗粒的大小和形状的分析研究可以输出颗粒群全系列的统计平均直径。可以对大量颗粒的图像进行集成处理,提高取样的代表性。不仅可以进行颗粒大小分析,而且可以同时进行颗粒形貌的定量分析。配有标准刻度尺,可以满足高精度测量的需要。自动图像处理功能;按一次键即可完成全套图像处理和颗粒分析操作,简单快捷,统一规范。
硬件参数 | ||||
显 微 系 统 | 物镜 | 4X、10X、40X、60X、100X(油)长距消色差(平场)物镜组 | ||
目镜 | 1X、10X、16X 大视野摄像目镜 | |||
载物台 | 手动三维机械式载物台,尺寸:185mm×140mm,移动范围:50mm×75mm,粗微同轴调焦,微动格值:2μm,带锁紧和限位装置 | |||
光源 | 底部透射光源,6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源(带起偏振器) | |||
总放大倍数 | 4倍——1600倍 | |||
摄 像 系 统 | 分辨率 | 2048×1536 | ||
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |||
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |||
帧率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |||
清晰度 | 900线 | |||
信噪比 | 小于42dB | |||
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |||
输出方式 | USB2.0 | |||
实际观测范围 | 1微米——6000微米 | |||
软件参数 | ||||
软 件 功 能 | 静态采集 | 将样品形貌拍摄为高清晰BMP图片 | ||
图片处理 | 使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 | |||
图像拼接 | 将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性 | |||
颗粒的自动处理工具集 | 自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 | |||
比例尺标定 | 通过国家标准测微尺标定后,每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 | |||
单个颗粒数据 | 可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析 | |||
任务管理机制 | 严格的任务管理机制,使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。 | |||
报告输出 | 将测试结果输出为报告,并可以自定义报告样式。 | |||
整体分布特征参数 | D10、D50(中位径)、D90、D100等颗粒分布的特征参数 | |||
报 告 参 数 | 整体频率分布累计分布 | 颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。 | ||
统计平均径 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径 | |||
形状参数 | 长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据 | |||
个数统计 | 直接得到所观测的颗粒数量 | |||
样品缩略图 | 可以将样品缩略图显示到报告中 | |||
表头输入 | 可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中 | |||
自定义LOGO | 用户可以自定义LOGO和报告名称,使输出的报告显示自己公司的信息 |
KY-100 动态颗粒图像分析仪 产品简介:KY-100动态颗粒图像仪是凯云仪推出的一款划时代的颗粒测试设备。执行国际标准ISO/DIS-13322-2,众所周知,静态颗粒图像仪虽然有观测直观、数据丰富等优势,但也有其固有的问题,就是取样数量少,测试代表性不强,而本款仪器就配备了世界上最先进的高速摄像系统,动态进样动态采集,通过自主开发的软件系统,既能获得包括“长径比”“球形度”在内的形貌参数,又可以获得具有代表性的粒径分布数据。是一款定义未来趋势的产品,也是济南微纳在中国颗粒测试行业技术优势的体现。
适用范围:KY-100动态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业,尤其对于在液体中会发生化学反应、形状变化及损失的如中草药、磁性材料等。
产品特点:KY-100 采用超声分散技术,从根本上消除了颗粒粘连的可能性,提高了测试的准确性;KY-100 采用高速摄像机实现颗粒运动中采样,从根本上消除了静态采样时,颗粒方位造成的分析误差,实现了理想的三维测试。KY-100 是颗粒在循环中测试,采样数量不限,统计结果具有完全的代表性。KY-100 不仅可以进行粒度分析,同时进行形态分析,可以输出粒度分布曲线,球形度分析、长宽比分析等十几种分析结果;KY-100 粒度测试的准确度重复性可以与激光粒度分析相比,测试范围却远远大于激光粒度仪。KY-100 采用了功能强大的软件不仅可以高速采集图像、即时显示颗粒形貌、自动分析颗粒粒度与形态,实现离焦补偿,而且可以记录全过程数据供分析研究,因此可以用于在线颗粒测量。
KY-100 动态颗粒图像分析仪技术参数及详细配置KY-100 动态颗粒图像分析仪 KY-100 动态颗粒图像分析仪技术参数及详细配置
主要 技术 参数 规格型号 KY-100 测试范围 2-6000μm 分散方式 湿法(超声、搅拌、循环) 成像元件 高速高分辨率CCD摄像机 最大分辨率 1208*1024 快门速度 10-6 S 整体分布特征参数 D10、D50(中位径)、D90等颗粒分布特征参数 统计方式 按数量、体积、面积等方式分析颗粒的频率、累计分布 统计平均径 Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用统计平均径 形状参数 长径比、庞大率、球形度、表面率等 体积 760mm×440mm×460 mm 重量 25Kg 详细 配置 名 称 数 量 主机 1 台 高速高分辨率CCD摄像机 1 台 图像采集卡 1 块 微纳动态图像分析软件(含加密狗) 1 套 使用说明书 1 本 国家标准测微尺 1 个 数据线 2 根 电源线 1 根