JMR-3254 X荧光油品硫分析仪
本仪器是根据中华人民共和国标准GB/T 17040《石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法)》规定的要求设计、制造的专用X荧光分析仪。本仪器采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合标准GB/T17040和GB11140的相关要求,也完全符合更为严格的美国标准ASTMD4294-02的要求。
一、主要技术特点
1、采用荧光强度比率分析方法,检测品种广,量程宽,分析速度快,样品耗量少。
2、采用机电一体微机化设计,液晶显示,操作界面人机对话,具有自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数,温度、气压自动修正,碳氢比(C/H)亦可修正。
2、采用一次性Mylar膜样品杯,可避免交叉污染;样品杯制作采用多功能压件,快捷方便,可记录样品编号、m/m、日期。
3、样品测试台定位精确;待测样时,自动伸出机体外,置放样品及更换防漏油部件十分方便,又避免探测系统被污染的可能。
4、仪器数据存储量大,含量分析结果和标定工作曲线参数随时可查。
5、仪器具有标准串行通讯RS-232C接口,可实现与电脑或计算机的通讯。
6、安全的X射线防护措施,对个人和群体绝无X射线电力辐射伤害。
二、主要技术参数及指标
1、测硫范围: 7ppm~5%。
2、精密度:a重复性(r): <0.029( +0.6); b再现性(R):<0.063( +0.6)。
3、样品量: 2~3ml(相当样品深度3mm~4mm)。
4、测量时间: 60、120、240、300、600秒,任意设定。
5、样品测量: 单样品自动测量,测量次数2、3、5、10、50次任意设定,测量结束给出平均值和标准偏差。
6、校正曲线数:仪器可存储9条标定曲线,5条为一元一次直线,4条为二项式抛物线。
7、工作条件: 温度:10~35℃;相对湿度:≤85%(30℃)。
8、工作电源:AC220V±20V、50Hz;额定功率30W。
9、尺寸和重量:468mm×368mm×136mm;13kg。
有害物质元素 | | 检测标准 |
Cd | | 100ppm |
Cr6+ | | 1000ppm |
Pb | | 1000ppm |
Hg | | 1000ppm |
PBB | | 1000ppm |
PBDE | | 1000ppm |
I-CHEQ I-9000 RoHS分析仪 | |
品牌 | I-CHEQ |
产地 | 美国原装制造 |
X光管 | W靶,10-40KV,10-50uA,5个过滤镜 |
分辨率 | Si PiN 检测器,分辨率<230eV FWHM 5.95KeV |
高温探头 | 耐高温,最高工作温度426℃ |
重量 | <1.6Kg |
尺寸 | (高x宽x深)20x22x10 |
标准元素 | (20个)Cl,Ti,Ba,Cr,Fe,Ni,Cu,Zn,Hg,As,Au,Br,Pb,Bi,LE,Ag,Cd,Sn,Sb,Se |
工作模式 | RoHS/WEEE模式,塑胶模式,合金分析模式 选配模式:工业涂层模式,过滤分析模式 ,除尘模式,土壤模式,实验室化验模式,矿产品模式 |
检出限 | Cr,Cd 20 PPM Sb 45 PPM Hg,Pb 6 PPM Br 5 PPM |
数据存储及输出 | 128M 储存卡,自动存储20000组数据,输出数据为EXCEL文档,USB数据接口 |
电池及充电器 | 锂电池2根,单根电池8小时常规操作,4小时持续操作,2小时完成充电 |
电脑及软件 | HP POCKET PC;WINODWS CE操作系统;屏幕为彩色可触摸屏 |
标准件 | 316 标准件,便于能谱线的标准化 |
应用软件 | i-CHEQ Systems |
包装 | IP66 防水运输箱 |
欲知详细内容,请您来电咨询! 深圳普分科技 岳生 13794487447 TEL: FAX: http:// www.pufenkeji.com www.pufensz.com
XRF样品杯、X-ray样品杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯、X-ray Cups
品名:XRF样品杯Sample Cups
型号:所有型号CAT. NO(欢迎来电索取产品目录)
品牌:美国Chemplex(原装进口)
货期:现货
起订量:1包以上(100个/包)。
一、美国Chemplex XRF样品杯:
美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。
Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。
二、Chemplex 样品杯特点:
Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:
1、符合RoHS指令;
2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;
3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;
4、耐热和抗辐射的物理性能特点;
5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;
6、低微量元素杂质。
三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:
日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。
四、XRF样品杯目录:
1、产品系列:
1000系列:带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯;
1300系列:带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯;
1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯;
1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯;
1545系列:适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯;
1700系列:带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯;
1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯;
1080,1085,1850系列:带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。
2、目录编号CAT.NO:
目录编号CAT.NO:外部直径最大外部直径高度孔径容量个/包
1060: 1.23”(31.2mm) /0.93”(23.6mm)0.96”(24.4mm)9mL100
1065: 1.23”(31.2mm)/0.93”(23.6mm)0.96”(24.4mm)8mL100
1070: 1.52”(38.6mm)/0.90”(22.9mm)1.19”(30.2mm)13mL100
1075: 1.51”(38.4mm)/0.90”(22.9mm)1.21”(30.7mm)13mL100
1080: 1.69”(42.9mm)1.84”(46.7mm)0.80”(20.3mm)1.43”(36.3mm)15mL100
1083: 1.69”(42.9mm)1.84”(46.7mm)0.73”(18.5mm)1.43”(36.3mm)12mL100
1085: 1.69”(42.9mm)1.84”46.7mm)0.80”(20.3mm)1.43”(36.3mm)12mL100
1095: 1.71”(43.4mm)1.77”(45.0mm)1.57”(39.9mm)1.50”(38.1mm)30mL100
1330: 1.21”(30.7mm)/0.90”(22.9mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1330-SE: 1.21”(30.7mm)/0.90”(22.9mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1340: 1.54”(39.1mm)/0.91”(23.1mm)1.26”(32.0mm)12mL100
1430: 1.22”(31.0m)/0.88”(22.4mm)0.97”(24.6mm)9mL100
1430-SE: 1.22”(31.0m)/0.88”(22.4mm)0.97”(24.6mm)9mL100
1440: 1.55”(39.4mm)/0.88”(22.3mm)1.27”(32.3mm)15mL100
1440L: 1.55”(39.4mm)/1.38”(35.1mm)1.28”(32.5mm)25mL100
1530: 1.22”(31.0mm)/0.91”(23.1mm)0.94”(23.9mm)9mL100
1530-SE: 1.22”(31.0mm)/0.91”(23.1mm)0.94”(23.9mm)9mL100
1540: 1.55”(39.4mm)/0.91”(23.1mm)1.22”(31.0mm)16mL100
1630杯盖: 32mm配1530样品杯///100
1640杯盖: 40mm配1540样品杯///100
1730: 1.21”(30.7mm)/0.91”(23.1mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1730-SE: 1.21”(30.7mm)/0.91”(23.1mm)0.97”(24.6mm)7mL100
1740: 1.54”(39.1mm/0.93”(23.6mm)1.26”(32.0mm)11mL100
1830: 1.22”(31.0mm)/0.87”(22.1mm)0.96”(24.4mm)7mL100
1830-SE: 1.22”(31.0mm)/0.87”(22.1mm)0.96”(24.4mm)7mL100
1840: 1.54”(39.1mm)/0.93”(23.6mm)1.25”(31.8mm)12mL100
1850: 1.69”(42.9mm)1.87”(47.5mm)0.77”(19.6mm)1.41”(35.8mm)13mL100
1930: 1.23”(31.2mm)/0.84”(21.3mm)0.96”(24.4mm)8mL100
1930-SE: 1.23”(31.2mm)/0.84”(21.3mm)0.96”(24.4mm)8mL100
1940: 1.55”(39.4mm)/0.84”(21.3mm)1.27”(32.3mm)15mL100
1940L: 1.55”(39.4mm)/1.39”(35.3mm)1.27”(32.3mm)25mL100
1935-OX: 1.23”(31.2mm)/1.51”(38.4mm)1.16”(29.5mm)17mL100
2132: 1.24” (31.5mm)1.36” (34.5mm)1.15” (29.2mm)1.04” (26.4mm)9mL100
2135: 1.35” (34.3mm)1.46” (37.1mm)1.17” (29.7mm)1.10” (27.9mm)11mL100
2140: 1.58” (40.1mm)1.75” (44.5mm)1.17” (29.7mm)1.38” (35.0mm)19mL100
2143: 1.58” (40.1mm)1.62” (41.1mm)1.17” (29.7mm)1.38” (35.0mm)19mL100
2144: 1.58” (40.1mm)1.62” (41.1mm)1.33” (33.8mm)1.38” (35.0mm)19mL100
2145: 1.76” (44.7mm)1.86” (47.2mm)1.16” (29.5mm)1.57” (39.9mm)22mL100
2146: 1.76” (44.7mm)1.86” (47.2mm)1.32” (33.5mm)1.57” (39.9mm)22mL100
2195: 1.71” (43.4mm)1.77” (45.0mm)1.56” (39.6mm)1.50” (38.1mm)22mL100
3106: 1.20”(30.5mm)/0.99”(25.1mm )/0.2mL100
3110: 1.20”(30.5mm)/0.99”(25.1mm)/0.5mL100
3115: 1.20”(30.5mm)/0.99”(25.1mm)/1.0mL100
3120: 1.20”(30.5mm)/0.91”(23.1mm )/5.5mL100
联系方式:
广州市德骏仪器有限公司
手机:13430208978 黎小姐
电话:
传真:
地址:广州市越秀区解放南路123号金汇大厦801室
Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。
采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
X荧光镀层测厚仪产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:专用3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义
样品腔:330×360×100mm
X荧光镀层测厚仪标准配件
样品固定支架1支
窗口支撑薄膜:100张
保险管:3支
计算机主机:品牌+双核
显示屏:19吋液晶
打印机:喷墨打印机
X荧光镀层测厚仪
完全满足客户铜镀锡、铜镀镍、铜镀银、铜镀金、铜镀镍镀金、镍镀金、铁镀锌、铁镀铬等常用金属镀层测厚分析,并具有开放性工作曲线功能,能根据具体需求添加适合现场使用的镀层测试工作曲线,能够满足所有金属镀层测厚分析。
Ux系列仪器完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。
可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存
AriaMx 实时荧光定量 PCR 系统是一个全面集成了定量 PCR 扩增、检测和数据分析的系统。该系统采用模块化设计,结合了先进的热循环仪、配有光谱优化 LED 卡夹的先进光学系统以及数据分析软件。该仪器采用了全面的机载仪器诊断软件套件,能够在运行分析前发现可能的仪器问题,确保无故障运行。体验快速、灵活、精确的 AriaMx 带给您的无忧体验。设计灵活的 AriaMx 实时荧光定量 PCR 系统提供了业内第一个可配置且可更换的光学系统。现在您可根据需要搭配光学模块,日后您也可根据需要更改配置。 安捷伦 AriaMx荧光定量PCR 技术参数:通道数:1-6通道激发光源:每个通道8个对应的LED检测器:8个光电二极管反应体积:10 μL 至 30 μL支持的化学反应:SYBR、探针和 HRM热力学系统:六个珀尔帖控温模块,96孔热系统温度范围:
动态范围:9Cq 均一性:快速循环 (5s 95 °C/10s 60 °C)的 Cq 标准差 <0.20重量:50 磅 (23 kg)规格:19.7 英尺(宽)x 18.1 英尺(深)x 16.5 英尺(高)(50 cm x 46 cm)操作系统:Windows 7运行模式:
适合应用:
北京龙跃生物科技发展有限公司
感谢您浏览并咨询我们的产品。您可以电话联系我们,或者网站留言写下您的联系方式。每天下午我们会统一回复,每一条网站留言都会回复。 我们的业务主要包括以下几部分:
1. ATCC进口细胞库中心, 销售高品质传代细胞, 目前细胞库冷冻中心有超过千种细胞, 是高规格大规模细胞库
2. 我们还可以提供维修服务, 可以维修所有实验室仪器, 按最低标准收费, 没修好不收费
3 我们代理以下进口品牌产品
伯乐BIO-RAD: PCR, 酶标仪, 电泳产品, 电穿孔, 凝胶成像等
德国艾本德离心机: 大容量离心机5810R, 5804R,高速冷冻离心机全系列
美国ABI仪器: 快速PCR, 荧光定量PCR, 测序仪
美国热电THERMO: 酶标仪,洗板机,微量分光光度计等等
美国伯腾 BIO-TEK: 酶标仪和洗板机全系列
瑞士帝肯TECAN: 酶标仪和洗板机
美国MD全系列连续波长酶标仪: 连续波长酶标仪,全波长酶标仪,多功能酶标仪
罗氏仪器: 荧光定量PCR等
美国哈希HACH: 台式和便携分光光度计系列
安捷伦产品: 荧光定量PCR
以上为我们的主营业务范围, 另外我们还可以替您代购其他进口仪器设备, 价格保证有优势, 竭诚为广大分子生物学领域的老师服务是我们的宗旨
EDX 3600K X荧光光谱仪最大的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到国际水平。
应用领域:
专为粉未冶炼行业研发的一款设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。
性能优势:
1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率达到139eV,各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线性、良好的能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。
2. 测试精度更高,检出限更低①专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能的测定轻元素和减少样品均一性的影响,提高样品的测试精度。②采用超小超真空的样品腔设计,测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。
3. 分析速度更快,从第1秒即可得到定性定量结果采用自主研发的数字多道技术,其最大线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从第1秒就可以得出定性定量结果,设计成高计数率,大大提高了设备的稳定性。
4. 一键式智能化操作专业软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。
5. 强大的自动化功能①自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。②采用自动稳谱装置,了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
6. 强度校正法具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
7. 完善的光路系统自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。
8. 三重安全防护功能三重安全防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。
9. 安全警示系统警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。
仪器配置:
铍窗电制冷SDD探测器自旋式样品腔超薄窗X光管信噪比增强器SNE超近光路增强系统可自动开启的测试盖自动切换型准直器和滤光片真空腔体自动稳谱装置90mm×70mm的液晶屏进的数字多道技术多变量非线性回归程序相互独立的基体效应校正模型
技术参数:
型号:EDX3600KX射线源:50KV、1mA样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm分析方法:能量色散X荧光分析方法测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素含量范围:ppm~99.99%检测时间:10秒以上检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择摄像头:高清摄像头测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换自旋装置:可调速的自旋装置检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5~500ppm真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率测试台:360°电动旋转式保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成样品放置:独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动数字多道技术:计数率>50kcps,计数率高至500kcps外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG操作环境湿度:≤90%操作环境温度:15℃~30℃
软件优势:
采用公司的能谱EDXRF软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面更加广泛。
鹤壁市伟琴仪器仪表有限公司专业研制销售量热仪,测硫仪,工业分析仪,灰熔点测定仪,自动工业分析仪,水分测定仪,碳氢氮元素分析仪 灰熔点测定仪,煤焦化验仪器,新型马弗炉,电热鼓风干燥箱,电子分析天平,采制样破碎设备,钙铁元素分析仪等煤质化验仪器仪表设备
2.2规格型号:SPECTROX-3000B
2.3数量:壹套
2.4适用范围
可对各类材料成分除碳元素(C)外的其它元素进行定性及及定量分析,包括对其它同类仪器难以分析的Mg、Al、SI、S、P、Mm等元素也有较好的表现。
2.4.1 钢铁行业:对生铁、各类铸铁、各类合金钢及炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石除碳(C)以外的各种元素成份分析。
2.4.2 耐火材料及水泥行业的分析:各类耐火材料及水泥生料样品的成份分析。
2.4.3 有色行业:对铝合金、不锈钢、铜合金样品及铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析。
2.4.4 质检部门: ROSH指令中的Pb,Cd ,Cr,Hg,Br及氯素各种等成份分析。
2.4.5 镀层测厚:可对金属材料及非金属材料上的所有电镀层的厚度进行准确无损测量。
第三部分 X荧光分析仪器简介与基本原理
本产品在全国二十多个省、市已推广了近千家用户(如攀钢、本钢、重钢、首钢、鞍钢等多家大型钢铁企业,中国测试技术研究院、武汉计量研究所、广州质检所、深圳质检所、哈尔滨质检所、山西省地矿部中心实验室等近百家计量、质检部门,以及四百多家全国各地的水泥厂),并出口到马来西亚、朝鲜、韩国、香港、非洲等国家和地区,涉及冶金、建材、质检、科研等部门,在广大用户中树立了良好的信誉。本公司的产品已成为广大用户的首选。
放射性同位素源或X射线发生器(X射线管)放出的X射线与样品中元素的原子相互作用,逐出原子内层电子,当外层电子补充内层电子时,会放出该原子所固有能量的X射线,称之为特征X射线。各种元素的原子受激发后,在退激过程中放出的特征X射线能量各不相同,例如铁的特征X射线(FeKα)能量为6.4KeV,铜的特征X射线(CuKα)能量为8.0KeV等等,依次可进行定性分析。在一定条件下,特征X射线的强度与元素含量(品位)成正比,从而可以通过对特征X射线强度的测量,建立与元素含量(品位)的关系式,由此测量未知元素的特征X射线的强度,可得出该元素的含量(品位)。
第四部分 工作环境要求
4.1环境温度要求:15℃-30℃(建议有空调的环境使用)
4.2环境相对湿度:<70%
4.3工作电源:交流220±5V
4.4周围不能有强电磁干扰。
第五部分 性能特点
5.1采用DPP数字脉冲成型技术,计数率高,无漏计,稳定性好;
5.2采用X光管激发样品,一次激发全部待测元素,韧致辐射型,Be(铍)窗厚50μm,靶材Ag(银靶),功耗低、寿命长,对轻重元素均有较高的激发效率;
5.3采用世界上最先进的电致冷SDD半导体探测器,分辨率高,达到130ev,无需液氮制冷,使用方便,可以一次性完成对多种元素的探测;
5.4高压电源:电压 0V-50kV连续可调;电流0-2mA连续可调,精度高,无故障操作;
5.5样品种类:块状;粉状
5.6腔内环境:空气或真空;
5.7真空环境测量,提高了轻元素的激发效率和测量范围;
5.8 2048道多道谱仪实时测量显示,对样品X光谱进行精细分析,系统可自动识别谱线,方便了解样品的组成;
5.9可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析;
5.10自动寻峰,消除谱峰漂移影响,确保仪器长期稳定;
5.11专业的分析软件,可以实现模式识别,自动分类,开放式软件系统,用户可以根据自身需要建立库文件;
5.12全中文Windows应用软件,操作简单。
5.13融合了一系列先进的光谱处理方法,包括FFT(快速傅立叶变换滤波)、精准的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等;
5.14国际领先的XRF分析软件,融合了包括经验系数法、基本参数法(FP法)、理论α系数法等多种经典分析方法,全面保证测试数据的准确性。
5.15可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合工厂多种统计及格式要求。
5.16数据管理设有用户密码,加强测试数据的严肃性及质量品控的可靠性。
第六部分 产品优势
6.1产品特点
精准、快速、无损、直观、环保;
精准:测试结果可以接近湿化学方法测试;
快速:分析样品中的几十个元素只需几分钟;
无损:不会破坏被分析样品的物理和化学特性;
直观:分析结果以图表方式直接呈现;
环保:不会对环境产生污染破坏;
6.2技术研发优势
拥有国内X荧光领域顶尖学者、教授多人的研发团队(教授5人(博士生导师,均享受国家津贴) .博士6人;硕士8人),各学科技术人才的完美结合,几十年的技术沉淀和研发经验,还有国家重大科研项目支撑,充分利用地学核技术重点实验室资源优势,以四川省地学核技术重点实验室为技术依托,拥有雄厚的核技术科研能力和先进的科研平台及权威的科研成果;保证了公司的产品技术始终能处于国内领先的水平;
6.3硬件优势
6.3.1整机配件优势
.我公司仪器的大部分配件均采用**级和工业级应用的配件,远远高于实验室应用;
.可适应在工业现场恶劣环境中使用,可以昼夜连续工作,故障率极低;
6.3.2机械结构优势:
尽量少的使用机械部件,确保提高系统的可靠性及稳定性,最大程度的减少维护成本支出;
6.3.3制样机优势:
由国内一流厂商定制,可对固体、粉末或其他软材料样品进行均匀制样,有效保障测量结果的一致性;
6.3.4真空测试系统优势
专利设计的真空测试系统,使样品腔真空度高达到10-2Pa,严格保证了轻元素(Na、Mg、Al、Si、S、P、Cl等)的检测要求,并自动切换到常规元素的分析模式,真正实现了对所有元素(Na-U)分析;