日本电子株式会社RoHS荧光X射线分析仪JSX-3400R
日本电子株式会社(JEOL)是世界科学仪器制造商,50年来坚持为科学探索和技术,提供设备和解决方案。其产品广泛用于医学、生物、生化、农业、材料科学、冶金、化学、石油、制药、半导体和电子器件等领域的研究中,对这些学科的发展做出了贡献。主要产品有透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描探针显微镜、电子探针、核磁共振谱仪、质谱、电子自旋共振谱仪、能谱、X荧光光谱仪等大型尖端设备。新型号X射线荧光光谱仪JSX-3400R,是日本电子株式会社2006年6月的升级版能量色散型光谱仪,是一直以来受用户好评的JSX-3202EV型基础上,进一步升级产品。该设备具有出众性能指标,不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元系分析,指令以外的一般元素也能在高感度下测试分析。该仪器注重整体的平衡,可以用检量线方法来精确测试金属或非金属中Cd、Pb、Hg、Cr、Br含量,用FP法来测试样品中其他成分的含量,既精确分析了样品中ROHS禁用物质的含量,又可以分析样品中各种成分百分比含量。高阶的检测器,极低的检测极限,可以满足比Sony标准更严的客户管制标准。 X荧光技术具有快速、精确、无损的特点,可以应用到很多的领域;比如: 电子行业、机械制造、医疗卫生、生态研究、 冶金有色、食品工业和商业、珠宝首饰、地质勘探、煤炭、造纸、建材行业、考古、商检、电镀行业、钢铁行业、石化、稀土、石英砂、金钢砂、陶瓷等许多领域得到了越来越广泛的应用。 主要特点:液氮制冷型探头、世界探头等分辨率、同等时间内检出限度、测试时间短、各类软件、专利能量过滤装置等。该产品畅销世界各地,在同类型产品中性能,其稳定性能深受广大用户的好评与青睐。联系人:王先生 林先生 电话:021-56328482 56328461 13916703935网址:www.ew365.com.cn/rohs(详细请登录网站)
编号 | 名称 | 技术参数 |
01 | 探测器 | Amptek Si-PIN 分辨率:149eV(进口) |
02 | 高压电源 | 管压:0~50kV 管流:0~2000mA 功率:100W(国产) |
03 | 光管 | 功率:100W 冷却方式:油冷+风冷 靶材:Mo靶(国产) |
04 | 准直器 | Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm 可针对样品,配置专用准直器 |
05 | 光路系统 | 精密超短光路结构 6种滤光片、6种准直器自由组合(自动切换) |
06 | 控制系统 | 高速多路AD控制电路 |
07 | 供电电源 | AC220V/50Hz |
08 | 功率 | 300W |
09 | 仪器重量 | 35Kg |
10 | 样品仓大小 | 360mm×330 mm ×50 mm(H) |
11 | 外型尺寸 | 510mm×380mm×365mm(H) (人体工学设计) |
12 | 标准样品 | 配备进口标准ERM-EC681K 一块、ERM-EC680K 一块; |
13 | 校正片 | 配置精致纯银(Ag)校正片一块; |
编号 | 名称 | 技术指标 |
01 | 精密度(EC-681K) | σ(Pb)≤5ppm;σ(Hg)≤5ppm;σ(Br)≤7ppm; σ(Cr)≤6ppm;σ(Cd)≤5ppm; |
02 | 度(EC-681K) | σ(Pb)≤7ppm;σ(Hg)≤5ppm;σ(Br)≤5ppm; σ(TCr)≤3ppm;σ(Cd)≤4ppm; |
03 | 检出限 | 对聚合物材料: LOD(Pb)≤5ppm; LOD(Hg)≤5ppm; LOD(Cr)≤5ppm; LOD(TBr)≤5ppm; LOD(Cd)≤5ppm; 对铜基体材料: LOD(Pb)≤20ppm; |
04 | 测量时间 | 240秒(软件自动调整); |
1.元素分析范围从硫(S)到铀(U);
2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%;
3.测量时间:60-300;
4.RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br低达2ppm, Cl低达50ppm(因基体不同检出限可能存在定差异);
5.多次测量重复性可达0.1%(总荧光强度);
6.工作稳定性为0.1%;(总荧光强度);基本配置标准:
1.探测器:采用际上的由美生产的新代半导体Si-pin探测器;
2.置放大器与主放大器电路:新设计的置放大器电路;
3.X光管:铑靶材;
4.X光管高压电源:管压:50Kv;管流:50-1500uA ;
5.X射线:下照式 ,可满足各种形状样品的测试需求;
6.准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用;
7.超大样品腔:封闭式大样品腔(520mm×320mm×120mm);
8.移动样品台:手动二维移动平台,样品定位 ;
9.摄像头:140万象素CCD摄像头;
10.计算机配置:联想电脑;
11.打印机:品牌喷墨打印机;
12.测试软件:ROHS;合号;金属镀层等分析软件;应用域1.RoHS及卤素检测分析。2.八大重金属检测3.金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。4.地矿等资源类的元素分析5.检测机构;电镀行业。
产品描述: | 一、 技术指标: 分析范围:1PPM~99.99% 测量元素:从钾至铀等60多种元素 工作温度:15---30℃ 重 量:30公斤电 源:AC 110V/220V 测量时间:60~300秒 测量精度:0.05% 二、 配 置: 单样品腔 计算机、喷墨打印机 硅针半导体探测器放大电路高低压电源 X光管 三、 应用领域: § 化学工业 无机有机制品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂等 § 陶瓷、水泥水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、岩石等 § 电子磁性材料半导体、磁光盘、磁性材料、电池、线路板、电容器等 § 农业、食品土壤、肥料、植物、食品等 § 钢铁生铁、铸铁、不锈钢、低合金、炉渣、铁矿石、铁合金、表面处理钢板、电镀液、铸造砂等 § 环境工厂废水、海水、河水、大气粉尘、工业废物等 § 石油、煤炭石油、重油、润滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等 § 纸张、纸浆涂布纸、滑石、调色剂、墨水等 § 有色金属铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等 |
◎无损样品,前处理简单 ◎能分析出塑料中含有的1PPm的镉 ◎直观的分析界面 ◎自动编制附带合格与否判定结果的分析表 一、技术指标 X荧光光谱仪ROHS指令检测主要技术指标 1.检测仪器SkyrayEDX3000B 2.样品室尺寸:A型400*500*300MM B型1000*1000*300MM 3.测量时间:200秒 4.高压:25-50KV 5.管流:50--1000uA 6.计数率:1300-8000Cps 7.ROHS指令有害元素分析仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br达1PPM 8.电致冷硅针半导体探测器 9.加强金属元素感度分析 10.分析范围:1ppm--99.99% 11.测量元素:欧盟ROHS有害微量元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br,其中对PBB、PBDE只能测其Br总量,对六价铬只能测其Cr的总量,通过有偿服务可以增加镀层膜厚分析软件与其相关标样可以扩展测到从钾到轴等73种元素 二、主要配置 主要部件: - 主机壹台,含下列主要部件: •X光管:使用寿命大于5千小时 •探测器:电制冷半导体探测器;分辨率:170±10电子伏特 •放大电路; •高压系统 :从25KV~50KV,1毫安 •样品腔:开放式大样品腔(1000mm*1000mm*300mm) •计数率:1300-8000计数率/秒 •ROHS分析软件 测塑料中ROHS指令及金属中ROHS指令的软件。 三、应用领域 § 化学工业 无机有机制品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂等 § 陶瓷、水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、岩石等 § 电子磁性材料半导体、磁光盘、磁性材料、电池、线路板、电容器等 § 农业、食品土壤、肥料、植物、食品等 § 钢铁生铁、铸铁、不锈钢、低合金、炉渣、铁矿石、铁合金、表面处理钢板、电镀液、铸造砂等 § 环境工厂废水、海水、河水、大气粉尘、工业废物等 § 石油、煤炭石油、重油、润滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等 § 纸张、纸浆涂布纸、滑石、调色剂、墨水等 § 有色金属铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等
联系人:郁光照 电话:0769-22305416(手机13790221005)
QQ 6154 瑞盛科技成立于2002年,由瑞胜科技有限公司(香港)及深圳市瑞盛科技有限公司组成。产品有:岛津XRF测试仪、RoHS检测仪、RoHS分析仪、RoHS测试仪、x射线荧光光谱分析仪、直读光谱仪、X射线衍射仪、紫外可见光谱仪、气相色谱仪、液相色谱仪、液相色谱仪、离子色谱仪、离子色谱测试仪、玩具安全测试仪。是日本岛津、瑞士万通、日本精工、日本电子等在中国区的授权一级代理商,以及SPECTRO、Miletstone等知名品牌在华主要经销商,代理全系列色谱、光谱、质谱、生命科学等仪器,广泛应用于电子、医药、食品、环保、检疫、钢铁、有色等行业,并针对节能环保检测、生物医药检测、有害物质分析、材料成分及表面分析,提供进的检测仪器及整套的实验室建构、耗材、培训一站式解决方案。
瑞盛科技本着客户至上、诚信经营的原则。在已有成绩的基础上,近年来一直不断拓宽产品线,提高销售人员素质,建设完善售后服务团队,于将国内外的产品推荐给用户,并把客户的满意度作为公司的荣誉;公司经过数年耕耘,已经拥有数量众多的用户。广泛分布在电子制造、塑胶、五金、玩具、钢铁、有色、石油、生物医药、检验检疫等行业 。
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ROHS检测仪器-光谱仪
产品型号:UX-300
产品简介: 本公司推出的UX-300型X荧光光谱仪,无需对样品进行前处理,200m的检测时间就可以同时得出欧盟ROHS指令规定的有害元素,铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(CrVI)、多溴联苯(PBB)、多溴联苯醚(PBDE)的具体含量,其检出限可以达到1ppm。
产品特征
* 采用能量色散X荧光分析技术(EDXRF),实现多种元素同时测量。
* 可根据用户的应用要求配置为从Na到U的任意多种元素。
* 可根据用户的应用要求配置为从Na到U的任意多种元素。
* 采用多种措施优化光路设计和配置,了特征X射线的探测效率。
* 采用50W侧窗X射线管,功耗低、寿命长,对轻重元素均有较高的激发效率。
* 基于Windows2000/XP的程序功能丰富,各种图表和趋势图为决策提供最直观的支持。数据可直接输出到 Excel,便于进行统计分析。
* 备有基于神经网络模型的经验系数法建模,非常稳定。
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |||
分析元素 | Na ~U任意元素 | |||
检出下限(Cd/Pd) | Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm | |||
样品形状 | 任意大小,任意不规则形状 | |||
样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 | |||
X射线管 | 靶材 | Mo | ||
管电压 | 5~50 kV | |||
管电流 | 最大1~1000 μA | |||
照射直径 | 2、5、8mm自动转换 | |||
探测器 | Si(PIN)半导体高分辨率探测器 | |||
滤光片 | 八种新型滤光片自动选择 | |||
样品定位 | 微动载物平台(选配) | |||
样品观察 | 30倍彩色CCD摄像机 | |||
微区分析 | X光聚焦微区分析系统(选配) | |||
软件 | 定量分析:α系数法 WINDOWS XP | |||
数据处理 | 主机 | PC机 | ||
内存 | 256 MB 以上 | |||
硬盘 | 40 GB 以上 | |||
OS | Windows XP | |||
工作环境 | 温度 | 10~35 ℃ | ||
湿度 | 30~70%R H | |||
電源 | AC 220 V±10 %、50/60 Hz | |||
功率 | 1.1kW | |||
重量 | 40Kg | |||
外形尺寸 |
| 610(W)×750(D)×500(H)mm |
ROHS检测仪器-UX300荧光光谱仪
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主要规格 规格描述
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选:
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室
-样品室结构 开槽式样品室
-最大样品台尺寸 610mm x 610mm
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm还有5种规格任选
-Z轴程控移动高度 43.18mm
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
-样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。
(50倍和100倍观察系统任选。)激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
样品种类: 镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:Ti22 – U92。可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测,如Au karat评价
材料和合金元素分析,材料鉴别和分类检测
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析
-调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
-测量自动化功能 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式,测量位置预览功能,激光对焦和自动对焦功能
-样品台程控功能 设定测量点,连续多点测量,测量位置预览
-统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能
-系统安全监测功能 Z轴保护传感器,样品室门开闭传感器
●精度高、稳定性好
●强大的数据统计、处理功能
●测量范围宽
●NIST认证的标准片
●全球服务及支持