CMI900系列X射线荧光测厚仪
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关键字:测厚仪,膜厚仪,涂层厚度,CMI 233测厚仪,电镀测厚,CMI150测厚仪,X射线荧光测厚仪
品牌:OXFORD CMI(英国牛津)
简介:
□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。
□服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持
□测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)
□测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量
产品介绍 订购编号:20709 CMI900 / 20710 CMI950
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
● 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 程控样品台:XYZ轴自动控制。
● 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:
● 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。
● Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。
● 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。 ========================================天友利标准光源有限公司国际网站:http://www.tayole.com在线销售:http://www.toyok.cn深圳:0755-27195123 手机:13902929627上海:021-64601150 北京:010-69291666苏州:0512-82155192 杭州:0571-86726516
北京MTE130A/B便携式手持涂层测厚仪仪器采用磁性、涡流两种测厚方法,可无损伤地检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)本仪器广泛地应用于一切金属表面涂层。
二、产品特点
便携设计,手掌大小 | 采用高速的DSP芯片,具有快速的测量能力 |
人性化设计,简单操作 | 在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质,无需手动转换 |
宽角度LCD液晶显示 | 两种校准方式,零点校准和二点校准 |
公制和英制单位转换 | 操作过程有蜂鸣声提示 |
具有电源欠电压提示 | 具有自动关机功能 |
三、参数规格
测量范围:0-1500um | 测量精误差:±(1.5+3%H) |
工作电源:两节五号电池 | 环境温度:0-40℃ |
相对湿度:≤85% | 最小曲率凸:5mm;凹5mm |
最小基体:10*10mm | 重量:240克(含电池) |
最薄基体:0.4mm | 尺寸150mm*74mm*32mm |
MTE130A 磁感应涂层测厚仪
MTE130B磁感应、涡流两用涂层测厚仪
产品说明: | TT230本仪器是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。主要功能 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。 自动关机功能。 删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。主要技术指标 测量原理:涡流法 测量范围:1~1250μm 测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准) ±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准) |
技术参数:
规格、重量 HC-HD90一体式楼板测厚仪
应用领域 HC-HD90一体式楼板测厚仪主要用于混凝土结构(楼板等)或其它非磁体介质的厚度测量
符合标准
GB50204-2002《混凝土结构工程施工质量验收规范》
产品特点
实时定位,实时显示发射探头位置,通过方向指示实现快速定位;
操作简便;
实时显示测量数值,自动锁定真实厚度;
主机带有轮胎,减少仪器磨损;
具有存储、浏览、删除等功能,可存1000个构件或者22万测点;
USB数据传输,可将存储数据通过USB线上传到计算机;
PC机专业数据分析软件,数据处理及报告生成轻松完成;
2.8寸高分辨率彩色液晶屏(320x240像素);
主机一体式设计,体积小巧,重量轻,方便携带。
方向指示范围
X方向 0.2~1.5m
Y方向 0.2~1.2m
测量精度
20-250±1mm
251-400±2mm
401-600±3mm
601-850±6mm
数据存储容量 1000个构件和220000测点
主机供电 内置大容量锂电池可工作24小时
探头供电 内置大容量锂电池可工作64小时
操作界面 HC-HD90一体式楼板测厚仪
分析软件 HC-HD90一体式楼板测厚仪
产品配置 HC-HD90一体式楼板测厚仪
技术参数:执行标准:GB/T1764-79,GB/T134522-92ISO2808-74测量范围:0-500μm测量精度:40μm以下+/-2,40μm以上+/-5% |
X-strata960X射线荧光镀层厚度测量仪
基于25年涂镀层测量经验,在CMI900系列测厚仪的坚实基础上,引进的设计:
•;新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度,同时减少50%测量时间
•;更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器,可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置,同时提供更高精度的Y轴控制。
•;距离独立测量(DIM) - 更灵活地特殊形状样品,可在DIM范围内12.5-90mm(0.5-3.5inch)对样品表面进行测量,Z轴可控制范围为230mm(9inch)。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
•;自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离,改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
•;的大型样品室 - 更大的开槽式样品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
•;3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制(250x250mm或10x10英寸)/固定样品台;标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
•;内置PC用户界面
X-Strata 960测厚仪
主要应用领域:
用于高精度要求的别测厚仪
电路板/半导体/连接器端子/五金贵金属电镀
(如1.0uinch Au,Ag…)
主要特点:
X-Strata 960 X荧光射线测厚仪,可快速测定各种材料构成
的多层镀层厚度和元素组成。长寿命100瓦微焦点X射线管
(其它测厚仪为50瓦)。提高30%分析精度和减少50%的分
析时间三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm;
手动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴;固定位置样品台,
最大高度230 mm更小准直器,测量更小区域:最小直径15um
圆形准直器,20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM:
更灵活地测量不规则样品(凹凸),在12.5~102mm自由聚
焦范围内可聚焦样品表面任意测量点。并有自动雷射
聚焦功能 一体机工作站式设计,简化设备安装,减少占用
空间。
仪器介绍:
960系列 X射线荧光测厚仪样品台采用箱体式设计‘能
测量多种几何形体、各种尺寸的样品’,测定方法满足
ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987
技术参数:
元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层
(4层+基体);最多同时15种元素定量
X射线激发:100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
(可选钼靶X射线管)
X射线检测: Xe封气正比计数器,可最多装备3种二次
滤光片
准直器: 最多4种,多种规格备选样品形态: 电镀、
涂镀、薄膜、合金、液体、等等
数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动
波谱校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz
工作环境: 10-40℃、相对湿度小于98%,无冷凝水
样品台移动量: 程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm; 手
动XY轴:250 x 250mm+230mm程控Z轴
仪器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
GALVANOTEST库仑镀层测厚仪的介绍:
1. 可测实际应用的所有镀层
2. 利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层
3. 符合国际标准:DIN EN ISO 2177
GALVANOTEST 可以测量
70种以上镀层/基体组合
预置9种金属的测量参数:Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。
从单镀层,例如锌在钢上,直至三镀层,例如铬层在镍层再在铜层或塑料上。