基本原理 超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 性能指标 测量范围： 0.75mm～300.0mm 显示分辨率：可选择0.1/0.01mm 测量精度： 0.75mm～9.99mm； ±0.05mm 10.0mm～99.99mm（±0.5%H+0.01）mm 100.0mm～300.0mm（±1%H+0.1）mm 声速调节范围： 1000 m/s～9999m/s 管材测量下限（钢）：Φ15mm×2.0mm 最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值 数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接 数据存储：可存储500个测量值和五个声速值 报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警 使用环境温度：不超过60℃ 电源：二节AA型1.5V碱性电池 工作时间：可达100小时 外形尺寸：152mm×74 mm×35 mm 重量：370g 基本配置 主 机 1 5MHz探头 1 耦合剂 1 主机保护套 1 使用说明书 1 手提箱 1
WHT-10型防水卷材测厚仪（路腾仪器）防水卷材测厚仪是根据GBl8242-2000及GBl8243-2000标准要求专为防水卷材厚度测量而设计制造。可随身携带，手持测量。主要技术参数： 1、测量范围：0-10mm 2、上测直径：Φ10±0.05m 3、分 度 值：0.01mm 4、施加压力：0.02MPa
TT220涂层测厚仪产品介绍：TT220涂层测厚仪采用了磁性测厚法，是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
TT220涂层测厚仪主要功能 涂层测厚仪可进行零点校准及二点校准。 涂层测厚仪可对测头进行基本校准。 涂层测厚仪设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、涂层测厚仪标准偏差（S.DEV）。 涂层测厚仪可存贮和统计计算15个测量值。 涂层测厚仪具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 涂层测厚仪具有自动关机功能。 涂层测厚仪删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 涂层测厚仪操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。
TT220涂层测厚仪主要技术指标 涂层测厚仪测量原理：磁性法 涂层测厚仪测量范围: 1～1250μm 涂层测厚仪测量精度：±（3%H+1）μm（零点校准） ±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）
QUC-200F数显式涂层测厚仪出厂价3750元，电函咨询优惠价供应！QUC-200F数显式涂层测厚仪用途概述：QUC-200F数显式涂层测厚仪是用电池供电的便携式测量仪器，采用磁感应原理。测量方法符合国际标准ISO2178和国家标准GB4956.它采用计算机技术，无损检测技术等多项先进技术，无需损伤被侧体就能准确地测量出它的厚度。F型侧头可直接测量导磁材料（如：钢铁、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬等）。QUC-200F数显式涂层测厚仪主要指标：1.显示器：4位10mm液晶2.测试范围：0～1250nm ；分辨率：0.1nm/1nm3.电源：4节7号电池4.重量：81g（不包括电池）
品牌TESTER SANGYO
TH-104 纸、薄膜厚度测定仪
本机是TH-101,102系列的数码万分表类型。因为是数码类型、自动回零、有顶峰抓头儿等的功能、校正也简便。根据选项能打印所需求的数据。
配 置
纸用
型 式 精 度 行 程 载 重 加压尺寸
A 型 1 /1000mm 8mm 550g /cm 14.3mm￠
薄膜用
型 式 精 度 行 程 载 重 加压尺寸
A 型 1 /1000mm 8mm 125g 5mm￠
参考规格……JISP-8111 (纸用) JISK-6781(薄膜用)
付属品 ……专用回收箱
机体尺寸……约(正面的宽度)9x(深度)14x(高度)27ｃｍ
产品说明书铁基/非铁基涂层测厚仪参 数 功能 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量范围（标准） 0～1000um（实际最大可达1250um）分辨率 0.1/1 度 ±（1～3%n）或±2um 电源 4节5号电池 外形尺寸 161X69X32 应用:用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
德国原装进口手持式油膜厚度测量仪,油膜测厚仪,油膜厚度测量系统,油膜厚度测试仪,油膜厚度测试系统，广泛用于德国大众汽车公司, 钢铁制造和机械制造企业.油膜厚度测量范围：0.2－－-6g/m^2 （约等于微米）。详情浏览：http://www.f-lab.cn/analytical-instruments/508.html这款德国原装进口的油膜厚度测量仪,油膜测厚仪,油膜厚度测量系统,油膜厚度测试仪,油膜厚度测试系统，便携，方便使用，非常成功地用于油膜厚度的测量，机械部件的上油、油润控制，非常广泛地应用于汽车制造，机械制造领域。这款油膜测厚仪基于红外滤波片技术制造，专业为工业和科研环境使用而设计。它图形化显示油膜厚度，可选参数和校准选择等选项，更为直观地给出油膜厚度结果，方便操作。详情浏览：http://www.f-lab.cn/analytical-instruments/508.html其中校准功能给出9种金属类型: 冷轧钢 （cold rolled steel）,热镀锌钢 （galvannealed steel）热浸镀铝,热浸渗铝，热镀铝 （hot dip aluminized ）热浸镀锌,热浸渗锌，热镀锌 （ hot dip galvanized）电镀锌 （纯洁和磷化，electro galvanized）多锌环氧树脂, 富锌环氧树脂（zinc enriched epoxy ）铝 （光面和 EDT, aluminium, mill finish ａnd EDT）其他类型的金属表面可以根据用户要求添加。这款油膜厚度测量仪,油膜测厚仪,油膜厚度测量系统,油膜厚度测试仪,油膜厚度测试系统的外壳采用坚固的橡胶覆盖技术，采用可充电电池供电。油膜厚度测量仪,油膜测厚仪,油膜厚度测量系统,油膜厚度测试仪,油膜厚度测试系统参数：油膜厚度测量范围：0.2－－-6g/m^2 （约等于微米）。供电系统：7.2V可充电Ni/MH电池，电池工作时间约为9小时,配备电池供电器。连接方式：RS232接口连接计算机用于数据交换和控制,显示：图像化显示，可选择金属类型,薄膜厚度以及误差和平均厚度, 工作状态,电池容量指示控制：电源开/关, 触发, 金属表面类型选择按钮和菜单导航机械部分：外壳：橡胶覆盖铝制圆柱行外壳尺寸：长度22.8cm， （含手柄33.5cm）, 直径12.8cm重量：3.4kg （含电池）中国的进口光学精密仪器供应商！
Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn （激光光学精密仪器网） www.felles.cc （综合性尖端测试仪器网） www.f-lab.cn （综合性实验室仪器网）
专业代理美国Filmetrics薄膜测厚仪F20
供应上海/扬州/苏州/无锡/南京/天津/北京/武汉/西安/杭州/济南/广州/深圳等地
美国Filmetrics公司生产的薄膜测厚仪是以F20为平台，具有其系列的所有优点：利用光谱反射的原理，测量精度达到埃级的分辨率，测量快，操作简单及最具性价比的薄膜厚度测量设备。Filmetrics公司的设备测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm，测量厚度从30A到500um范围。凡是光滑的，透明或半透明的，或是对光有吸收的膜层都可以测量。
F20是Filmetrics公司的标配专用仪器，以其低廉的价格，优越的性能赢得客户的好评，它们在全世界被用于几千种用途。厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样，F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。
不同的F20膜厚测量仪主要是根据波长范围来加以区分的。标准的F20是我们最为普遍的产品。较短的波长，（例如F20-UV），一般用于测量较薄的厚膜，而较长的波长（例如F20-NIR），则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
产品应用：
半导体行业：光阻、氧化物、氮化物
LCD行业：液晶盒间隙厚度、Polyimides
光电镀膜应用：硬化膜、抗反射膜、滤波片
LED行业：用F20来测量透明的蓝宝石上的光刻胶，ITO，多层氧化硅氧化钛等薄膜厚度，该机操作简易，毫秒间就能测量出准确的数据。
具体型号及技术要求欢迎来电咨询。
具体型号及技术要求欢迎来电咨询
联系方式：
苏州诺威特测控科技有限公司
Add：中国苏州市高新技术开发区金枫南路198号
联系人：邹小姐
Tel:18913500435
Fax:
E-mail:info@novtec.hk
http://www.novtec.hk
公众微信推荐：诺威特光伏（novteccs）诺威特汽车（novtecqc）诺威特光电（sznovtec）
| 基本功能 | 1，测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数 2，实现薄膜均匀性检测 3，实现反射、投射以及颜色测量 |
| 产品特点 | l 强大的数据运算处理功能及材料NK数据库； l 简便、易行的可视化测试界面，可根据用户需求设置不同的参数； l 快捷、准确、稳定的参数测试； l 支持多功能配件集成以及定制； l 支持不同水平的用户控制模式； l 支持多功能模拟计算等等。 |
| 系统配置 | l 型号：SR100R l 探测器： 2048像素的CCD线阵列 l 光源：高稳定性、长寿命的卤素灯 l 光传送方式：光纤 l 台架平台：特殊处理铝合金，能够很容易的调节样品重量，200mmx200mm的大小 l 软件： TFProbe 2.2版本的软件 l 通讯接口：USB的通讯接口与计算机相连 l 测量类型：薄膜厚度，反射光谱，折射率 l 电脑硬件要求：P3以上、最低50 MB的空间 l 电源：110–240V AC/50-60Hz，1.5A l 保修：一年的整机及零备件保修 |
| 规格 | l 波长范围：250nm到1100 nm l 光斑尺寸：500μm至5mm l 样品尺寸：200mmx200mm或直径为200mm l 基板尺寸：最多可至50毫米厚 l 测量厚度范围*：2nm～50μm l 测量时间：最快2毫秒 l 精确度*：优于0.5％（通过使用相同的光学常数，让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较） l 重复性误差*：小于1 Ǻ |
| 可选配件项 | l 用于传递和吸收测量的传动夹具（SR100RT) l 最低可测量直径为5µm大小的微光斑(MSP100) l 在多个位置下，多个通道用于同时测量 (SR100xX) l 在超过200或300毫米晶片上所进行的统一测绘（SRM100-200/300） |
| 应用领域 | 主要应用于透光薄膜分析类领域： l 玻璃镀膜领域（LowE、太阳能…） l 半导体制造（PR，Oxide, Nitride…) l 液晶显示（ITO，PR，Cell gap...） l 医学，生物薄膜及材料领域等 l 油墨，矿物学，颜料，调色剂等 l 医药，中间设备 l 光学涂层，TiO2, SiO2, Ta2O5... .. l 半导体化合物 l 在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜 l 非晶体，纳米材料和结晶硅 |