新D8A的特点:1、 采用新一代的陶瓷X光管技术,焦斑位置稳定,衰减小,寿命长;而且该光管为标准尺寸,对用户的限制小;因为采用的是封闭靶技术,后期维护非常方便;2、 全自动可变狭缝,用户可以自由选择固定狭缝大小或固定测量面积模式;3、 高精度立式测角仪,样品水平放置,最小步长及角度重复性皆为0.0001o;测角仪精度保障:国际NIST 刚玉标样用户现场检测,全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01o;4、 林克斯一维阵列探测器:相对与常规探测器强度提高150倍以上,灵敏度提高一个数量级5、 分析软件:好用、功能强,所有参数调整采用动态调整、所见即所得的方式,简单、快捷6、 在薄膜应用上,布鲁克的新D8A衍射仪,采用TWIN-TWIN光路设计,可以同时实现入射及衍射光路上,狭缝到镜子、狭缝到平行光狭缝的自动切换,用户只需在软件上通过下拉菜单选择需要的光学器件即可,解决了以前需要人工置换,重新对光的麻烦;7、 在点光源应用上(包括微区、织构、应力),新D8A采用了TWIST TUBE技术,用户可以直接将光管转90度即刻完成点线光源的切换,而无需拆卸光管。8、 在原位分析应用上,新D8A配备了高低温一体化设计,温度范围-180oC到+1600oC,高低温模块之间的切换只需更换加热模块,而无需更换整个样品台;而且该样品台为高度自动可调样品台,对于不同高度的样品,均能应付自如。
主要特点 促进直径达到 300 mm晶片的分析,并有精密的自动晶片装载选择,X"Pert PRO MRD XL成为薄膜生产发展的的分析手段。 | ||
帕纳科的 X"Pert PRO材料研究衍射系统是X射线衍射研究最灵活的系统,用于: · 材料科学和纳米技术 · 半导体生产过程的计量 可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如: · 振动曲线分析和交互空间图 · 反射仪和薄膜相分析 · 残余应力和织构分析 同已经证明的标准版本系统一样,还有许多专门的版本: · X"Pert PRO MRD平面衍射系统,可以测量与样品表面垂直的晶格衍射 · X"Pert PRO Extended MRD 允许装备 X射线镜像和在线高分辨单色器,增强入射光束的强度。 · X"Pert PRO MRD XL 满足半导体,薄膜和工业材料的所有高分辨XRD分析需要。 |
X射线衍射仪
特点: 1. 进的控制软件和应用软件满足所有物质分析的需要;
2. 高精度的衍射角度测量系统,获取更的分析结果;
3. 高稳定性的X射线发生器和高性的记录控制单元,得到更稳定的重复测量精度;
4. 仪器自动校准,X射线管的训练功能,更易于仪器维护;
5. 结构化设计,程序化操作,使仪器外形美观,操作简便;
6. 射线散射剂量低于1μSv/h,光闸与射线防护设备连锁,避免操作者受射线辐射。
产品信息 |
易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪的新时代!
LabX XRD-6100
MAXima_X XRD-7000
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X射线衍射仪 高辨率衍射仪 衍射分析仪 衍射仪
小型X射线衍射仪
主要特点:无机械误差的德拜-谢乐几何学 ,带有可连接ICDD数据库的软件的计算机控制
技术参数:电源:单相 220±20V(AC),50/60Hz, X-ray管功率:10 W (25kV, 0.4mA),X-ray光斑尺寸:0.2 x 2mm,阳极靶材:Cu,X-ray探测器的曲率半径:114mm,探测的2θ范围:0-55度.角度的分辨率:0.14度,最大计数量:10000次/秒,测量的角度范围(2θ):16度-121度,衍射峰位置的测量精度:±0.02度,
标准包装:外型尺寸:400 x 560 x 300mm,净重:26 Kg.
美国NatX-ray全自动晶体衍射仪G-Rob TM
AMERICAN NATX-RAY AUTOMATIC CRYSTAL ANALYZE SYSTEM
此产品系列是基于6轴机械臂系统而提供的完整的解决方案,采用大量先进的技术,通过X射线、中子及其他类型光束进行样品分析,系统集成了:
* 机械臂、控制器、自动化软件库
* 机械接口、机械工具和工具盒
* X射线源和探测器(需要时可选配)
* 样品环境(光束截捕器、用于居中的显微镜等)
* API、电源箱、计算机
* 安全链、安全空间、防护
* 支撑框架、液体接口
* 高级软件、图形用户界面(GUI)
NatX-ray公司的G-Rob TM系统功能全面,可以自动提取易碎组件,并精确的将样品放到指定位置,以备分析。从冷冻生物样品的低温转移,到X射线晶体测量,NatX-ray公司都具有丰富的经验。
G-RobTM系统独有的特点:
* 定制的解决方案:可集成方案、成套方案、或原系统改造。
* 可扩展功能:大量的功能可选,便于升级改造。
* 很高的灵活性:适应各种恶劣环境
* 开放式:开放的开发平台,供客户开发自己的解决方案
* 性能高:非常高的精准度
一套G-RobTM系统以全自动机器人为本,包含了实现其功能的所有必备工具、软件及配件,G-RobTM全套系统模块化,易于升级改造。
如下展示了G-RobTM系统的主要功能,根据运行特定功能时机械系统的活动范围分类如下:
* 1D功能组:机械臂,作为一个单轴测角仪,适用于“小样品”分析检测,“小样品”是指可以被放置在最后一个物理轴上的样品,并且整个检测过程仅限于此轴,如样品旋转轴。还可增加样品转移功能。
* 2D功能组:机械臂,作为多轴测角仪,适用于 “大样品”分析检测,“大样品”是指除上述描述的“小样品”以外或者在同一个样品架上的多件样品。
* SC功能组:这是一套非常灵活的全自动系统,可以将样品从储存器中转移到移动装置上,如一个测角仪或者一个微盘读取器。此功能可以在任何温度下运行,从低温到室温。
* PH功能组:此系统可以在样品分析过程中,起到固定和夹持设备(如探测器和显示器)的作用。