FT-351锗单晶(棒料、晶片)电阻率测试仪

 FT-351高温四探针电阻率测试系统

一、概述:锗单晶(棒料、晶片)电阻率测试仪

采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具,满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

二、适用行业:锗单晶(棒料、晶片)电阻率测试仪

广泛用于:生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.

三、功能介绍:液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。

测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四、技术参数资料  锗单晶(棒料、晶片)电阻率测试仪

1.方块电阻范围:10-4105Ω/□

2.电阻率范围:10-5×106cm

3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度:±0.1%读数

5.电阻精度:≤0.3%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10. 最高温度: 1200℃可调节;冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C

11、升温速度:9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃;功率:3kw.

12、炉膛材料:采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征。

13.专用测试PC软件一套USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据!

14.选购:电脑和打印机

还有如下相关产品:FT-351高温四探针电阻率测试系统;FT-352导体材料高温电阻率测试系统; FT-353绝缘材料高温表面和体积电阻率测试系统

 

 

该公司产品分类: 多功能密度计 橡胶塑料密度计 黄金密度计 固体密度计 液体密度计 固液体密度测试仪 粉体密度测定仪 水分仪 树脂密度测定仪 干粉灭火剂电绝缘性测试仪 循环冷水机 粗纤维测定仪 索氏提取自动脂肪仪 火焰光度计 凯氏定氮仪 实验电热板 石墨消解仪 体积密度测定仪 固液体密度测试仪 水分测定仪

(PWDS-2300XP)微粒晶片表面沉积系统

                               率微粒表面沉积系统包括进的气溶胶雾化发生、静电分离及沉积技术,用于产生可溯源NISTPSL球及加工过程颗粒沉积在晶片表面的标准晶片,用于研究不同折射稀疏对晶片检测系统的影响并标定检测系统,也可用于评价晶片干法/湿法清洗系统的性能。

 

仪器特点:

l通过DMA技术去处双颗粒、三颗粒及其它杂质颗粒,使之不能沉积在晶片表面

lDMA测量经过温度及压力补偿、使得产生可溯源NISTPSL球标准晶片

l符合CE MarkSEMI S2/S8/S14等亚洲、欧洲及美国规范要求

l通过DMA沉积单一粒径颗粒于晶片表面

l颗粒沉积粒径:

标准单 DMA0.08 – 1.0 µm

可选双DMA0.03 – 3.0 µm

l4个内置超声波雾化发生器产生稳定、高浓度的气溶胶

每个晶片表面可沉积8个沉积点
该公司产品分类: 扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM) 光源/氙灯光源/汞灯光源 激光拉曼光谱(RAMAN) 教学仪器 粉尘测定仪/粉尘仪 粒子计数器 颗粒物采样器 纳米压痕仪、划痕仪 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV 其它 电子/半导体 太阳光模拟器 激光诱导击穿光谱仪(LIBS) 光量子计/光合有效辐射计 光学平台 对色灯箱、标准光源箱 光度仪、雾度仪、光泽度仪 PM2.5/PM10/PM1/TSP大气颗粒物监测仪 PM2.5采样器 激光雷达

D-Think_G02B动物晶片

应用说明: 

玻璃管注射标签是一款可读写的微型RFID标签,体积小,易隐蔽,广泛应用在动物管理领域,例如:珍贵鱼类、狗、猫等宠物管理。也可用于家用及车用智能钥匙柄;电脑或通讯插头座;智能MP3、USB产品;也适用在巡更、门禁、考勤,、头盔帽、酒瓶、药瓶、化装品、电动牙刷、模具、珠宝、筹码……等场合作为RFID智能标识。

 

特点

  • 体积小,重量轻
  • 注射/植入简单
  • 采用生物玻璃封装
  • 读写距离远
  • 表面带有防滑动材料
  • 符合国家标准委员会颁布的GB/T 20563-2006动物射频识别标准

 

用途

  • 猫、狗、实验动物、宠物、金龙鱼
  • 电子产品、名贵木材等物品追溯及防伪

规格参数

 产品编码  D-Think G02 
 芯片类型  可读写
 工作频率(调制方式)  ASK, 134.2 KHz
 协议标准  符合 ISO 11785国际标准,符合 ISO 11784/FDX-B 国际标准
 可写次数  大于 1,000,000 次
 外型尺寸  直径 <= 2mm 长度 <= 8mm
 材料  生化涂层覆盖、生物玻璃,抗菌,抗过敏
 防静电  防止静电击穿,耐压 5000V 以上
 工作温度  -20℃ - 85 ℃
 存储温度  -40℃ - 90 ℃
 工作年限  大于20年
 最大读取范围 *  50-500 mm
 重量  0.07克
 电源需求  不需要

该公司产品分类: 高频RFID读写器 便携式读写器 超高频读写器 RFID高频读卡器 RFID低频读卡器 RFID读写模块 RFID电子标签

(PWDS-2300XP)微粒晶片表面沉积系统

                               率微粒表面沉积系统包括进的气溶胶雾化发生、静电分离及沉积技术,用于产生可溯源NISTPSL球及加工过程颗粒沉积在晶片表面的标准晶片,用于研究不同折射稀疏对晶片检测系统的影响并标定检测系统,也可用于评价晶片干法/湿法清洗系统的性能。

 

仪器特点:

l通过DMA技术去处双颗粒、三颗粒及其它杂质颗粒,使之不能沉积在晶片表面

lDMA测量经过温度及压力补偿、使得产生可溯源NISTPSL球标准晶片

l符合CE MarkSEMI S2/S8/S14等亚洲、欧洲及美国规范要求

l通过DMA沉积单一粒径颗粒于晶片表面

l颗粒沉积粒径:

标准单 DMA0.08 – 1.0 µm

可选双DMA0.03 – 3.0 µm

l4个内置超声波雾化发生器产生稳定、高浓度的气溶胶

每个晶片表面可沉积8个沉积点

SQF-01B全自动石英晶片角度分选机

1、故障率极低、抗干扰能力强、系统稳定性好。

2、全中文人机界面,10英寸TFT触摸屏,界面直观、操作简单。

3、高稳定度高压电源,保证射线稳定输出。

4、采用振动上料,排除人工理片造成的二次污染,大大降低人力资源,实现一人多机操作。

5、晶片方向自动识别,独创四方向旋转扫描,正方形晶片亦可辨向,不同厚度晶片切换无需重新设置放大器,辨向准确率极高。

6、全新的三点式测片台、托台设计,保证晶片测量精度。

7、系统具有管理和统计功能,适用于生产工艺相结合,数据可U盘或本机存贮,亦可打印。

8、机械采用强化设计,结构合理、性能稳定、易于维护,大大保证了测量精度。

9 角度扫描采用进口伺服电机,较步进电机具有精度高、运行平稳、无丢步现象等。

10、独特的下料分选装置,落差低,晶片平稳滑落,有效降低了晶片破损率。分档准确率   100%

11、高稳定的放大器电路设计,解决了零位漂移现象。

12、采用进口LED声光报警,可对设备运行及故障进行实时监控和必要的提示。

13、安全防护:自动光闸(仅在测片时开启),X光箱仓门保护,X光管温度保护,防X射线和防尘的     金属罩壳防护。

14、开机自动预热,自动延时关机,有效地保护X光管、延长使用寿命。

该公司产品分类: x射线设备 x射线检测设备

AC5AP14(Type 3)电化学测试压电石英晶片

 系列:
石英晶体微天平
型号l
AC5AP14
电极材料:
/
标准频率:
5.000MHz
中心频率:
5.003MHz
 晶片直径:
13.67mm
频率公差:
±5KHz@25
晶体切型:
AT-CUT
谐振阻抗:
≤15Ω
工作温度:
25+75
储存温度:
20+85
储存温度:
RH 30%-50%
包装:
  1 /方盒(真空包装)
外型:
双面(如图)

该公司产品分类: 其他 镀银 晶振片 合金 晶振片 镀金 晶振片 晶控配件 石英晶体微天平 晶振片

芯片和硅晶片

                       

 

■ 光 源: |  LED光源新品  |  直接照明  |  间接照明  |  透射照明  |  同轴照明  | 特殊照明  |  电源  |  配件  |

 

1、同轴方式----均匀照明反光工作界面★ LFV2/LFV2-CP/LFV2-5系列它的特点是照明的光线和镜头视角在同一轴向上。它主要用在工件的表面具有高反射特性。(例如金属表面)

应用于:* 芯片和硅晶片的破损检测* 瓶口的裂缝和碎片检测

★ LNV-300系列同轴落射照明用于线形传感器。

应用于:* 检测玻璃的表面伤痕 * 检测PC母板的样式

                       

 

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1、同轴方式----均匀照明反光工作界面★ LFV2/LFV2-CP/LFV2-5系列它的特点是照明的光线和镜头视角在同一轴向上。它主要用在工件的表面具有高反射特性。(例如金属表面)

应用于:* 芯片和硅晶片的破损检测* 瓶口的裂缝和碎片检测

★ LNV-300系列同轴落射照明用于线形传感器。

应用于:* 检测玻璃的表面伤痕 * 检测PC母板的样式

                       

 

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1、同轴方式----均匀照明反光工作界面★ LFV2/LFV2-CP/LFV2-5系列它的特点是照明的光线和镜头视角在同一轴向上。它主要用在工件的表面具有高反射特性。(例如金属表面)

应用于:* 芯片和硅晶片的破损检测* 瓶口的裂缝和碎片检测

★ LNV-300系列同轴落射照明用于线形传感器。

应用于:* 检测玻璃的表面伤痕 * 检测PC母板的样式

                       

 

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1、同轴方式----均匀照明反光工作界面★ LFV2/LFV2-CP/LFV2-5系列它的特点是照明的光线和镜头视角在同一轴向上。它主要用在工件的表面具有高反射特性。(例如金属表面)

应用于:* 芯片和硅晶片的破损检测* 瓶口的裂缝和碎片检测

★ LNV-300系列同轴落射照明用于线形传感器。

应用于:* 检测玻璃的表面伤痕 * 检测PC母板的样式

                       

 

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1、同轴方式----均匀照明反光工作界面★ LFV2/LFV2-CP/LFV2-5系列它的特点是照明的光线和镜头视角在同一轴向上。它主要用在工件的表面具有高反射特性。(例如金属表面)

应用于:* 芯片和硅晶片的破损检测* 瓶口的裂缝和碎片检测

★ LNV-300系列同轴落射照明用于线形传感器。

应用于:* 检测玻璃的表面伤痕 * 检测PC母板的样式

KED17-0.7-10-0.022供应扩晶机,晶片环4寸/6寸/8寸/10寸钨钢吸嘴

晶片环|LED卡环|4、6、7、8吋|固晶环|扩晶机金亿达电子有限公司位于广东省深圳市石岩镇,主营 ASMAD809 892、8930多种主要用于ASM、ITM、WECOM、SUPOWER等自动固晶机和手动、3mil.4mil 5mil.6mil钨钢吸嘴、电木吸嘴4mil,5mil ,6mil,8mil,10mil,12mil,15 mil,18 mil,20 mil,25 mil,30 mil,35 mil,40 mil,60mil等多种规格(长度L=14,17mm);、橡胶吸咀橡胶吸嘴:(高温) :25mil,30mil,40mil,50mil,60mil等多种规格.顶针14/17长10°15°,点胶头,钢嘴,瓷咀,通针,马达,碳刷,编码器,同步皮带、线夹 (Wire Clamp),引线张力器 ( Air Tensioner),可伸缩电缆 ( Flexible Cable),步进马达 (Step Motor),换能器 (Transducer Assy),导线夹(Wire Guides-- New, Repair service)等。GAISER\\SPT\\K&S\\PECO钢咀(wedge Bonding Tools)、瓷咀(Ceramic Capillary),DISCO\\ADT划片机刀片及配件、打火杆 (EFO TIP),扩晶环,日东/3M翻晶膜、A8-4银浆、莹光粉、静电工具、LED支架盒、LED铝船等产品 等。公司秉承“顾客至上,锐意进取”的经营理念,坚持“质量、客户至上”的原则为广大客户提供的服务。欢迎惠顾!

大型开关专用晶片电热器

3. 变频器(VVVF)日本松下电工NAIS,日本三菱MITSUBISHI,日本富士FUJI,日本安川YASKAMA,日本松下电器PANASONIC,瑞士ABB韩国LG,德国西门子SIEMENS,法国施耐德TE。4.传感器(SENSORS)日本欧姆龙OMRON,德国施克SICK,德国倍加福P+F,日本神视SUNX。

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