ST-50A冲击试样缺口投影仪
我公司供应ST-50A冲击试样缺口投影仪，它是一种专用检查仪，利用光学投影方法，将被测件U型或V型轮廓放大投影到投影屏上，能率高精度的检测各种形状复杂的零件的轮廓和表面形状。对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格，（试样缺口深2mm，呈45度角试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口尖端的微小变化（其公差只有0.25mm），都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为了加工出的夏比V型缺口合格，缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。目前用光学投影仪放大检查是切实可行并能检验质量的方法。
我公司供应ST-50A冲击试样缺口投影仪，是根据GB/T229—2007中对冲击试样缺口的要求而设计，开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口和标准样板图对比，以确定被测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
本投影仪是广大冶金﹑锅炉压力容器、车船﹑工程机械以及科研等部门理化实验室的必备专用设备。同时，本仪器还可以用于机械零部件的外形轮廓，纺织物纤维，生物切片分析，工量刀具的检验，仪表元件和半导体元件的投影检测。
ST-50A冲击试验投影仪是根据GB/T229-2007中对冲击试样缺口的要求而开发设计的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。另外，本公司同时提供美标专用检查投影仪。 冲击试样夏比缺口投影检查仪是一种专用检查仪，它利用光学投影方法，将被测件U型或V型轮廓放大投影到投影屏上，与投影屏上U型或V型公差带样板图形相套准进行比较。主要优点：结构简单、操作方便、检测直观、效率高。
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冲击试验投影仪功能用途
该投影仪是为准确检查冲击试样的V型或U型缺口加工质量而设计开发的专用光学仪器。将加工好的试样缺口放大50倍并投影到观察屏上，与刻在观察屏上的标准图板进行比对，即可快速判定检测的冲击试样缺口加工是否合格；对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。
冲击试验投影仪技术参数
1 投影屏 200×200mm
2 放大倍率 50X
3 光源 12V 100W（卤钨灯）
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