1.多达82个采样通道，提高了测试结果的分辨率；全部光电器件制作在同一个硅片上，了光电阵列的使用寿命；交叉扇形排列方式，加大了受光面积，提高了灵敏度；2.微量进样方式，采用蠕动泵的全自动循环进样方式，采用虹吸泵自动循环进样方式，满足不同客户的测试需求,仪器标配MS-01微量进样装置；3.全量程单镜头测量，所有的光学组件都固定在加固的基座上，光学系统出厂前紧固好，使仪器性能更加稳定；4.采用进口半导体激光器，具有使用寿命长，光学参数稳定，不怕振动等一系列优点，连续工作时间长达24个小时，满足用户连续大负荷测试的要求。
1、测试范围（um）：0.15-400 ；（0.4-1100、0.1-450、0.25-650 、0.4-1100）2、重复性：<1%，再现性：<2%，系统误差：<2%；3、激光发生器：半导体激光器 λ=650nm,功率>3mw；4、光学系统：平行光束；5、软件运行环境：Windows95/98/xpista；6、计算机接口：USB2.0；7、电源电压：85-264V/50HZ/60HZ；8、测试原理：激光散射；9、采样通道：82。
适用领域 各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等； 各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等； 其他粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、化工原料、各种乳浊液等
仪器介绍:EyeTech概念
双测量通道的选择 采用独特的激光光阻法进行快速的粒径检测 采用复杂的动态图像分析法精确的分析非球形颗粒 测量结果直接且仅取决于颗粒大小 测量结果不受颗粒或介质的物理和光学性质影响
EyeTech系列特点：
粒度范围：0.1-3600微米 能分析粒度，粒形 与 浓度 测量结果直接与颗粒大小相关，而不是二级推算出来 能分析非球状颗粒的形状 无需了解样品的折射指数 能分析透明的样品 免校正
技术参数:激光和图像通道的结合
独独特的结合了激光光阻法和复杂的动态粒形分析技术 对球形、非球形及延长颗粒的精确分析定性 可同时测量粒径、形状和浓度 多种模块配置可满足不同类型的干法及湿法检测需求 测量过程中可实时观察样品颗粒
激光粒度分析仪/粒度仪
大尺寸光电探测阵列,适用于各种粉体及浆料的粒度测量...
LS900型激光粒度分析仪功能用途测量固体粉末、乳液中的颗粒的粒度分布。
LS900型激光粒度分析仪工作原理利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。
LS900型激光粒度分析仪应用的专利和专有技术一体化激光发射装置、散射光的球面接收技术（DAS）、后向散射光接收技术、双向偏振光补偿技术（DTP）。
LS900型激光粒度分析仪产品特点：1. 不仅采用了LS603所采用的后向散射光探测技术，更增加了双向偏振光补偿专利，进一步提高了大角散射光的测量精度，从而把测量下限扩展到0.05μm，达到世界水平。2. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。
LS900型激光粒度分析仪 技术指标：1. 测试范围：0.05～500μm2. 进样方式：湿法，循环进样器和静态样品池3. 重复性误差：<3%4. 测试时间：1-2分钟5. 独立探测单元数：536. 光源种类：氦-氖激光，功率：2.0 mW，波长：0.6328 μm7. 工作环境：温度：5-35℃，湿度：＜85%
LS900型激光粒度分析仪输出项目粒度分布表、粒度分布曲线、平均粒径、中位径、比表面积等
LS900型激光粒度分析仪测试报告示例
LS900型激光粒度分析仪配置1. 粒度仪主机2. 进样系统：循环进样系统和静态样品池3. 激光粒度仪测试专用软件4. 其他配件
产品简介：
Winner2000是我公司（济南微纳）主力产品，属于湿法通用型激光粒度仪。采用Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路以及分档测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。全内置湿法循环分散系统，彻底解决大颗粒在管道中沉积的难题，独创的无约束拟合数据处理技术与强大的数据处理软件相结合，保证测试结果的真实可靠。
适用范围：
Winner2000广泛应用于水泥、陶瓷、药品、乳液、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、钻井泥浆、磨料、润滑剂、煤粉、泥砂、粉尘、细胞、细菌、食品、添加剂、农药、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土、水煤浆及其他粉状物料。
l Winner2000B：
winner2000B是我公司主力产品,属于湿法通用型激光粒度仪。Winner2000B采用了Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路以及分档测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。全内置湿法循环分散系统，彻底解决大颗粒在管道中沉积的难题，独创的无约束拟合数据处理技术与强大的数据处理软件相结合，保证测试结果的真实可靠。
l Winner2000E ：
winner2000E是我公司最新研制产品，与公司Winner2000相比较采用一档测试，无需换挡操作方便，将通道数由32个扩展到39个，软硬件均做较大改进，测试性能大大提高，对宽分布样品测量结果更为精确，属于湿法通用型激光粒度仪。采用Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路以及分档测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。全内置湿法循环分散系统，彻底解决大颗粒在管道中沉积的难题，独创的无约束拟合数据处理技术与强大的数据处理软件相结合，保证测试结果的真实可靠。
u 主要性能特点：
先进的测试原理：全量程采用Mie氏散射原理及无约束自由反演技术，对任意分布的
颗粒群均可给出真实的结果，有效地提高了仪器的实用性；
最新的专有技术：采用会聚光傅里叶变换专利技术和分档测试（而非分段测试）技术，
不仅克服了透镜孔径对散射角的限制，并能根据测试样品的粒度分布选择合适的档位进
行密级测试，具有极高的分辨能力和准确度；
可靠的分散方式：将超声波分散、机械搅拌、循环通道合理的集于仪器内部，保证颗粒
测试过程中的均匀分散和分布，有效地避免了外置分散系统因管路长而导致的颗粒分布
不均匀、大颗粒沉积等不良现象，从而保证测试结果的代表性。对比重较大的碳化硅、
氮化硅、氧化铝等磨料系列产品测试具有良好的重复性。此外，可针对贵重微量样品选
配10ml微量样品池，降低其测试成本。
独特的软件功能：根据磨料行业的测试要求，配有针对磨料行业的专用软件，具有如下
独特的功能：
1、 为符合磨料行业测试要求，软件中专门加入了数据修正等数据处理模块，能够将测试数据进行智能修正，抑制颗粒形状对粒度测试结果干扰的功能，使多角状的磨料颗粒测试结果与磨料行业以往采用的电阻法测试结果相吻合。测试结果完全符合磨料行业标准，可替代电阻法测试仪器
2、 分析模式：包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求；
3、 统计方式：体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式；
4、 统计比较：可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对样品变化程度的控制具有良好的指导意义；
5、 自定义分析：用户自定义分析参数，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式；
6、 测试报告输出形式：测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果；
7、 多元化的语言界面：支持中英文界面，并可扩展成任何语言的界面。
u 测试准确度符合JIS日本标准或FEPA欧洲标准。
Winner2000 激光粒度分析仪技术参数：
产品参数
| 规格型号 | Winner2000E一档 | Winner2000B三档 | |
| 执行标准 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008；Q/0100JWN001-2013 | ||
| 测试范围 | 0.1-300μm | 0.1-40μm /0.6-120μm/1-300μm | |
| 通道数 | 39 | 32×3 | |
| 准确性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | ||
| 重复性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | ||
| 激光器参数 | 高性能He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>2mW | ||
| 分散方法 | 超声 | 频率：f=40KHz, 功率：p=35W, 时间：0-10min可调 | |
| 搅拌 | 转速：0-300rpm转速可调 | ||
| 循环 | 额定流量：8L/min 额定功率：10W | ||
| 样品池 | 容量：350mL | ||
| 微量样品池 | 容量：10mL（可选） | ||
| 操作模式 | 贴膜键操作 | ||
| 测试速度 | <2min/次 | ||
| 体积 | 680mm×350mm×440mm | ||
| 重量 | 30Kg
| ||
技术优势
1.性价比优势明显：价格低廉、功能完善，能够满足企业的常规要求，是市面上普及率最高的粒度仪产品之一。
2.三档测试技术，分辨率提高：样品分布较窄的用户可选择三档测试技术，缩小测量范围以获得更高的测试分辨率。
3.全内置分散系统：全内置分散系统，整体化控制协调性好，且缩短管路防止大颗粒二次沉淀。
4.无约束自由拟合技术：运用微纳独创的无约束自由拟合技术，粒度分析不受任何函数的限制，可真实反映颗粒的分布状态。
5.先进的光路设计：采用微纳专利的会聚光傅里叶变换光路，有效提高对亚微米颗粒的辨别能力。
DP-02型滴谱仪是专门为雾滴的测量而设计的，可根据应用现场情况改变仪器结构。
用途：测量液体喷雾的粒度分布。
工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。
输出项目：粒度分布表、粒度分布曲线、平均粒径、中位径、比表面积等