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型号:CN61M251813 便携式四探针电阻率测试仪

便携式四探针电阻率测试仪型号:CN61M251813

概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档 10mA量程：0.1～1mA 连续可调 10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流精度：各档均优于±0.1% 适合测量各种厚度的硅片（3）直流数字电压表测量范围：0～199.9mv 灵敏度：100μv 度：0.2%（±2个字）（4）供电电源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5）使用环境：相对湿度≤80% （6）重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210×高100×深240（mm） (7)KD探针头压痕直径：30/50μm 间距：1.00mm 探针合力：8±1N 针材：TC

FT-351供应高温四探针电阻率测试系统

供应高温四探针电阻率测试系统

产品资料

1.方块电阻范围：10^-5～2×10⁵Ω/□

2.电阻率范围：10^-6×10⁶cm

3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.电流精度：±0.1%读数

5.电阻精度：≤0.3%

6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）

10. 最高温度： 1200℃可调节；冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C

11、升温速度：9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃；功率：3kw.

12、炉膛材料：采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征。

13.专用测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！

14.选购：电脑和打印机供应高温四探针电阻率测试系统

采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.

供应高温四探针电阻率测试系统

三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。

测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

供应高温四探针电阻率测试系统

该公司产品分类：超高阻四探针电阻率测试仪超低阻四探针电阻率测试仪表面/体积电阻率测试仪电导率测试仪材料电阻率测试仪电线电缆电阻率测试仪双电四探针电阻率测试仪电压降测试仪系统多功能电压降测试仪线束电压降测试仪插头电压降测试仪高温绝缘电阻率测试仪高温导电材料电阻率测试仪高温四探针电阻率测试仪高温粉末电阻率测试仪电压降测试仪四探针测试仪

FT-351高温四探针电阻率测试系统

一、概述：

采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

二、适用行业：

广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.

三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。

测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四、技术参数资料

1.方块电阻范围：10^-4～2×10⁵Ω/□

2.电阻率范围：10^-5×10⁶cm

3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.电流精度：±0.1%读数

5.电阻精度：≤0.3%

6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）

10. 最高温度： 1200℃可调节；冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C

11、升温速度：9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃；功率：3kw.

12、炉膛材料：采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征。

13.专用测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！

14.选购：电脑和打印机

该公司产品分类：多功能密度计橡胶塑料密度计黄金密度计固体密度计液体密度计固液体密度测试仪粉体密度测定仪水分仪树脂密度测定仪干粉灭火剂电绝缘性测试仪循环冷水机粗纤维测定仪索氏提取自动脂肪仪火焰光度计凯氏定氮仪实验电热板石墨消解仪体积密度测定仪固液体密度测试仪水分测定仪

DL04-KDY-1A便携式四探针电阻率测试仪，便携式四探针电阻率检测仪

便携式四探针电阻率测试仪便携式四探针电阻率检测仪

型号:DL04-KDY-1A

概述

便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。

它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。

为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准级机的水平。

测量范围：

可测量电阻率：0.01～199.9Ω•cm。

可测方块电阻：0.1～1999Ω/口

当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。

（2）恒流源：

输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档

10mA量程：0.1～1mA 连续可调

10mA量程：1mA ～10mA连续可调

恒流精度：各档均优于±0.1%

适合测量各种厚度的硅片

（3）直流数字电压表

测量范围：0～199.9mv

灵敏度：100μv

准确度：0.2%（±2个字）

（4）供电电源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

（5）使用环境：

相对湿度≤80%

（6）重量、体积

重量：2.2 公斤

体积：宽210×高100×深240（mm）

（7）KD探针头

压痕直径：30/50μm

间距：1.00mm

探针合力：8±1N

针材：TC

该公司产品分类：教学仪器照度光谱系列逻辑棒/笔测氡仪氧气检测仪氢气检测报警仪气体检测报警仪熏蒸气体检测仪空气质量检测仪垃圾场气体检测酒精测试仪有毒气体检测仪甲烷检测仪可燃气体检测仪/探测仪复合气体检测仪苯检测仪挥发性有机气体臭氧检测分析仪甲醛检测/分析氧气检测报警仪

北京SN/KDY-1四探针电阻率测试仪工作原理

四探针电阻率测试仪方块电阻测定仪

型号：SN/KDY-1

北京SN/KDY-1四探针电阻率测试仪工作原理是我公司严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。

整套仪器有如下特点：

1、北京SN/KDY-1四探针电阻率测试仪工作原理配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV 输入阻抗：1000ΜΩ 0—9.999mV 灵敏度：1μV 输入阻抗：10ΜΩ 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)

2、北京SN/KDY-1四探针电阻率测试仪工作原理可测电阻率范围：0.001—6000Ω•cm。

3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。

4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之几精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。

5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

6、可加配HQ-710E微处理机及打印机，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。

7、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

KDY-1型四探针电阻率测试仪是我公司严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。

整套仪器有如下特点：

1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV 输入阻抗：1000ΜΩ 0—9.999mV 灵敏度：1μV 输入阻抗：10ΜΩ 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)

2、可测电阻率范围：0.001—6000Ω•cm。

3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。

4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之几精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。

5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

6、可加配HQ-710E微处理机及打印机，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。

7、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

该公司产品分类：测距仪、测速仪硬度计流量计其他行业专用仪器仪表轴承测试仪、轴承加热器汽车行业检测仪位移传感器/位移测量仪水文仪器转速测量仪/转速仪/转速表振动分析仪/测振仪激光测试仪器设备/机械故障检测仪前照灯检测仪行业专用仪器仪表其他物理学仪器反射率仪白度计/白度仪比色计/比色仪/色度仪测色仪/色差计冰点仪/比重计

DT304-WSP四探针电阻率测定仪电阻率测试仪半导体电阻率测试仪

DT304-WSP 四探针电阻率测定仪电阻率测试仪半导体电阻率测试仪

DT304-WSP-6型半导体电阻率测试仪是于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是生产厂家硅料分选测试的理想工具。 1、主要技术指标: 电源：220V交流可测晶片直径（大）Ф100mm,方形230×220mm 恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。数字电压表：量程：0.1～200mV,大分辨率：100μV 电阻率显示：三位半数字显示：小数点、极性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米输入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω 测量精度：±0.1。大电阻测量误差（按JJG508-87进行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。重掺检测误差（JJG508-87进行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1% 测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65% 2、操作程序： 1、首先连好电源，打开后面板电源开关，电源指示灯亮，表示待机完毕。 2、校准设备：厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪，测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一标准样块校准电阻率测试仪 3、测试：用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可， 4校验：在测试过程中要求2小时用标准样块校准一次设备， 3、针组件;维护及注意事项: 1、一般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的更换和针头的清理清洁工作 2、维护后的安装及维护过程中,必须注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑（1234）位置排列。

该公司产品分类：测氡仪氧气检测仪氢气气体检测报警仪气体检测报警仪熏蒸气体检测仪空气质量检测仪垃圾场有毒有害气体测试仪酒精测试仪有毒气体检测仪甲烷检测仪可燃气体检测仪/探测仪复合气体检测仪显微镜苯检测仪挥发性有机气体测试仪臭氧检测分析仪甲醛检测分析仪二氧化硫检测仪检测仪氨气检测仪

FT-351高温四探针电阻率测试仪

产品用途 FT-351高温四探针电阻率测试仪

采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

应用域

高温四探针电阻率测试仪广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.

产品特点高温四探针电阻率测试仪液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；

主要优点采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。

测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.工作原理

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

参数规格高温四探针电阻率测试仪

1.方块电阻范围：10^-4～2×10⁵Ω/□

2.电阻率范围：10^-5×10⁶cm

3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.电流精度：±0.1%读数

5.电阻精度：≤0.3%

6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）

10. 高温度： 1200℃可调节；冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C

11、升温速度：9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃；功率：3kw.

12、炉膛材料：采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征。

13.用测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！

14.选购：电脑和打印机

该公司产品分类：粉体强度测试仪电绝缘性测试仪粒度仪比重计真密度仪密度仪密度计卤素水分仪水分计水分仪水分仪压实密度压实密度测定仪压实密度测试仪电压降测试仪高温电阻率测试仪高阻计绝缘材料电阻率测试仪绝缘材料电阻测试仪表面体积电阻测试仪

HPS2561四探针电阻率测试仪

测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻

四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。

测试参数：电压, 电阻率, 方阻, 电阻

四探针电阻率测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量。

专用四端探针测试线！

该公司产品分类：线束通断测试仪扭力测试仪变压器综合测试仪回路电阻测试仪绝缘电阻测试仪电解电容漏电流测试仪多路电阻测试仪热敏电阻测试仪电感直流偏置电流源电感测试仪电容测试仪直流低电阻测试仪 LCR数字电桥多路温度测试仪