自动抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（cx）。它淘汰了qsi高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

e型介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出

日立高新离子研磨装置im4000（hitachi ion milling system im4000 ）具有断面加工和平面研磨功能的混合仪器！日立高新离子研磨装置im4000（hitachi ion milling system im4000 ）的混合模式带有两种研磨配置：断面加工：将样品断面研磨光滑，便于表面以下结构高分辨成像。

afm5500m是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过sem-afm共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。