探针台所有不同的厂家

探针台产品及厂家

CPS-25-CF-HV-10K低温探针台( Cryogen Probe Stations )

1、低温探针台工作原理：低温探针台可用来测试芯片、晶圆片和封装器件应用领域包括半导体、mems、超导、铁电子学、材料科学以及物理和光学等探针可以施加直流、低频信号或微波信号等（可选一到八探针）高效率连续流低温恒温系统使用液氦或者液氮可使温度控制在3k到475k（可选600k）各类无制冷剂制冷系统（basetemperature:5k,8k,10k等）可施加各类磁场（永磁体、电磁体和超导磁体）

更新时间:2025-12-16

该公司产品分类：迈可诺技术有限公司

LCS-4000系列MicroXact分析探针台配有激光切割系统

lcs-4000系列分析探针台配有激光切割系统带有集成激光切割系统的lcs-4000探针台为用户提供了半导体诊断切割，失效分析，修整，标记和顶层去除的最大灵活性。所有这些功能都可以在微观层面上进行，所有这些都在这一系统上进行，这提供了非常易于使用的高水平性能。

更新时间:2025-12-16

该公司产品分类：迈可诺技术有限公司

SPS系列MicroXact标准半自动探针台

microxact的半自动探针台提供多种选择，包括加热/冷却晶圆卡盘，标准或数字显微镜以及可编程平台分度，为您的所有高效设备表征提供经济高效且易于使用的解决方案。晶圆级可靠性测试需求。这些半自动探针台有三种选择（标准，高精度和高速）。光滑的粉末涂层钢板可容纳多达10个磁性或真空定位器

更新时间:2025-12-16

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SPS-HP系列MicroXact高精度半自动化探针台

sps 2600-hp，sps 2800-hp和sps 12000-hp系列系统是microxact的半自动探针台，设计灵活，易于使用，可用于高效设备表征，晶圆级可靠性测试和故障分析。这些半自动探针台系统设计用于支持最多200mm晶圆的手动和半自动探测。

更新时间:2025-12-16

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SPS-HS系列MicroXact高速半自动化探针台

随着半导体变得越来越小和越来越复杂，有必要更密切地监控和控制生产，特别是在该过程的更上游。使用microxact的半自动探针台进行的晶圆级可靠性测试通过一系列压力测试收集数据，以识别可能影响器件长期可靠性的不规则性。尽管并非总是需要，但在晶片级可靠性测试之后可以进行进一步的和广泛的故障分析。

更新时间:2025-12-16

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SPS手动系列MicroXact手动探针台

sps-1000，sps-2000和sps-2200系统是microxact首要的手动探针台，设计灵活且易于使用。这些手动探针系统的高性能和经济性使它们属于自己的一类。凭借高达200mm的晶圆功能，dc或rf探头和可选的热卡盘以及各种屏蔽选项，我们的探针台可用于广泛的应用，例如故障分析，可靠性测试，iv / cv测试，低目前的测试，微波和射频表征等等。

更新时间:2025-12-16

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