光学测量仪产品及厂家
美associated 耐压测试仪hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot测试仪，用于为电缆、电线、线束和电气元件测试提供高直流输出电压。该产品非常易于使用，并为安全有效的测试提供了各种特性。它有专利smartgfi®操作,它还包括电荷lo®和斜坡嗨®系统。最后，该系统具有远程安全联锁和数控电弧检测系统。
更新时间:2025-07-04
montana 新型超精细多功能无液氦低温光学恒温器完全摆脱了液氦。完全闭循环的制冷系统只需要极少量的氦气即可让系统达到极限低温。系统具有超快降温、超低震动和超高的温度稳定性。全自动化的控制软件，简化了用户的操作流程。
更新时间:2025-07-04
德国attocube磁共振显微镜/低温强磁场磁共振显微镜attocsfm,完美集成了由完全无磁性材料制备的高数值孔径（na）共聚焦显微镜与原子力显微镜来满足odmr实验的需求。
更新时间:2025-07-04
sinton少子寿命测试仪wct-120，suns-voc，硅片少子寿命测试系统，采用了独特的测量和分析技术，包括准稳定态光电导(qsspc)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。
更新时间:2025-07-04
美az 总辐射度/太阳能吸收率(tesa)便携式反射计 tesa 2000，根据astm e408测定热发射率和空气质量为零时的太阳吸收率(空间应用)。它紧凑，轻巧，坚固耐用，符合人体工程学设计，便于在野外或实验室中使用。
更新时间:2025-07-04
日本rion气体粒子计数器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒径范围（2个通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子数浓度：1 200 颗/l （误差值低于5%）
更新时间:2025-07-04
日本rion 液体光学颗粒度仪：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子数浓度：1 200 颗/l （误差值低于5%）, 粒径范围（5个通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新时间:2025-07-04
日本rion 液体光学颗粒度仪：ks-17b ( 光散射法）,纯水用，大粒子数浓度：100 000 颗/ml （误差值低于5%），粒径范围（2个通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工厂定制）
更新时间:2025-07-04
日本理音rion液体光学颗粒度仪ks-19f，宽广的测试范围，可测试 0.03~0.13um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-07-04
日本rion粒子计数器kc-24 ( 光散射法）,液体粒子计数器，可检测从纯水到氢氟酸各种各样的液体。可测 0.1um 空气颗粒度仪kc-24
更新时间:2025-07-04
日本rion液体光学颗粒度仪ks-41a ( 光阻用），可检测光阻产品、sog 等产品中 0.15um 的颗粒。粒径范围（4个通道，出厂默认）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新时间:2025-07-04
日本rion 液体光学颗粒度仪：ks-18f ( 光散射法）液体光学颗粒度仪 ks-18f宽广的测试范围，可测试 0.05~0.2um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。 可侦测到小粒径 0.05um 的粒子
更新时间:2025-07-04
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42a&42af ( 光散射法）,可测试 0.1~0.5um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-07-04
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42b/42bf ( 光散射法）,宽广的测试范围，可测试 0.2~2.0um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-07-04
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42c ( 光散射法）,宽广的测试范围，可测试 0.5~20um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-07-04
日本rion粒子计数器kc-01e ( 光散射法）,液体粒子计数器，测试粒径（5个通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新时间:2025-07-04
日本rion粒子计数器kc-03b ( 光散射法）,测试粒径（5个通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新时间:2025-07-04
fr-mini 是一款紧凑型装置，专为大学教育和研究实验室设计，用于快速、准确和无损地表征各种不同的涂层。使用 fr-mini，用户还可以在较宽的光谱范围内轻松进行反射率和/或透射率测量。
更新时间:2025-07-04
fr-scanner 是一款紧凑的台式测量工具，全自动测绘涂层的厚度，基底适用于晶圆，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和准确地测量薄膜特性，比如厚度，折射系数，均匀性，色度等，真空吸盘可应用于任何直径或其它形状的样品。
更新时间:2025-07-04
布鲁克 dektakxt 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达 5å。第十代 dektakxt台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学域。
更新时间:2025-07-04
日本rion液体光学颗粒度仪ks-19f,宽广的测试范围，可测试 0.03~0.13um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:2025-07-04
ftpadv 台式薄膜探针反射仪台式薄膜探针反射仪ftpadv，ftpadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案，它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量，其精度低于0.3nm，膜厚范围在50 nm -25 μm。为了便于分光反射测量操作，该仪器包括了范围广泛的预定配方。
更新时间:2025-07-04
ftpadv expert 综合薄膜测量软件，光谱反射测量软件ftpadv expert是专门为测量和分析r(λ)和t(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析，这些参数都被加载到sentech光谱反射测量软件中，使得能够根据cauchy色散、drude振荡给出的参数描述和拟合材料。
更新时间:2025-07-04
mdpinline 光伏测量仪器，一秒内完成正片晶片扫描。mdpinline是为高速自动扫描硅晶片而设计的，它以每片不到一秒的时间记录少子寿命的全部形貌。利用微波检测光电导率定量测量少子寿命。凭借其紧凑的设计，mdpinline可以灵活地集成在传送带上或晶片分选系统中。
更新时间:2025-07-04
mdpinline ingot 光伏测量仪器，多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面，以1毫米的分辨率，无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动，以便测量所有的四个侧面。
更新时间:2025-07-04
mdpinline ingot 光伏测量仪器，多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面，以1毫米的分辨率，无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动，以便测量所有的四个侧面。
更新时间:2025-07-04
德国sentech激动扫描系统mdppro,少子寿命测量仪器的特征在于以1mm分辨率对500mm的一个面在不到4分钟内完成扫描。电阻率和少子寿命的测量完全无触摸。利用微波检测光电导率(mdp)同时测量少子寿命、光电导率、电阻率和p/n导电类型的变化。
更新时间:2025-07-04
sensol是sentech光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用sensol，可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性，从而可以显著减少仪器维护后重新开始生产的时间。
更新时间:2025-07-04
senperc pv 是perc电池制造质量控制的创新解决方案。senperc pv 测量al2o3/sinx堆叠层和用于钝化perc电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此，可以优化维护时间间隔。
更新时间:2025-07-04
德国sentech光伏测量仪器mdpspot，具有成本效益的台式少子寿命测试仪mdpspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。 低成本桌面式寿命测量系统，用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。
更新时间:2025-07-04
薄膜反射和透射的在线监测系统 rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是rt inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作为内部参考测量。利用ftpadv expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。
更新时间:2025-07-04
sentech ald实时监测仪是一种新型的光学诊断工具，是心灵超高分辨率的单一ald循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率，厚度，折射率)，在短时间内开发新工艺、实时研究ald循环中的反应机理是sentech ald实时监测仪的主要应用。
更新时间:2025-07-04
德国optosol r1 涂层吸收率发射率检测仪，用于测量管状或平面太阳能吸收涂层的定向热发射度，其基础是测量来自扩展热源的红外辐射的反射率操作温度:70 - 90°c
更新时间:2025-07-04
德optosol-k3 太阳能吸收率发射率检测仪，k3型发射率检测仪由一个被加热到70℃的发光体（作为热辐射源）和三个对波长在8-14μm范围的光线敏感的探测器组成。 来自发光体的辐射均匀分布在用作漫射辐射源的积分球内。检测器以与样品表面法线成12°的角度安装。被测量的是由样品反射回来的辐射。
更新时间:2025-07-04
optosol absorber control k1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪，
更新时间:2025-07-04
trisol aaa美国oai标准太阳能模拟器，低成本，标准太阳模拟器提供高度准直，均匀的光，几乎任何材料或产品暴露在阳光下长时间或短时间的基本测试。根据配置，这些太阳能模拟器的输出功率为350w-5,000w。
更新时间:2025-07-04
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美国oai太阳能模拟器，这些模拟器,取决于配置、输出额定350 w -5000 w。oai 3 a太阳模拟器可以提供一个范围的空气质量过滤器复制太阳能模拟太阳的光谱。目的探明oai透镜和镜像技术可以使一个广泛的接触区域。
更新时间:2025-07-04
美国 d&s 发射率测量仪 ae1/rd1，是专门针对测量物体的辐射率设计的，ae1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件ae-ad1和ae-ad3探测头能使测量样品最小直径为1.0英（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。
更新时间:2025-07-04
美国sonix 晶圆检测设备 autowafe pro.为全自动晶圆检测设计的机型，主要应用在bond wafer，mems 内部空洞、离层检测，tsv量测方面。
更新时间:2025-07-04
美国泰克tek keithley半导体参数分析仪4200a-scs ，加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。
更新时间:2025-07-04
瑞士nanosurf 原子力显微镜coreafm ，非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, coreafm非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能.
更新时间:2025-07-04
韩国ecopia霍尔效应测量系统hms3000，hms5000，用于研究半导体材料/光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
更新时间:2025-07-04
美国 mmr 霍尔效应测量系统 h5000，用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。
更新时间:2025-07-04
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