光学测量仪产品及厂家
ecr900医用内窥镜光学性能检测仪依据“yy 0068.1-2008 “医用内窥镜 硬性内窥镜 第1部分：光学性能及测试方法”标准的测试要求，用于腹腔镜、气管镜等多种常用内窥镜的光学性能测试。适用于内窥镜生产制造厂商对于产品的品控与设计验证，检测机构对于内窥镜产品的质检和监督，科研院所对于内窥镜的科学研究。
更新时间:2025-12-16
yy1081-2011西安信捷clt800医用内窥镜冷光源检测系统产品设计依据医药行业标准《yy 1081—2011医用内窥镜 内窥镜供给装置 冷光源》,主要用于
更新时间:2025-12-16
西安信捷ecr900医用内窥镜光学性能检测装置是我公司依据标准yy0068.1-2008和yy1298-2016研发设计的一款用于检测医用内窥镜光学成像性能的高精度、高效率、多功能、全自动的检测仪器。
更新时间:2025-12-16
西安航天基地信捷iem300红光治疗仪检测设备光谱测试系统依据标准yy/t1496-2016、yy0669-2008和yy0901-2013,是一款为光谱治疗设备如红光治疗设备、婴儿光治疗设备、紫外治疗等设备光学性能评估而设计的一款检测设备。
更新时间:2025-12-16
全自动激光检测分析仪符合标准《iec60825-1:2007》《gb7247.1-2012》《gb9706.20-2000》,用于医疗器械中医用激光得分类检测、激光辐射检测、伴随辐射检测、允许照射量检测、辐射量检测等。采用触摸屏控制和计算机软件双操作平台，两者可兼容操作也可独立操作。
更新时间:2025-12-16
1、设备的用途：设备中发光源的激光辐射类别检测、辐射量、伴随辐射等参数的检测；2、依据的行业标准：《gb7247.1-2012》、《iec60825-1：2007》
更新时间:2025-12-16
1、满足标准：《yy 1081—2011医用内窥镜 内窥镜供给装置 冷光源》；2、设备用途：内窥镜供给装置冷光源检测。
更新时间:2025-12-16
满足标准：这是一款根据标准yy0843-2011研发生产的一款用于测试气腹机气压、流量、显示耗气量准确性等性能的标准检测设备。
更新时间:2025-12-16
满足标准：该设备是根据yy/t 0113《牙科学 复合树脂耐磨耗性能测试方法》标准要求设计的。设备用途：用于检测牙科复合树脂材料的磨耗性能。
更新时间:2025-12-16
该设备是对医用内窥镜光学性能进行检测的设备，是西安信捷依据标准《yy 0068.1—2008》研发设计生产的。
更新时间:2025-12-16
yy0763标准医用内窥镜检测装置的检测功能：1.内窥镜光缆出光角测试2.光谱透过率测定3.光能传递效率测定4.扭转试验5.短暂压扁试验6.拉伸试验
更新时间:2025-12-16
灯和灯系统光生物安全检测设备是西安信捷智能检测科技有限公司依据行业标准《iec 62471:2006 灯和灯系统的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 灯和灯系统的光生物安全性》研发设计的。
更新时间:2025-12-16
无影灯光色测试仪是依据标准yy 9706.241-2020医用电气设备 第2-41部分: 手术无影灯和诊断用照明灯的基本安全和基本性能用要求研发设计的。
更新时间:2025-12-16
ns500中空玻璃空气层厚度测量仪测试原理是利用光学反射原理，可在玻璃的单侧表面测量玻璃厚度，尤其适用于通用测量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的测量场合，如玻璃瓶壁厚和建筑夹层玻璃（中空玻璃）窗厚度的测量。对于空气夹层玻璃的测量，还可以同时获得两层玻璃及中间空气层的厚度。
更新时间:2025-12-16
数码管显示处理器介绍1）点、线、圆、角度、距离、矩形和螺纹等图形元素的测量、预置和构造2）座标摆正和座标平移，方便摆正工件，减少调整时间3）三轴的显示值4）rs232输出功能（可打印）5）多种座标显示方式，极座标和直角座标、inc座标和abs座标公制和英制6）对光栅尺可进行线性补偿或区段线性补偿7）z轴可接光栅尺或旋转编码器
更新时间:2025-12-16
电线电缆测量投影仪，绝缘护套测量仪是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器，适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,机械、电子、仪表、塑胶等行业广泛使用，符合gb/t2951.1《电缆绝缘和护套材料通用方法》标准要求。
更新时间:2025-12-16
线缆检测用投影仪，轮廓检测投影仪，绝缘护套检测投影仪被测工件y置于工作台上,在透射反射照明下,它由物镜0成放大实像y′(倒像)并经光镜m1与m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新时间:2025-12-16
低倍测量投影仪，线缆光学投影仪，数字式电缆测量投影仪被测工件y置于工作台上,在透射反射照明下,它由物镜0成放大实像y′(倒像)并经光镜m1与m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新时间:2025-12-16
工业测量投影仪是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器。测量投影仪被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶、弹簧五金、建材、轻工等各行各业以及院校、研究所、计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。测量投影仪高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。
更新时间:2025-12-16
测量投影仪是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器。测量投影仪被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶、弹簧五金、建材、轻工等各行各业以及院校、研究所、计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。测量投影仪高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。
更新时间:2025-12-16
轮廓测量投影仪参数，哪里有测量线缆绝缘层投影仪，优惠的测量投影仪是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器。测量投影仪被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶、弹簧五金、建材、轻工等各行各业以及院校、研究所、计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。测量投影仪高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。
更新时间:2025-12-16
绝缘护套测量投影仪，电缆外被测量投影仪，300测量投影仪是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器。测量投影仪被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶、弹簧五金、建材、轻工等各行各业以及院校、研究所、计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。测量投影仪高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。
更新时间:2025-12-16
一键闪测仪ivs系列国产闪测仪闪测仪广泛应用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等。
更新时间:2025-12-16
rlk650 pro便携式红外发射率测量仪，是新型的光电测量仪器。其基于定向半球反射比（dhr）测量原理，完成双波段（3-5um和8-14um）发射率/反射率的测量，测量结果保存仪器内存中，可下载至sd卡。其采用一体化便携式手持设计，触摸屏操作，具有检测速度快、精度高、体积小、重量轻、操作简便等优点。广泛应用于材料表面红外发射率的测量、材料研究，是现代科研与军事研究不可或缺的光电测量仪器。
更新时间:2025-12-16
产品具备快速加热、高精度和移动式设计等显著优势。相比国外同级别设备体积庞大、需专用空间的痛点，kf-h3000 采用立体滚轮设计，在保持同等高强性能的同时，大幅缩减空间占用，使用更灵活高效。
更新时间:2025-12-16
hy-ml系列超低温面源黑体为真空环境适用的面源黑体产品，其温度控制采用薄膜型加热器件，主动降温则通过液氮或低温循环氦气实现。搭配自主研发的温度控制系统后，能够在较宽的温度区间内(150k~450k,低温均可扩展至40k)实现调控。该面源黑体具有温度均匀性好、发射率高的特点，同时集成化与标准化程度较高，可应用于实验室及真空低温环境下红外成像器的辐射定标和非均匀性校正工作。
更新时间:2025-12-16
hy-mh系列中温面源黑体采用薄膜型加热器件驱动温度，搭配自主研发的温度控制系统，实现宽温范围的精确调控。该设备兼具高均匀性、高发射率、高集成度与标准化程度，采购成本更具优势，适用于实验室与外场等多种场景下的红外成像器辐射定标及非均匀性校正工作。
更新时间:2025-12-16
半球发射率测量仪 ae1/ rd1 是用于测量发射率的专用仪器。符合《astm c1371》、《jg_t 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《gbt 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家标准，是建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必需品。
更新时间:2025-12-16
半球发射率测量仪ae1 rd1是用于测量发射率的用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。
更新时间:2025-12-16
半球发射率测量仪ae1 rd1是用于测量发射率的用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。
更新时间:2025-12-16
半球发射率测量仪ae1 rd1是用于测量发射率的用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。
更新时间:2025-12-16
qf 系列高温黑体校准源覆盖 100℃ 至 1500℃ 温度范围，采用 25.4mm 孔径封闭管腔设计。qf-1500 黑体校准源硅钼棒便于更换，维护便捷的特点使其适用于实验室及工业领域的高温校准需求。
更新时间:2025-12-16
t-r系列专为低温至105摄氏度的市场设计，其温度范围甚至可低于零下70摄氏度。该系列的高精度和易用性使其成为实验室和工业应用中理想的温度校准工具。
更新时间:2025-12-16
sw-dt-r 系列低温黑体校准源覆盖-30°c至150°c宽广温区，为低温至中温校准场景提供支持。
更新时间:2025-12-16
hy-ms系列超精密面源黑体可输出标准红外辐射，为红外成像器的地面辐射定标试验与性能测试提供稳定基准。该系列采用tec温度驱动方式，搭配自主研发的温度控制系统，实现宽温范围内的精确调控。凭借高发射率、高均匀性与高控温精度的特性，hy-ms 系列超精密面源黑体能够满足实验室、外场等多种场景下，红外成像器辐射定标与非均匀性校正的应用需求。
更新时间:2025-12-16
hy-mq系列高温面源黑体作为一直高辐射强度的参考源，设备支持环境温度+5℃~550℃的绝对温度调节，辐射面具备高均匀度与高发射率特点，温度分辨率达0.01k，且能在20℃~70℃的环境下稳定运行，广泛应用于红外传感器如辐射温度计、红外热像仪的校准以及样品辐射率或透过率的测量。
更新时间:2025-12-16
beamwatch integrated自动激光测量仪用于自动化制造的光束表征系统 实时自动测量激光功率、焦散和焦点偏移支持单模激光器全自动操作带有好/坏信号的趋势分析带有时间戳的详细报告无需更改测量系统即可使用不同类型的焊头坚固耐用，适用于工业生产环境轮班操作中频繁测量的短测量时间
更新时间:2025-12-15
公司于高速智能制造，从事光学精密测量仪器及视觉检测领域的技术研发、设备制造和工程实施。业务涵盖新能源，电动汽车、半导体/led、智能家居、电子产品、精密五金模具等领域，提供精密制造测量仪器及视觉检测设备、机器人等智能装备整体解决方案提供商
更新时间:2025-12-15
nir100近红外光谱仪nir100红外光谱仪具有高灵敏度和紧凑型设计 ，可在780-1700 nm光谱范围内与多种光源配合使用。其精密工程设计、无移 动部件以及非制冷线性ingaas传感器的特点 ，使其成为各种光谱应用的理想选择 ，且无需长期信号存储。
更新时间:2025-12-15
fs70l-th 用于半导体检测显微镜 (1x管镜头 tv接口激光)应用：切割、修整、校正、 给半导体电路做标记薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。? 可用于红外光学系统*。
更新时间:2025-12-15
int10-m迈克尔逊 plx 单片干涉仪(中红外 ftir 光谱仪组件)产品应用中红外光谱分析仪
更新时间:2025-12-15
bladecam2-hr-1310 cmos基础型光斑分析仪相机 355-1350nm 产品应用连续激光的光束分析激光和激光系统的现场测试光学组装和仪器校准光束漂移和记录使用 m2du 平台测量 m?
更新时间:2025-12-15
snake 是新一代的vga格式的ingaas近红外相机，具有即插即用能力。工作在900-1700nm的swir光谱范围，该红外相机具有出色的性能，在灵敏度，噪声，暗电流和操作方便性都具有非常高的优势。该相机提供了oem版本，集成模块化接口设计，易于集成于用户的系统中，同时可提供数据处理能力。可应用于高光谱仪器，激光束分析，半导体检测，生物医学研究和国防等。
更新时间:2025-12-15
asp-75微型高精度光谱仪占地面积小，重量为300克。该设计的简单性允许将宽光谱范围和高分辨率与超过紧凑尺寸相结合。asp-75微型高精度光谱仪可用于各种空间要求苛刻的应用，也可用于任何设备的oem集成。该装置具有特殊的光纤输入和光谱狭缝，光纤狭缝的大小由探测器调节。它允许测量自由空间或光纤信号而无需任何重新对准。但是，由于光纤中信号调制和随后的频谱失真，不建议使用光纤测量飞秒激光的频谱。
更新时间:2025-12-15
thz，太赫兹，近场探针，太赫探测，thz near-field optical probe，太赫兹近场探测，太赫兹近场探针，thz近场探测，thz探针，thz近场探针
更新时间:2025-12-15
从当下主流的机械硬盘，到未来的磁性存储单元，磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。 相较于电学霍尔测量和震动磁强计，光磁克尔效应具有测量速度快，精度高，非侵入，且不需要对样品进行加工或切
更新时间:2025-12-15
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