原子力显微镜(AFM)产品及厂家

多功能扫描探针显微镜(SPM)-原子力显微镜(AFM)平台
ntegra平台是一个革命性的技术概念,在拥有所有spm技术:原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时,还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能!。prima则是这个平台中的基础spm,可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中spm 功能,其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。
更新时间:2025-10-14
扫描探针显微镜(SPM)-原子力显微镜(AFM)-近场光学显微镜(SNOM)--共聚焦拉曼光谱(Confocal Raman)联用系统
ntegra spectra - afm / confocal raman & fluorescence / snom / ters 它将原子力显微镜、扫描近场光学显微镜,激光共聚焦显微镜、荧光光谱和拉曼光谱等各种分析手段完美地结合到一起。借助于针尖增强拉曼散射效应(ters),其拉曼散射光谱和图像测量的分辨率达到了50
更新时间:2025-10-14
NT-MDT Solver Next 原子力显微镜
在过去,你必须花费相当长的一段时间并且具备相当丰富的经验才能通过操作一台扫描探针显微镜获得好的实验结果。 然而当你选择了solver next™之后,那些繁琐的培训几乎是不需要的。对,你没有看错!它是一台任何人都能操作的spm!
更新时间:2025-10-14
nGauge 便携式原子力显微镜
gauge原子力显微镜作为世界上第一台单芯片(single-chip)afm,是加拿大滑铁卢大学(darpa联合项目)近十年的研发成果。single-chip技术通过cmosmems工艺将afm的所有组件(精细xyz运动和纳米级感测)集成到单个1mm x 1 mm的芯片
更新时间:2025-10-14
NX10 高精度原子力显微镜
park nx10 为您带来纳米分辨率的数据,值得您信赖、使用和拥有。 在 smartscan auto 有的智能模式下,系统自动执行所有必要的成像操作,同时智能选择好的图像质量和扫描速度。这是通过park的技术才得以实现的。它不仅可以为您节省时间和金钱,还可以给您带来优质的研究结果。
更新时间:2025-10-14
扫描探针显微镜SPM 原子力显微镜AFM 纳米表面形貌粗糙观测
原子力显微镜,纳米表面形貌观测,非固定配置,任选组合,满足任意需求。
更新时间:2025-10-14
透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1
lumina at1可以在4分钟内完成150毫米晶圆的扫描,对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。大样品300 x 300 mm。
更新时间:2025-10-14
透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2
lumina at2可以在3分钟内完成300毫米晶圆的扫描,对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。大样品300 x 300 mm。
更新时间:2025-10-14
透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2-EFEM
lumina at2-efem可以在2分钟内完成300毫米晶圆的扫描,对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。大样品300 x 300 mm。
更新时间:2025-10-14
Film sense薄膜厚度椭偏仪
film sense 多波长椭偏仪通过简单的 1 测量,可以以高的精度和精度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率并对许多样品进行光学常数 n&k 等薄膜性质的测量。多波长椭偏仪提供了强大的薄膜测量功能售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。film sense 偏仪非常适合在研究实验室教室,现场处理室,工业质量控制等等。
更新时间:2025-10-14
KLA探针式表面轮廓仪
kla是全球半导体在线检测设备市场大的供应商,在半导体、数据存储、mems、 太阳能、光电子以及其他域中有着高的市占率。alpha-step" 探针式轮廓仪支持合阶高度和粗度的2d及3d(d-600)轮廓扫描,以及翘曲度和应力的2d测量。创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。
更新时间:2025-10-14
KLA探针式表面轮廓仪P-7
kla是全球半导体在线检测设备市场的供应商,在半导体、数据存储、mems、太阳能、光电子以及其他域中有着高的市占率。p-7是kla公司的第八代探针式台阶仪系统,历经技术积累和不断迭代更新,集合众多技术优势。p-7建立在市场先的p-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了p-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了高的性价比。p-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进
更新时间:2025-10-14
F50薄膜厚度均匀性测量仪
依靠f50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。f50系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。
更新时间:2025-10-14
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,f20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过usb连接电脑,设备就可以在数内得到测量结果。基于某模块化设计的特点,f20适用于各种应用。
更新时间:2025-10-14
Zygo ZeGage ProHR桌面式光学轮廓测量仪
zygo zegage pro光学轮廓仪是用于3d形貌定量测试,和精密机械表面粗糙度检测的理想非接触式检测工具。它工业化的设计提供快速,精确的测量方案,并且外形紧凑、性价比高,能够放在生产车间工作,而不需要振动隔离和特殊的隔离装置。同时交互式的控制软件mx 提供了简单而精细的图形图像来帮助你的加工处理。
更新时间:2025-10-14
Zygo NewView  9000 3D 光学轮廓仪
zygo newview 9000 3d 光学轮廓仪提供了强大的非接触式光学表面分析的多功能性。它可以容易和快速地测量各种表面类型,包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样品制备的。系统的核心是 zygo 相干扫描干涉技术(csi),提供了所有放大倍数下亚纳米的精度,并且能够快速测试各种样品表面。
更新时间:2025-10-14
Dimension系列大样品台原子力显微镜
bruker dimension® icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米域的研究者带来了全新的afm应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以上应用广泛的af
更新时间:2025-10-14
verifire激光干涉仪
zygo致力于保护您在verifire干涉仪的长寿命期间的投资。 在全球安装了数千套系统,没有其他计量公司接近zygo的产品质量和客户满意度记录。质量多功能性和生产力大化您的投资zygo公司:光学计量的导者•我们保证verifire系统和组件作为完整解决方案的一部分,符合我们的iso 9001注册设施
更新时间:2025-10-14
布鲁克Bruker(原veeco)生物AFm—Resolve
布鲁克公司的bioscope resolve™生物原子力显微镜与倒置光学显微镜联用,实现了高分辨的原子力显微镜成像和完整的细胞力学性质测量。
更新时间:2025-10-14
布鲁克Bruker(原veeco)大样品台高性价比AFM—-Edge
dimension® edge™ 原子力显微镜采用新技术, 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于高水平。基于顶的dimension icon®平台, dimension edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点.
更新时间:2025-10-14
布鲁克Bruker(原veeco)最高端AFm—Fastscan
dimension fastscantm原子力显微镜(atomic force microscope,afm),在不损失dimension  icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了afm成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的afm用户获得数据的时间。
更新时间:2025-10-14
布鲁克Bruker(原veeco)性能AFm—Icon
dimension icon是dimension系列产品中的新款设备,它基于上应用广泛的afm平台,集合了数十年的技术创新、行业内先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计,在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。
更新时间:2025-10-14
布鲁克Bruker(原veeco)高分辨率SPM-MultiMode8
multimode8-高分辨率spm,纳米材料、高分子材料得力的科研助手1. 上高的分辨率2. 出众的扫描能力3. 优异的可操作性4. 非凡的灵活性与功能性5. 无限的应用扩展性
更新时间:2025-10-14
轻敲模式常用探针TESPA-V2
一包10根高质量硅蚀刻探针,用于tappingmode™和其他非接触模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探针的改进版本。 布鲁克的新系列tesp高品质优质蚀刻硅探针为tappingmode™和空气中的非接触模式设定了行业标准。
更新时间:2025-10-14
布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针轻敲模式OLTESPA-R3
更易定位,更适合如按样品。此型号为布鲁克贴标产品,同型号奥林巴斯omcl-ac240ts-r3 探针。悬臂共振频率:70(50~90) khz(空气中),弹性系数:2 n/m。针尖曲率半径:7nm(典型值)al涂层。
更新时间:2025-10-14
上海彦祥电子6800原子力显微镜
原子力显微镜应用:其应用范围十分广泛,利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。可测样品有:薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。应用行业:高校(理工类)实验室、科研机构、工业检测部门。
更新时间:2025-10-14
上海彦祥电子1000型原子力显微镜
1000型原子力显微镜应用:其应用范围十分广泛,利用原子力显微镜可以轻松得到样品的表面观察、尺寸测定、表面粗糙度、表面颗粒度分析、表面电势梯度和电荷分布、表面磁畴、生物细胞的表面结构等。可测样品有:薄膜、纳米陶瓷、石墨烯、复合材料、纳米复合材料、玻璃、硅片、共聚物、电池材料、半导体材料、纳米纤维、蛋白质、纳米粉体等。应用行业:高校(理工类)实验室、科研机构、公安刑侦和工业检测部门。
更新时间:2025-10-14
DI Multimode V
multimode v spm 是世界销量最好的扫描探针显微镜。它能够提供全部的原子力显微镜 (afm) 和扫描隧道 (stm) 显微镜成像技术,可以测量样品的表面特性,如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力和磁/电场分布等等。样品和探针之间的简略机械设计确保了系统的最高的扫描速率和最大的准确性。
更新时间:2025-10-13
Dimension Edge
dimension® edge 原子力显微镜采用最新技术, 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。dimension系列中性价比最高的闭环扫描原子力显微镜,专利的传感器设计显著地降低噪音和 漂移,既获得了闭环的精度,又具有开环的噪音水平,在大样品台afm上实现 了小样品台afm的成像性能。
更新时间:2025-10-13
Dimension Icon
bruker dimension® icon 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的afm应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的afm大样品平台为 基础,齐集 dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,
更新时间:2025-10-13
Dimension FastScan
dimension fastscan 原子力显微镜 (afm)在不损失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了afm成像速度慢的难题,大大缩短了各 技术水平的afm用户获得数据的时间。
更新时间:2025-10-13
原子力显微镜 悬臂反射原子力显微镜 探针原子力显微镜出租
原子力显微镜(atomic force microscopy)是种以物理学原理为基础,通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。般原子力显微镜利用探针对样品扫描,探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光,后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。
更新时间:2025-10-13
日本RIBM 超高速视频级原子力显微镜
日本ribm hs-afm超高速视频级原子力显微镜,突破了 “扫描成像速慢”的限制,扫描速度最高可达 20 frame/s,并且有 4 种扫描台可供选择。样品无需特殊固定染色,不影响生物分子的活性,尤其适用于生物大分子互作动态观测。液体环境下直接检测,超快速动态成像,分辨率为纳米水平。
更新时间:2025-10-11
百及纳米ParcanNano原子力显微镜(快捷型)
百及纳米parcannano 高速原子力显微镜afm(快捷型),是公司开发的一款颠覆性的新型afm系统。它使用主动式智能针尖,集传感器、驱动器和可功能化的针尖于一身,实现自激发和自传感,无需复杂的激光校准,是取代现有afm激光传感的巨大改进。该系统可在大气、液态及真空环境下实现对微纳米结构的高速、高效表征,成像精度达到0.2纳米的限精度。
更新时间:2025-10-11
拉曼原子力显微镜系统
alpha300 ra –在一个系统里面集成化学成分分析和纳米级别的结构成像alpha300 ra 是市场上首个高度集成的拉曼原子力显微镜系统,可以在标准的alpha 300r共聚焦拉曼系统上通过标准模块升级即可完成拉曼原子力系统联用,获得原位的afm和raman图像的叠加。alpha300 ra 独特的设计理念使联用系统既保留300r强大的化学组分分析能力,同时加入微纳级别的表面形貌等特性的分析能力,使研究者能对样品进行深度完善的分析和理解。
更新时间:2025-10-10
全新发布的 afm-in-phenom xl 结合了扫描电子显微镜 (sem) 和原子力显微镜 (afm) 的优势,实现了在同一系统中对样品进行多模态(sem 及 afm 形貌、元素、机械、电学、磁学)关联分析。
更新时间:2025-10-09
AFM-SEM 同步联用技术(通用版)
sem 与 afm 是亚纳米样品分析中应用广泛且互补的两大技术。将 afm 集成至 sem 中可融合两者的优势,实现超高效工作流程,完成传统 afm 和 sem 难以或无法实现的限性能和复杂样品分析。
更新时间:2025-10-09
日立高新全新的原子力显微镜
2016年,日立高新全新的原子力显微镜—afm5500m,此产品精确的测试水准,优异的自动化体验为人类纳米尺度的探索与研究提供了完美的解决方案。
更新时间:2025-09-28
日立环境可控型原子力显微镜
afm 5300e是一款真正的环境可控型原子力显微镜,可通过简单的操作来选择高真空环境、空气环境、液体环境、湿度环境、特种气体环境以及变温环境等不同环境。在高真空环境下,不仅可以防止样品表面水膜的形成,提高样品扫描分辨率和表面物理性能测试测量的准确性;也可以通过q值控制来提高afm的扫描灵敏度,进而提升图像的分辨率。真空环境还可以避免某些样品的氧化,也为
更新时间:2025-09-28
日立多功能智能型原子力显微镜
afm 5100n 是配备有悬臂梁自感功能的智能型便携式原子力显微镜,它打破了以往只依赖于光杠杆进行悬臂梁位移反馈的传统检测方法,其操作简便,只需将探针安装好即可进行扫描成像,无需再对光杠杆进行任何调节。同时5100n还配有智能扫描模式,根据样品起伏状况自动对扫描参数进行优化设计,测量时只需点击开始按钮即可自动完成所有测量工作。
更新时间:2025-09-28
日立多功能智能型 5100N 原子力显微镜
日立多功能智能型 5100n 原子力显微镜
更新时间:2025-09-28
日立高新全新的原子力显微镜—AFM5500M
日立高新全新的原子力显微镜—afm5500m1.配备有4英寸电动样品台,样品台移动范围xy±50 mm ,最大样品尺寸φ100×20mm,最大承重2kg 2.可自动更换探针,并自动调节激光光路3.通过realtuneⅱ可自动调节测试参数4.最新平面扫描器( xy闭环+z位移传感器),最大扫描范围200μm× 200μm×15μm
更新时间:2025-09-28
NT-MDT 原子力显微镜Prima
更新时间:2025-09-27
SPM-9700HT型原子力显微镜
spm-9700ht作为一种全新的换代产品,通过新开发的可快速响应的ht扫描器以及软件与控制系统设计的优化,成功实现以传统设备5倍以上的速度获取图像数据。spm-9700ht在基本观察功能的基础上融入了更强的测量功能,具备了卓越的信号处理能力,加上先进的vbdf功能,数字处理能力比同类产品提高40%,可得到更高分辨率、更高质量的观察图像。
更新时间:2025-09-27
布鲁克 Dimension FastScan Bio 原子力显微镜
dimension fastscan bio 原子力显微镜 (afm) 可实现生物动力学的高分辨率研究,实时样品观测的时间分辨率高达每 3 帧。更重要的是,它同时使afm比以往更容易使用。dimension fastscan bio afm 以先进的大
更新时间:2025-09-27

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