日立sft9455x射线荧光镀层测厚仪概述： sft9000系列里很好的机型“sft9455”，搭载75w高速x射线管和双重检验装置(半导体检验装置十比 例计数管)。适用“薄膜”、“金属膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测定要求的高性能膜 厚测量仪器。而且 “sft9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可以用作异物定性分析和材料成分分析。