x'pert pro mrd/xl是高级半导体材料的标准装备,用于: 高级材料科学和纳米技术,半导体材料研究和生产质量控制,可以适用各种应用,尤其适合薄膜分析,例如: 摇摆曲线分析和倒易空间mapping, 反射率和薄膜相分析,残余应力和织构分析, x'pert pro mrd/ xl 满足半导体、led、薄膜和高级工业材料的所有高分辨xrd分析需要。xl可以满足直径达 300 mm的晶片分析,并有精密的自动晶片装载选择;xl成为薄膜生产发展的先进的分析手段,led的业界标准。
更新时间:2025-08-18