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pem 低频罗氏线圈-lfr系列是理想的电低频流测试产品。且具有尺寸小巧、低相位误差，超宽的频带范围，使其可以测量被测信号的400次谐波（@45/65hz）。 低频罗氏线圈--lfr对电流幅度的响应曲线，有着高的线性度。配备有10:1的电流开关档，使其有着更宽的动态测试范围.
更新时间:2025-10-21
特别高效的电流钳（耦合系数小于7db），产生10v电平仅需20瓦功放，比传统电流钳可节省4-16倍的放大器功率，内径40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。
更新时间:2025-10-21
低频脉冲注入型号为 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探头可用于脉冲注入源及敏感度监测探头，这些探头能感应耦合上升时间为 5ns 及半个脉冲宽度为 100μs 的瞬态信号，当用于监测探头时可用频率范围：10 khz to 200 mhz，转移阻抗+20 db k2 从 200 khz 到150 mhz。
更新时间:2025-10-21
ssgh-1型牛顿环实验装置实验内容：1、观测牛顿环干涉现象2、用牛顿环测量平凸透镜曲率半径基本配置及参数：编号名称规格件数1钠灯低压钠灯，功率20w1套2低压钠灯电源220v，50hz1套3牛顿环牛顿环平凸透镜
更新时间:2025-10-21
yyu-25/100电子引伸计引伸计结构及工作原理 ：应变片、变形传递杆、弹性元件、限位标距杆、刀刃和夹紧弹簧等。测量变形时, 将引伸计装卡于试件上, 刀刃与试件接触而感受两
更新时间:2025-10-21
iia（b）型连续变倍体视显微镜是一种三目观察仪器，具有较长的工作距离，宽阔的视野，较好的成像质量，以及7x-180x连续改变放大倍率等特点。操作简单，使用方便，可供电子工业、临床手术、岩矿分析
更新时间:2025-10-21
ia（b）型连续变倍体视显微镜是一种双目观察仪器，具有较长的工作距离，宽阔的视野，较好的成像质量，以及7x-225x连续改变放大倍率等特点。操作简单，使用方便，可供电子工业、临床手术、岩矿分析、
更新时间:2025-10-21
德国美翠mi2127精密接地电阻测试仪/土壤电阻率仪（二、三、四线法测量接地电阻和土壤电阻率） 采用传统的打地桩方式来测量接地电阻，可用二、三、四线法，可测量
更新时间:2025-10-21
axd610、axd620微压计（美国alnor）仪器介绍：axd610和620微压计使您在hvac的压力测试更加简单。这些结实耐用的仪器可以使用皮托管测量风管内风速。axd610手持式数
更新时间:2025-10-21
藏 青色冷库防寒背带裤，聚酰胺涤纶/棉制面料，折缝式接缝，内部衬里为内部为dupont填充物，内部垂直绗缝间距12到15厘米，从服装外部看不见接缝， 和服装同长的双拉链头拉链
更新时间:2025-10-21
jc506-bm-2型斑马法检测仪是依据中华人民共和国标准gb11614-1999的技术要求而设计制造，用于检测浮法玻璃的光学变形角(斑马角)的测试仪器
更新时间:2025-10-21
工作环境应清洁，光线较暗，无阳光直射，工作时室内环境应不随外界环境变化变化，无灰尘，无烈振动。
更新时间:2025-10-21
xf802-y320数字杂音计，主要用于程控交换机电源，电话加权杂音电压的测量。本仪表符合*电信联合会（itu）建议的电话加权网络杂音测试要求，并以*的数字信号处理方式来测量杂音
更新时间:2025-10-21
misenbo 硬件开放实验室 开放实验室 硬件实验室 ets-lindgren 7405近场探头 仪器资讯
更新时间:2025-10-20
misenbo 硬件开放实验室 开放实验室 硬件实验室 nemtest dito 静电放电模拟器 仪器资讯
更新时间:2025-10-20
emmc 复位测试 clk测试 dqs测试这是个典型的电源纹波测试的问题。我们通过使用短的地线连接、换用低衰减比的探头以及带宽限制功能使得纹波噪声的测试结果大大改善。
更新时间:2025-10-20
emmc4 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试实际上就是把电缆的头接在示波器上，示波器设置为50欧姆输入阻抗；电缆的另头剥开，屏蔽层焊接在被测电路地上，中心导体通过个隔直电容连接被测的电源信号。这种方法的优点是低成本，低衰减比，缺点是致性不好，隔直电容参数及带宽不好控制。
更新时间:2025-10-20
相关产品：emmc5 , 上电时序测试 , 电源纹波测试 , 时钟测试 , 数据信号测试通俗的来说，emmc=nand闪存+闪存控制芯片+标准接口封装。
更新时间:2025-10-20
emmc4 , 复位测试 , clk测试 , dqs测试emmc则在其内部集成了 flash controller，包括了协议、擦写均衡、坏块管理、ecc校验、电源管理、时钟管理、数据存取等功能。
更新时间:2025-10-20
emmc5 复位测试 clk测试 dqs测试包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、总线接口控制（card interface controller）、电源控制、寄存器组。
更新时间:2025-10-20
emmc5 复位测试 clk测试mmc通过发cmd的方式来实现卡的初始化和数据访问。device identification mode包括3个阶段idle state、ready state、identification state。
更新时间:2025-10-20
emmc4 复位测试 clk测试 dqs测试 emmc5 复位测试identification state，发送完 cid 后，emmc device就会进入该阶段。
更新时间:2025-10-20
相关产品：clk测试 , dqs测试 , emmc4 , 上电时序测试data strobe 时钟信号由 emmc 发送给 host，频率与 clk 信号相同，用于 host 端进行数据接收的同步。data strobe 信号只能在 hs400 模式下配置启用，启用后可以提高数据传输的稳定性，省去总线 tuning 过程。
更新时间:2025-10-20
数据信号测试 emmc5 上电时序测试start bit 与 command 样，固定为 "0"，在没有数据传输的情况下，cmd 信号保持高电平，当 emmcdevice 将 start bit 发送到总线上时，host 可以很方便检测到该信号，并开始接收 response。
更新时间:2025-10-20
数据信号测试 emmc5 上电时序测试start bit 与 command 样，固定为 "0"，在没有数据传输的情况下，cmd 信号保持高电平，当 emmcdevice 将 start bit 发送到总线上时，host 可以很方便检测到该信号，并开始接收 response。
更新时间:2025-10-20
clk测试 dqs测试 emmc4 上电时序测试，眼图测试crc 为 data 的 16 bit crc 校验值，不包含 start bit。各个 data line 上的 crc 为对应 data line 的 data 的 16 bit crc 校验值。
更新时间:2025-10-20
数据信号测试 emmc4 复位测试 clk测试 dqs测试在 ddr 模式下，data line 在时钟的上升沿和下降沿都会传输数据，其中上升沿传输数据的奇数字节 （byte 1,3,5...），下降沿则传输数据的偶数字节（byte 2,4,6 ...）。
更新时间:2025-10-20
复位测试 clk测试 dqs测试 emmc4 上电时序测试当 emmc device 处于 sdr 模式时，host 可以发送 cmd19 命令，触发总线测试过程（bus testing procedure），测试总线硬件上的连通性。
更新时间:2025-10-20
阴极保护监测仪sd-21用于测量阴极电位溢出，从而预防埋地燃气管道的腐蚀。输入阻抗为100 mω，在某些地形（比如花岗岩）上输入阻抗可以被精确无误的测量出来。是世界上首款同时设备电压、电流、接地电阻、频率的设备。
更新时间:2025-10-20
emmc 上电时序测试 电源纹波测试emmc 芯片下方在敷铜时，焊盘部分要增加敷铜禁布框，避免铜皮分布不均影响散热，导致贴片虚焊。
更新时间:2025-10-20
emmc 时钟测试 数据信号测试电源纹波测试过大的问题通常和使用的探头以及端的连接方式有关。先检查了用户探头的连接方式，发现其使用的是如下面左图所示的长的鳄鱼夹地线，而且接地点夹在了单板的固定螺钉上，整个地环路比较大。由于大的地环路会引入更多的开关电源造成的空间电磁辐射噪声以及地环路噪声，于是更换成如下面右图所示的短的接地弹簧针。
更新时间:2025-10-20
pcie2.0x4 眼图测试 物理层致性测试集成电路的发明是人类历史上的大创举，它大地推动了人类的现代文明进程，在天无时无刻不在影响着我们的生活。进入 21 世纪以来，集成电路的发展则更是狂飙猛进。天的大规模集成电路生产和制造工艺已经达到 10 nm 量产水平，更高的集成度意味着同等体积下提供了更高的性能，当然对业内从业者来说遇到的挑战和问题也就越来越严峻。
更新时间:2025-10-20
pcie2.0x8 眼图测试 物理层致性测试在个处理器系统中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信号线组成32对差分信号，其中16对petxx信号用于发送链路，另外16对perxx信号用于接收链路。除此之外pcie总线还使用了下列辅助信号。
更新时间:2025-10-20
pcie1.0x4 眼图测试 物理层致性测试日益降低的信号幅度必将带来信噪比(snr)的挑战，也即随着信号幅度越来越低，对整个 电路系统的噪声要求也越来越严格。尤其是在近 3 年来越来越热的pam 调制，比如广泛用于 200g/400g 传输的 pam-4 技术，由于采用 4 电平调制，其对信噪比的要求比采用nrz 编码的信噪比要高 9db.
更新时间:2025-10-20
pcie1.0x8 眼图测试 物理层致性测试ci总线定义了两类配置请求，个是type00h配置请求，另个是type 01h配置请求。
更新时间:2025-10-20
pcie1.0x16 眼图测试 物理层致性测试电子产品发展到当的时代，工程界已经积累了很多实践经验，再搭上互联网大力 发展的快车，每位工程师都可以很轻松地从其他人的工程经验分享中获得很多有价值和 有助于自己设计的经验，但是经验并不是金科玉律，也不是都适合工程师特殊的设计需求。
更新时间:2025-10-20
pcie3.0x4 眼图测试 物理层致性测试下面是个 ddr3 设计的实际案例。按照传统的方式进行设计时，工程师会按照主芯片给的设计规范进行设计。结合项目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓扑结构， ecc 放置在如下图 5 圆圈中所示位置。在生产完成后的调试过程中，发现 ddr3 的信号出现非单调性。
更新时间:2025-10-20
pcie3.0x8 眼图测试 物理层致性测试deviceid和vendor id寄存器这两个寄存器的值由pcisig分配，只读。其中vendor id代表pci设备的生产厂商，而device id代表这个厂商所生产的具体设备。如xilinx公司的k7，其vendor id为0x10ee，而device id为0x7028。
更新时间:2025-10-20
pcie3.0x16 眼图测试 物理层致性测试获得的信号波形没有出现非单调的情况。按照以上设计改板后的测试结果与仿真 致。 如果不进行仿真，那么只能在产品设计完成之后进行测试才能发现问题，如果要改善， 只能再改板调整，还可能出现改板很多次的情况，这样就会延迟产品上市时间并增加物料成本。
更新时间:2025-10-20
梅特勒电极ha405-dpa-sc-s8/120（有问题，产品上留有碎渣） 硬件开放实验室 开放实验室 仪器租赁
更新时间:2025-10-20
cie2.0 3.0 物理层致性测试pcie总线与pci总线不同，pcie总线使用端到端的连接方式，在条pcie链路的两端只能各连接个设备，这两个设备互为是数据发送端和数据接收端。pcie链路可以由多条lane组成，目pcie链路×1、×2、×4、×8、×16和×32宽度的pcie链路，还有几乎不使用的×12链路。
更新时间:2025-10-20
pcie总线的层次组成结构与网络中的层次结构有类似之处，但是pcie总线的各个层次都是使用硬件逻辑实现的。在pcie体系结构中，数据报文先在设备的核心层(device core)中产生，然后再经过该设备的事务层(transactionlayer)、数据链路层(data link layer)和物理层(physical layer)，终发送出去。
更新时间:2025-10-20
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理层致性测试当pcie设备进入休眠状态，主电源已经停止供电时，pcie设备使用该信号向处理器系统提交唤醒请求，使处理器系统重新为该pcie设备提供主电源vcc。
更新时间:2025-10-20
最新产品
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