stz400h型半导体四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置,它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量,可以从10-4--106ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻,是硅材料质量监测的必需仪器。仪器为台式结构,分为电气箱、测试架两大部分,用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上,测试架由探头及压力传动机构、样品架组成,耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置,压力连续可调,测试架设有手动和电动两种装置供用户选购
更新时间:2025-04-30