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涂层测厚仪YT4200-P7
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详细内容


| 产品型号 | YT4200-P7 |
| 产品名称 | 分体铝基涂层测厚仪 |
| 符合标准 | ASTM B499,ASTM D1400; ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808; GB/T 4956/4957,JB/T 8393 |
| 基体 | NFe |
| 探头形式 | 分体式 |
| 分辨率 | 0.1/1μm |
| 测量范围 | 0~1250μm |
| 测量精度 | 零点校正:±(3%H+1)μm; 两点校正:±(1~3%H+1.5)μm; 注:H为样品厚度 |
| 最小测量尺寸 | 10×10mm |
| 最小测量厚度 | 非磁性:0.05mm |
| 最小曲率 | 凸面半径5mm;凹面半径10mm |
| 显示单位 | μm |
| 存储容量 | / |
| 统计功能 | / |
| 蓝牙 | / |
| 电源 | 2节5号电池(AA碱性电池或镍氢充电电池); |
| 尺寸 | 102×66×24mm |
| 重量 | 99g(含电池) |
| 品质软件 | / |
| 工作温度 | 0~40ºC(10~90%RH无凝露) |
| 储存温度 | -10~50ºC |
| 标准附件 | 基体1块(铝基体),腕带,校准试片 |
| 可选附件 | 校准试片(12μm,25μm) |
| 注: | 技术参数仅为参考,以实际销售产品为准 |
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热门标签:涂层测厚仪,镀层测厚仪,YT4200p7













