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PCT饱和加速寿命试验机

PCT饱和加速寿命试验机

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价格:¥1

更新日期:2014/10/6 16:10:23

生 产 地:中国大陆

产品型号:SEST-S

简单介绍:主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCT最主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

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详细内容

Models

SEST-S

Inside Dimensions
W x D x H cm

φ22 X 33(L)

Outside Dimensions
W x D x H cm

69X90X63

Inside capacity(Liter)

12

Internal material

Stainless steel#316

External material

SECC

Temperature range 105℃~132℃
Humidity Range 75%~100%/105℃~132℃

Temperature uniformity ℃

±1.0℃

Humidity uniformity %RH

±5%
Temperature stability ℃ ±0.3℃
PCT饱和加速寿命试验机

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