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SunScan 冠层分析系统
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价格：￥1
更新日期：2026/9/9 16:27:37
生 产 地：中国大陆
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详细内容
SunScan 冠层分析系统
一 用途：
SunScan冠层分析系统通过测量作物冠层PAR值提供了关 于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
二 原理：
SunScan冠层分析系统根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
三 软件计算
Sunscan系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数（LAI），软件中涉及到的参数有：
直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中，天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的，叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的，其他的参数都是直接测量得出的。
四 组成：
l SS1探头：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器
l SunData软件：用来对测量参数进行分析处理
l BF5传感器：可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。内置自加热功能，减少雪冻影响。
l 三角架：用来安放BF5
l 数据采集终端：一种采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑。
五 基本技术指标：
| SS1探测器 | ||||
| 探测器工作区域 | 1000×13mm宽，传感器间距15.6mm | |||
| 探测器光谱响应 | 400 ~ 700nm (PAR) | |||
| 探测器测量时间 | 120ms | |||
| 探测器分辨率 | 0.3μmol. m-2.s-1 | |||
| 探测器最大读数 | 2500μmol.m-2.s-1 | |||
| 操作温度 | 0 ~ 60℃ | |||
| BF5 | ||||
| PAR测量范围 | 0-2500μmol.m-2.s-1（总的和散射） | |||
| PAR精度 | 总辐射 | ±10μmol.m-2.s-1±12% | ||
| 散射 | ±10μmol.m-2.s-1±15% | |||
| 工作温度 | -20到+50℃ | |||
| 太阳总辐射测量范围 | 0-1250 W/m2 | |||
| 总辐射精度 | 总辐射 | ±5 W/m2 ±12% | ||
| 散射 | ±20 W/m2±15% | |||
| 光照度测量范围 | 0-200klux | |||
| 光照度精度 | 总辐射 | ±0.6klux±12% | ||
| 散射 | ±0.6klux±15% | |||
| 电缆长度 | 标准为10米 | |||
| RPDA2手持终端 | ||||
| 屏幕 | 1/4VGA屏幕，太阳光下依然显示清晰 | |||
| 操作系统 | Windows Mobile6 | |||
| 显示项目 | LAI、PAR平均值、每个传感器的读数 | |||
| 手持终端工作环境 | IP67防护等级，-30-60℃ | |||
| 1手持终端存储 | 支持>100M | |||
六 产地： 英国
