导通电阻评估系统AMR

　　半导体技术,自60年代起步,1965年集成回路(1C)诞生后一路飞跃,闪存、表面实装封装等技术频现,高密度LSI蓬勃发展。半导体技术至关重要,也迎来新需求，新的生产测试挑战；导通电阻评价系统助力半导体试验设备研发芯片，为监控老化系统监测，让计测系统实现高精度测量。家电、手机到电动汽车,再到通信、医疗等领域。

　　AMR测试方法是联动冷热冲击或者快温变试验箱进行评价,在冷热冲击的高应力环境下，对基板接合部分或者材料的导通性能评价。

　　绝对值判定

　　试验开始前对绝对值进行设定，一旦阻值超过预设值或者低于预设值，AMR将其终止测试。(也可选择继续试验)

　　变化率(%)判定

　　此判定针对BGA以及CSP等封装元器件的微小阻值变化的判定方法。以指定的测试数据为基准，比较高温侧/低温侧的数据变化百分比进行判定失效与否。

　　勤达(深圳)数码科技有限公司简称（勤达科技）是一家积极推动技术应用的科技公司，自2004年成立以来，于引进国外科技软件、设备和技术。

　　勤达不断地自我提升，为客户提供可靠性工程技术培训、技术交流会议、技术顾问服务等多元化、多层次、的高增值服务，与客户互动、合作，共同推动着我国可靠性行业的发展。

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