HAST 高加速应力试验箱 EHS 爱斯佩克 高压湿热环境 半导体芯片耐湿腐蚀测试设备

　　高加速应力试验（HAST） 作为潮湿环境可靠性验证的核心手段，严格遵循 JESD22-A110标准，通过极端温湿度与偏压应力的协同作用，快速激发器件内部的离子迁移、电化学腐蚀等失效机制，实现老化进程的指数级加速。该技术已成为多领域关键器件的可靠性验证标杆，广泛应用于：

　　IC半导体（芯片封装、晶圆级可靠性）

　　光伏组件（背板材料、接线盒耐湿性）

　　线路板（PCB层压结构、导电阳极丝防护）

　　磁性材料（电感器、变压器绝缘涂层）

　　高分子材料（密封胶、灌封胶湿热老化）

　　采用干湿球传感器直接测量

　　控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式。

　　双层圆筒结构，多重保护功能

　　内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范。各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护。

　　缓降压处理，可选排气排水模式

　　防止试验结束后试样受到急剧压力、温度或水分蒸发的环境影响。

　　全自动补水功能，前置式水位确认

　　试验开始时系统自动一次加足试验所需用水，水箱剩余水量可从正面简单确认。

　　勤达(深圳)数码科技有限公司简称（勤达科技）是一家积极推动技术应用的科技公司，自2004年成立以来，于引进国外科技软件、设备和技术。

　　勤达不断地自我提升，为客户提供可靠性工程技术培训、技术交流会议、技术顾问服务等多元化、多层次、的高增值服务，与客户互动、合作，共同推动着我国可靠性行业的发展。

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