AMI 离子迁移评价系统 PCB 电化学迁移测试 绝缘可靠性评估设备

　　离子迁移评价系统(AMI)是一种可用于评估半导体材料中离子迁移的技术手段，主要用于检测和分析半导体器件在高温高湿环境下的可靠性问题，特别是在高密度集成电路中，离子迁移可能导致电迁移、漏电、性能退化等问题。可以方便、高效地评估产品寿命和绝缘电阻，从低压测试到高压测试有广泛应用。

　　高测量：自主开发连续通电扫描继电器方式，配备***的测量仪表，与环境试验箱联动，操作更简便更安全。

　　应力电压范围广泛：标配 100V 应力电压（应力电压 / 测量电压），更有 1000V、2500V 高电压规格可选。

　　连续通电扫描方式：ESPEC ***扫描动作技术，切换扫描时不发生无电压状态，测量电压与偏置电压均使用同一电压源控制，可准确控制电压。

　　漏电流检测功能：高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化，离子迁移实时监测。

　　专用统计软件：「E-Graph」可实时编辑预览监测实时获得的数据。

　　专用连接试样夹具：选配可使连接试样及线缆更方便，试验效率更高。

　　勤达(深圳)数码科技有限公司简称（勤达科技）是一家积极推动技术应用的科技公司，自2004年成立以来，于引进国外科技软件、设备和技术。

　　勤达不断地自我提升，为客户提供可靠性工程技术培训、技术交流会议、技术顾问服务等多元化、多层次、的高增值服务，与客户互动、合作，共同推动着我国可靠性行业的发展。

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