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产品展示
SOC芯片小型环境试验箱
点击次数：102
价格：￥电议
更新日期：2026/9/1 12:21:18
生 产 地：
产品型号：
- 电话: 07********066
- 手机: 13******795
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- 交换名片后展示联系方式 → →
详细内容
SOC芯片小型环境试验箱 试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。
SOC芯片小型环境试验箱 体积小、使用空间大、适合实验使用。
特殊设计、机器可重叠,不占空间。
可扩充性强;BIAS、记录器(选购)。
执行满足标准及试验方法
GB11158 高温试验箱技术条件
GB10589-89 低温试验箱技术条件
GB10592-89 高低温试验箱技术条件
GB/T10586-89 湿热试验箱技术条件
GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法
GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法
GB/T2423.3-93 湿热试验箱试验方法
GB/T2423.4-93 交变湿热试验方法
GB/T2423.22-2001 温度变化试验方法
IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法
IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法
特殊送风循环设计、温湿度分布均匀性佳。
全系统之安全保护周全及停电记忆。
具备时序接点,可配合动能及量测试验。
医疗卫生、环保、食品、化工、生物产业、农业、文体、石油、地矿、能源、建材、电子、交通、印刷包装、纺织皮革、冶金、烟草、航天、司法、制药、汽车、电气、综合。
满足标准：
⒈ GB11158 高温试验箱技术条件
⒉ GB10589-89 低温试验箱技术条件
⒊ GB10592-89 高低温试验箱技术条件
⒋ GB/T10586-89 湿热试验箱技术条件
⒌ GB/T2423.1-2008 低温试验箱试验方法
⒍ GB/T2423.2-2008 高温试验箱试验方法
⒎ GB/T2423.3-2006 湿热试验箱试验方法
⒏ GB/T2423.4-2008 交变湿热试验方法
⒐ GB/T2423.22-2002 温度变化试验方法
⒑ IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法
⒒ IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法
⒓ GJB150.3 高温试验
⒔ GJB150.4 低温试验
⒕ GJB150.9 湿热试验
