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集成电路ICHAST试验箱-R-HAST-450A-瑞凯仪器

集成电路ICHAST试验箱-R-HAST-450A-瑞凯仪器

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更新日期:2026/10/9 16:06:22

生 产 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:HAST试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验 。

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详细内容

HAST试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验 。
HAST试验箱试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

瑞凯仪器 HAST试验箱机械结构:

⊙ 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.

⊙ 精密设计,气密性良好,耗水量少,每次手动加水可连续运转1H;自动加水可连续运转999H;

⊙ 实验开始前之真空动作可将原来内箱之空气抽出,并吸入过滤器,过滤之新空气packing<1micom.以确保箱内之纯净度.

⊙ 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示.

⊙ 机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.

技术规格

RK-HAST-350

RK-HAST-450

W×H×D (mm)

内

¢300×D450

¢400×D450

外

650×1200×940

750×1300×1070

温度范围

A(105℃~132℃);B(105℃~142.9℃);C(105℃~155℃)可选

压力范围

A(压力表+0.2~2.0kg/cm);B(压力表+0.2~3.0kg/cm);C(压力表+0.2~3.5kg/cm)

湿度范围

65%~100%R.H(可调)

温湿度波动度

非饱和控制:±0.5℃/±2.5%R.H,湿润饱和控制:±0.5℃/100%R.H

温湿度均匀度

±0.5℃/±5%R.H

分辨率

温度:0.1℃,湿度:0.1%R.H,压力:0.1kg/cm²

偏压端子

标配8条(8~55条可选)

加压时间

约45min

循环方式

风叶强制对流循环


瑞凯仪器联系电话:

瑞凯网站:http://www.riukai.com/

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