晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80说明书

 

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80

一、产品简介

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz，附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。

二、主要技术指标    

1.      中心频率范围： 20KHz-100MHz任意设定   

2.      负载电容：4-20P 任意设定

3.      负载谐振电阻：1Ω-300Ω  1K-300K

4.      PPm范围测量：±300ppm

5.      PPm测量精度：< 0.5ppm

6.      时基频率：16.384M    

7.      晶振稳定性：2×10-8 /日  

8.      体积：80×235×305（mm）

9.      保修期：三年