美国AMPTEK探测器、AMPTEK X射线探测器、AMPTEK X射线光管、AMPTEK、AMPTEK等离子分析器、AMPTEK电子离子探测器、AMPTEK辐射监控器

主要型号：

XR-100CR Si-Pin、X-123 Si-Pin、XR-100SDD、X-123SDD、PA-210、PA-230、TB-5、DP5、DP5G、PX5、PX5-HPGe、MCA-8000D、A250、A225、A203、A121、A111、A101、A275、A206、A150、BLR1、PH300、A121、A101、A275、A206、A105

技术资料：

XR-100SDD 系列X 射线硅漂移探头：

XR-100SDD 系列产品由高性能 X 射线硅漂移探头，前置放大器（前放）和致冷系统组成。采用热电致冷技术保持硅漂移探头(SDD)的低温工作环境，而在两级热电致冷器上 亦安装了输入场效应管(FET)和温度反馈控制电路，这样探头组件的温度保持在约零下 55 摄氏度左右，并通过组件上的温度传感器显示实时温度。探头采用 TO-8 封装，并利用不 透光和不透气（真空封装适用）的薄铍(Be)窗以实现封装后的软 X 射线探测。XR-100SDD 系列产品无需采用昂贵的低温制冷系统即可获得非常优越的性能，它标志着 X 射线探测器生产技术上的一个突破。

产品特性：

1. 高计数率：500,000 CPS(每秒计数, counts per second)；

2. 能量分辨率：125eV（半高全宽，FWHM，对应峰值为 5.9keV 的情况）；

3. 高峰本比（Peak-to-background ratio）：8200:1； 4. 面积 25mm2，厚度 500μm；

5. 内置多层准直器；

6. 不需要液氮制冷。

应用范围：

1. X 射线荧光分析；

2. 用于 RoHS/WEEE 标准检测的 X 射线荧光谱仪；

3. OEM 和其他应用；

4. 生产工艺流程反馈控制；

5. 高校和科研院所实验室研究；

XR-100SDD 型硅漂移探测器：

XR-100SDD 型硅漂移探测器（SDD）是 Amptek 公司出品的一款 X 射线探测器，它标志着 X 射线探测器生产工艺的变革。XR-100SDD 因其体积小，性能优越且价格便宜等特点，是 OEM 手持式和台式X射线荧光谱仪设备的理想选择；而且它在保证优异的能量分辨的同时还能达到相当高的计数率，可以满足各种参数需求；另外封装采用和Amptek 出品的 其他探测器一样的T0-8 型外壳，方便用户升级现有系统以及和其他Amptek 产品配套。