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X射线探伤曝光曲线,阶梯试块
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价格:¥电议
更新日期:2026/6/30 18:54:47
生 产 地:中国大陆
产品型号:RT
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详细内容
一、射线阶梯试块介绍:
1.在X射线探伤中,X射线底片的质量受许多因素的影响,其中曝光工艺参数是关键,电压、电流、时间、焦距这些参数的变化直接影响底片的曝光程度。
2.对于一台特定的X光机,随着焦点的变化,工艺参数也是在逐渐改变的。因此,对于一个新从事探伤工作的人来说,如果没有别人的指导要照出一张质量很高的底片,确实是一件不容易的事,起码要花费很多时间。
3.就是有一定工作经验的人,换一台自己未曾用过的机器透照某一厚度的工件时也需要经过几次试验才能找出较为合适的参数来。这无疑是一种浪费。因此,制作X射线曝光参数曲线是一件很有意义的工作。射线探伤阶梯试块,是制作曝光曲线的必需工具。
二、射线阶梯试块技术参数:
1.尺寸:阶梯尺寸:4-22mm 外形尺寸:100*330mm
2.符合标准:JB/T730-2005 ASTM
3.材质: 碳钢(45#)、钛材、铝合金、镍材、不锈钢等。




