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FISCHER XUL系列测厚仪
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更新日期:2013/1/8 11:52:05
生 产 地:欧洲
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详细内容
XUL系列是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计,采用能量散射X-射线萤光测厚原理,符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外,还可以计算合金中各种元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单。具备手动的测量台,可移动的范围是50MM*50MM,不需要打开测量门便可以移动不同测量,方便操作。测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置,而不需要调校焦距便可以进行测量,并且由下向上的照射,操作员只需将测试面朝下,不论大小的样品可直接放进测量室内,不用调距离,只需对准位置,便可立即测量,这不单可以令测量更快速,还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。该产品是根据ASTMB568/ISO3497的规格进行设计的,WINFTM的控制软件,已成为多功能及准确度高的样板极适合对一些较小的样板进行测量,尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等。

