XES Chimica 产品特性

x射线发射光谱(XES)是一种化学状态分析方法，通过测量具有高能量分辨率的荧光X射线，可以显示化合物成键状态分布的变化。常规X射线荧光设备并不能分辨价态，主要是由于能量分辨率不足，通常不足以辨别价态变化引起的能级位移。

理学X射线发射光谱仪XES Chimica搭载了新开发的光学系统， 在不使用同步辐射光源的情况下，可以在实验室环境中通过精细测量光谱的化学位移和谱线变化，高精度地评估分析材料的化学状态。该仪器配备了晶体自动转换机制、样品自动转换机制，以及定量分析用软件，具有高操作性和实用性。

覆盖从氧 O 至铀 U，轻重元素一机到位。

• 超高分辨率，能够捕捉价态的细微变化

• 稳定高重现，结果一致可靠

软件自动推荐测试参数，数据处理简便，无需进行傅里叶变换

• 体材料信息：毫米级面积内，探测深度约 1–1000 µm

• 宽域适用：目标元素浓度 0.1%–100%

• 原位充放电：实时监测电极材料价态变化

XES Chimica

活动时间、地点

2025年9月11日    10:00-11:30

中国国际展览中心顺义馆E3馆-A会议室

（北京市顺义区天竺地区裕翔路88号）

场馆内地图

活动报名

来宣讲会，您将获得

• 技术原理与光学方案解析：如何在实验室内实现高分辨价态分析

• 实测案例分享：原位充放电、反应过程追踪与体材料应用示例

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席位有限，建议尽早登记以便预留技术交流时段。

适合人群：电池/催化/合成与表征相关的科研与工程人员

由于本次发布会在第21届BCEIA展会现场中，所以预约到访本次发布会，需要先注册第21届BCEIA，注册二维码如下：

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