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锂电材料微观结构观察用飞纳场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2
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详细内容
Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜,可用于锂电材料微观结构观察,帮助分析正负极材料、导电剂、隔膜等样品形貌。
Phenom Pharos G2 采用肖特基热场发射电子枪,电子光学放大倍数可达 2,000,000 X,分辨率优于 1.5 nm,适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景。
该产品具备台式化设计、低/中/高三种真空模式、背散射探测器、二次电子探测器,并可根据需求选配能谱探测器。具体配置和价格根据样品类型、成像需求及功能配置确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。
产品特点:
1. 肖特基热场发射电子枪,适合高分辨SEM成像。
2. 电子光学放大倍数可达 2,000,000 X。
3. 分辨率优于 1.5 nm,适合微纳结构观察。
4. 加速电压 1 kV - 20 kV 连续可调。
5. 支持低/中/高三种真空模式。
6. 标配背散射探测器和二次电子探测器,可选配能谱探测器。
7. 台式设计,适合科研、研发和检测实验室部署。
8. 支持官方选型咨询,可预约试样。
应用领域:
可用于锂电材料微观结构观察、正负极材料分析、隔膜材料观察、新能源研发和失效分析。
技术参数:
产品型号:Phenom Pharos G2
产品全称:Pharos 台式场发射电镜
产品类型:台式场发射扫描电镜
光学放大:27 - 160 X
电子光学放大:2,000,000 X
分辨率:优于1.5 nm
电子枪:肖特基热场发射电子枪
光学导航相机:彩色
加速电压:1 kV - 20 kV 连续可调
真空模式:低/ 中 / 高三种模式
探测器:背散射探测器、二次电子探测器
可选探测器:能谱探测器
常见问题:
1. 这款设备适合哪些应用?适合纳米材料、半导体、碳材料、催化剂、陶瓷、锂电材料、光伏材料等高分辨形貌观察场景。
2. 是否可以做元素分析?设备可根据需求选配能谱探测器,用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。
3. 价格是多少?价格根据配置、探测器选项和应用需求确定,可通过平台询价入口获取官方选型建议,并预约试样。
如需了解Phenom Pharos G2 在锂电材料微观结构中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。
热门标签:锂电材料微观结构,正负极材料SEM,场发射扫描电镜












