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粉末颗粒形貌与成分分析用飞纳电镜 Phenom ProX G7Phenom ProX G7
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品牌名称：$brandModel.Title型号：Phenom ProX G7 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 7:24:02
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详细内容
Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，可用于粉末颗粒形貌与成分分析，帮助观察颗粒形貌并辅助判断颗粒成分。
Phenom ProX G7 电子光学放大倍数可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，采用 CeB6 灯丝，并集成扫描电镜成像与能谱分析能力，适合形貌观察、微区元素分析和材料研发检测。
该产品适合高校实验室、企业研发中心、第三方检测机构及工业质检场景。具体配置和价格根据样品类型、探测器配置、能谱分析需求及服务方案确定，可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议，并预约试样。
产品特点：
1. 台式扫描电镜与能谱分析能力结合。
2. 电子光学放大倍数可达 350,000 X。
3. 分辨率优于 6 nm，适合常规材料微观形貌观察。
4. CeB6 灯丝寿命优于 3000 小时。
5. 支持高/低真空模式。
6. 标配背散射探测器和能谱探测器，可选配二次电子探测器。
7. 适合颗粒、异物、缺陷区域和材料微区成分分析。
8. 支持官方选型咨询，可预约试样。
应用领域：
可用于粉末颗粒形貌与成分分析、粉体材料研发、颗粒污染物分析、工业质控和第三方检测。
技术参数：
产品型号：Phenom ProX G7
产品全称：ProX 电镜能谱一体机
产品类型：台式扫描电镜能谱一体机
光学放大：27 - 160 X
电子光学放大：350,000 X
分辨率：优于6 nm
电子枪：CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时
光学导航相机：彩色
加速电压：基本模式2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
模式：4.8 kV - 20.5 kV 连续可调
真空模式：高/ 低真空
探测器：背散射探测器、能谱探测器
可选探测器：二次电子探测器
常见问题：
1. 这款设备适合做什么分析？适合材料形貌观察、微区元素分析、颗粒异物分析、失效分析和研发质检。
2. 是否可以做元素分析？可以。该产品为电镜能谱一体机，可用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。
3. 价格是多少？价格根据配置、探测器选项和应用需求确定，可通过平台询价入口获取官方选型建议，并预约试样。
如需了解Phenom ProX G7 在粉末颗粒分析中的配置方案、应用资料或报价信息，可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求，获取官方选型建议，并预约试样。
热门标签：粉末颗粒分析,粉体材料SEM,颗粒成分分析
