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OLED光学检测
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更新日期：2025/12/2 15:07:34
生 产 地：中国大陆
产品型号：
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详细内容
多片OLED器件IVL+视角测量系统
主要应用于OLED材料和OLED屏体生产工厂，满足客户大批量的OLED器件的IVL特性和亮度视角特性测试需求。
系统特点
1.大批量器件的测试
系统配有多通道电路选择器，可支持多达24片共96个发光点的OLED器件依次点亮测试（具体器件和发光点数量可定制）。测试可预点亮所有发光点以确认器件是否均正常。
2.发光区域中心自动对位识别
工业视觉对位CCD自动识别发光点位置，不管是垂直测IVL还是旋转器件测视角亮度，始终保证测量点对准发光区域中心
3.大视角范围测试
即使是3*3mm的发光点，在测视角时仍可以满足75度视角以上的测试要求。同时工业视觉对位相机可修正旋转时产生的测量点偏差，保证大视角下测量点依然对准器件发光中心
4.温度套件扩展
每片治具可选温度控制套件，包括加热套件（温控范围RT-120℃）和加热制冷套件（温控范围：-20-100℃）特殊温度范围可定制
5.光谱仪的高速测量
为节省低辉度下的光谱仪测量时间，弗士达支持CS-2000A的高速Dll模式并对其优化，以实现亮度大量程和快速测量的结合，以节省测量时间，提高机台的测试效率
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