当前位置： 阿仪网 > 半导体行业专用仪器设备 > 组装与封装设备 > 其他 > 北京华测试验仪器有限公司 > 产品展示 > 新品推荐 > 铁电分析仪 > 块体材料高温铁电测试仪/动态静态电滞回线Huace FE-2000
块体材料高温铁电测试仪/动态静态电滞回线
价格：￥ 电议
品牌名称：北京华测型号：Huace FE-2000 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:16:36
支付方式：
- 支付宝 微信 银行转账
产品完善度： 访问次数：786
新品推荐
- 空间电荷测试系统
- 铁电分析仪
- 高压功率放大器
- 冷热台
- 探针台
- 高压漏电起痕试验仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高温绝缘电阻率测试仪
- 50点耐压测试系统
- 耐电弧试验仪
- 电压击穿试验仪
- 绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
- 电容器温度特性评估系统
- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统
- 表面电位衰减系统
- 压电材料应变测试仪
- 导通电阻测试系统
- 变频电压击穿试验仪
- 真空晶圆退火炉
- 多功能任意波高压薄膜极化装置
- 高压直流电导测试系统
脉冲发生器
功率放大器系列
- 200V高压放大器
- 500V高压放大器
- 500V多通道高压放大器
- 700V高压放大器
- 1kv高压放大器
- 2kv高压放大器
- 2kv多通道高压放大器
- 4kv高压放大器
- 5kv高压放大器
- 5kv-HS高压放大器
- 8kv高压放大器
- 10kv高压放大器
- 10kv-HS高压放大器
- 20kv高压放大器
- 20kv-HS高压放大器
- 30kv高压放大器
- 40kv高压放大器
- 7kV高压放大器
- 50kV高压放大器
- 25kv高压放大器
工程塑料绝缘材料系列
- 高低温环境击穿耐压测试平台(变温电压击穿)
- 高压直流电源
- 高压漏电起痕试验系统
- 导电与防静电体积电阻率测试仪
- 绝缘诊断测试系统
- 耐腐蚀老化试验平台
- 绝缘材料电阻评价平台
- 大电流起弧试验仪
- 半导体封装材料TSDC测试平台
- 低压漏电起痕试验系统
- 工频介电常数测试仪
- 电压击穿试验仪
- 耐电弧试验仪
- 表面、体积电阻率测试仪(高阻计)
- 空间电荷测量系统
- 耐压绝缘测试仪
- 电容器温度特性评估系统
- 传感器多功能综合测试系统
- 介质损耗分析系统
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 高频高压绝缘电阻、介电测试系统
功能材料系列
- 漆包线击穿耐压试验仪
- 高温介电温谱仪
- 高压极化装置
- TSDC热刺激电流测试系统
- 红外光纤激光测振仪
- TSDC热激励去极化电流系统
- 铁电分析仪2000
- 铁电分析仪3000
- 铁电测试系统
- 高温绝缘电阻测试仪
- 半导体封装材料TSDC测试系统
- 电介质充放电测试系统
- 阻抗分析仪
- 功能材料电学综合测试系统
- 高压薄膜极化装置
- 探针台
- 压电系数测试仪
- 多通道介电/电阻测试模块
- 锂离子电池隔膜电弱点测试仪
- 闭孔温度破膜温度测试仪
- 50点耐压测试系统
- 高低温冷热台
- 储能新材料电学综合测试系统
- 热释电系数测试仪
- 高温介电温谱测试仪
- 教学用铁电分析仪
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 压电陶瓷强场介电性能分析仪
高压电源与高压驱动装置
半导体封装材料测试系统
储能科学与工程试验设备
改性塑料试验设备
绝缘材料试验设备
- 绝缘耐压测试仪
- 导电防静电体积电阻率测试仪
- 工频介电常数介质损耗测试仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高压漏电起痕试验仪2
- 耐电弧试验仪
- 表面体积电阻率试验仪
- 电压击穿试验仪
- 真空电热老化测试系统
- 多通道介电/电阻测试模块
- VD系列高压探头
- HCVD系列电阻分压器
- 半导体高低温绝缘电阻测试系统
- 多通道电流矩阵模块
高低温环境试验设备
静电试验设备系列
国标设备
附件及配件
冷热台系列
- TEC(帕尔贴)冷热台
- PE120帕尔贴冷热台
- 1400℃超高温原位光学加热台
- 1500℃超高温原位光学加热台
- -120℃~600℃光学冷热台
- -190℃~600℃光学冷热台(XY)
- 原位拉伸台
- 常规探针冷热台
电线电缆行业设备
企业档案
会员类型：旗舰版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累，可浏览访问
(41-90)良好信誉积累，可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累，可持续信赖
阿仪网旗舰版会员：15年
工商认证 【已认证】
最后认证时间：
注册号：**** 【已认证】
法人代表： 【已认证】
参观次数：2491417
详细内容
产品名称：高温铁电测试仪
产品型号：Huace FE-2000
品牌：北京华测
产品介绍
高温铁电测试仪用于铁电体的铁电性能测量，可用于铁电体的科学研究及近代物理实验中的固体物理实验以及工业化生产铁电存储器的铁电性能检测中。本测试系统主要包括可编程信号源、微电流放大器、积分器、放大倍数可编程放大器、模/数转换器数/模转化器、微机接口部分、微机和应用软件等部分组成。
本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度，减少了对测试的影响环节，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量，它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线，还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和化ps、剩余化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数，以及对铁电薄膜材料铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够测量铁电薄膜的铁电性能。仪器采用一体化设计，实现测试结果全数字化，操作简单方便。
铁电材料参数测试仪主要是由正弦波、三角波、间歇三角波、梯形波发生器及正、负矩形脉冲和双性双脉冲发生器外加铁电材料电滞回线、I-V特性及开关特性测量电路构成。适用于铁电薄膜、铁电体材料的电性能测量，可测量铁电薄膜电滞回线、I-V特性及开关特性，可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。可测铁电体材料的电滞回线及IV特性。同时也可作为一台通用信号发生器、高压信号发生器使用。
产品特点
l 电滞回线测量、铁电材料的饱和化±Ps、剩余化±Pr、矫顽场±Ec、电容量C等参数
l 铁电疲劳性能测量
l 铁电保持性能测量
l 电阻测量
l 漏电流测量
l 三维移动平台
软件功能
HC5000系列测试系统的软件平台hacepro,采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的稳定性与安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复，支持新的国际标准。兼容，XP、win7、win10系统。
友善的使用界面
多语界面：支持中文/英文 两种语言界面；
即时监控：系统测试状态即时浏览，无需等待；
图例管理：通过软件中的状态图示，一目了然，立即对状态说明，了解测试状态；
使用权限：可设定使用者的权限，方便管理；
故障状态：软件具有设备的故障报警功能。
硬件支持
l 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ双核处理器
l 集成打印机接口，可扩充8个USB接口
l 支持16G内存，60G固体硬盘，让系统运行更加流畅。
应用域
l 铁电材料的电滞回线（动态与静态）、漏电流等特性。
l 测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应。
l 超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性。
技术参数
1、电压范围：±30V（可扩展至±4KV）
2、输出电流峰值：±1A
3、大负荷电容：1μF
4、动态电滞回线测试频率：0.001Hx～100kHz
5、铁电材料漏电流的测试：10pA～100mA
6、小脉冲宽度：25ns
7、上升时间：7ns
8、化测试到：10fC
9、块体材料样品盒可进行室温～1200℃电滞回线测定
热门标签：高温铁电测试仪,铁电测试仪,静态电滞回线
相关文章
相关产品
-
电议 -
-
电议
-
电议
-
