高温热电材料参数测试仪
价格：￥ 电议
品牌名称：$brandModel.Title型号：HGRD-800 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:16:36
支付方式：
- 支付宝 微信 银行转账
产品完善度： 访问次数：1836
新品推荐
- 空间电荷测试系统
- 铁电分析仪
- 高压功率放大器
- 冷热台
- 探针台
- 高压漏电起痕试验仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高温绝缘电阻率测试仪
- 50点耐压测试系统
- 耐电弧试验仪
- 电压击穿试验仪
- 绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
- 电容器温度特性评估系统
- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统
- 表面电位衰减系统
- 压电材料应变测试仪
- 导通电阻测试系统
- 变频电压击穿试验仪
- 真空晶圆退火炉
- 多功能任意波高压薄膜极化装置
- 高压直流电导测试系统
脉冲发生器
功率放大器系列
- 200V高压放大器
- 500V高压放大器
- 500V多通道高压放大器
- 700V高压放大器
- 1kv高压放大器
- 2kv高压放大器
- 2kv多通道高压放大器
- 4kv高压放大器
- 5kv高压放大器
- 5kv-HS高压放大器
- 8kv高压放大器
- 10kv高压放大器
- 10kv-HS高压放大器
- 20kv高压放大器
- 20kv-HS高压放大器
- 30kv高压放大器
- 40kv高压放大器
- 7kV高压放大器
- 50kV高压放大器
- 25kv高压放大器
工程塑料绝缘材料系列
- 高低温环境击穿耐压测试平台(变温电压击穿)
- 高压直流电源
- 高压漏电起痕试验系统
- 导电与防静电体积电阻率测试仪
- 绝缘诊断测试系统
- 耐腐蚀老化试验平台
- 绝缘材料电阻评价平台
- 大电流起弧试验仪
- 半导体封装材料TSDC测试平台
- 低压漏电起痕试验系统
- 工频介电常数测试仪
- 电压击穿试验仪
- 耐电弧试验仪
- 表面、体积电阻率测试仪(高阻计)
- 空间电荷测量系统
- 耐压绝缘测试仪
- 电容器温度特性评估系统
- 传感器多功能综合测试系统
- 介质损耗分析系统
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 高频高压绝缘电阻、介电测试系统
功能材料系列
- 漆包线击穿耐压试验仪
- 高温介电温谱仪
- 高压极化装置
- TSDC热刺激电流测试系统
- 红外光纤激光测振仪
- TSDC热激励去极化电流系统
- 铁电分析仪2000
- 铁电分析仪3000
- 铁电测试系统
- 高温绝缘电阻测试仪
- 半导体封装材料TSDC测试系统
- 电介质充放电测试系统
- 阻抗分析仪
- 功能材料电学综合测试系统
- 高压薄膜极化装置
- 探针台
- 压电系数测试仪
- 多通道介电/电阻测试模块
- 锂离子电池隔膜电弱点测试仪
- 闭孔温度破膜温度测试仪
- 50点耐压测试系统
- 高低温冷热台
- 储能新材料电学综合测试系统
- 热释电系数测试仪
- 高温介电温谱测试仪
- 教学用铁电分析仪
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 压电陶瓷强场介电性能分析仪
高压电源与高压驱动装置
半导体封装材料测试系统
储能科学与工程试验设备
改性塑料试验设备
绝缘材料试验设备
- 绝缘耐压测试仪
- 导电防静电体积电阻率测试仪
- 工频介电常数介质损耗测试仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高压漏电起痕试验仪2
- 耐电弧试验仪
- 表面体积电阻率试验仪
- 电压击穿试验仪
- 真空电热老化测试系统
- 多通道介电/电阻测试模块
- VD系列高压探头
- HCVD系列电阻分压器
- 半导体高低温绝缘电阻测试系统
- 多通道电流矩阵模块
高低温环境试验设备
静电试验设备系列
国标设备
附件及配件
冷热台系列
- TEC(帕尔贴)冷热台
- PE120帕尔贴冷热台
- 1400℃超高温原位光学加热台
- 1500℃超高温原位光学加热台
- -120℃~600℃光学冷热台
- -190℃~600℃光学冷热台(XY)
- 原位拉伸台
- 常规探针冷热台
电线电缆行业设备
企业档案
会员类型：旗舰版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累，可浏览访问
(41-90)良好信誉积累，可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累，可持续信赖
阿仪网旗舰版会员：15年
工商认证 【已认证】
最后认证时间：
注册号：**** 【已认证】
法人代表： 【已认证】
参观次数：2491417
详细内容
高温热电材料参数测试仪 HGRD-800
一、高温热电材料参数测试仪介绍
热电材料（也称温差电材料(thermoelectric materials））是一种利用固体内部载流子运动，实现热能和电能直接相互转换的功能材料，热电效应是电流引起的可逆热效应和温差引起的电效应的总称，包括塞贝克（Seebeck）效应、波尔贴（Peltier）效应和汤姆逊（Thomson）效应。
1823年，德国人塞贝克（Seebeck）先发现当两种不同导体构成闭合回路时，如果两个接点的温度不同，则两接点间有电动势产生，且在回路中有电流通过，即温差电现象或塞贝克效应。通常用无量纲热电优值ZT来衡量材料的热电性能。
二、高温热电材料参数测试仪设备配置
HGRED-800测试仪通过红外镀金聚焦炉和温差控制器组合使用，可控制样品的温度。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供。加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。自动压力安全保护设计，进口美国航天硬件配置，确保测试安全。
主要热电材料体系
-
Bi2Te3/Sb2Te3体系
-
PbTe体系
-
SiGe体系
-
CoSb3为代表的方钻矿型热电材料
-
Zn4Sb3
三、高温热电材料参数测试仪产品特点
1. 同步测量塞贝克系数和电阻系数
2. 配置垂直或水平放样结构，满足不同用户的要求，方便样品操作
3. 铂金大电设计，与样品充分接触，对于不均匀样品也可获得良好的导电测试
4. 可配置双加热系统，不均匀样品的温差控制
5. 高应用程序控温技术，包括温差和测量步进等高要求
6. 0-50K范围的温差可随意设置温差值及温差点的个数
7. 自由升/降温、可精确控制温度程序，进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
8. 温度检测可选S/C型热电偶，zui适合测量Si系列热电材料（SiGe,MgSi等）
9. 热电偶探针非K型（无需铠装）配置，不会产生非常大的接触电阻
10. 热电偶间距可以跟根据样品尺寸调节或固定，满足不同科研要求
11. 自动压力安全保护设计，确保测试过程中不会发生爆炸
12. 测量系统：柱状、片状、长方体、薄膜等系统
13. 可选zui大测试10MΩ高电阻材料系统
四、高温热电材料参数测试仪强大的软件功能
HC5000系列测试系统的软件平台hacepro,采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求。具备强大的稳定性与安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复，支持zuixin的国际标准。兼容XP、win7、win10系统。
友善的使用界面：
-
多语界面：支持中文/英文两种语言界面
-
即时监控：系统测试状态即时浏览，无需等待
-
图例管理：通过软件中的状态图示，一目了然，了解测试状态
-
使用权限：可设定使用者的权限方便管理
-
故障状态：软件具有设备故障的报警功能
五、高温热电材料参数测试仪设备参数
| 温度范围 | RT up to 1150℃ |
| 控温速率 | 0.01-100k/min |
| 控温精度 | +/-0.5k |
| 测量方法 | 塞贝克系数：静态直流电 电阻系数：四端法 |
| 测量范围 | 塞贝克系数：0.5μV/K-25V/K 电阻系数：0.2μΩhmm-2.5Ωhmm |
| 分辨率 | 塞贝克系数：10nV/K 电阻系数：10nOhmm |
| 精度 | 塞贝克系数：±7％ 电阻系数：±10％ |
| 电流 | 0t-220mA（可控制jing准≤0.005mA） 恒流设置分辨率：100nA |
| 气氛 | He、氧化、还原、真空 |
| 真空度 | 10E-3mbar |
| 样品尺寸 | 直径或正方形：2-4mm；长度：6-20m |
热门标签：热电材料,温差电材料,塞贝克系数,聚焦炉,温差控制器
相关文章
相关产品
-
电议 -
-
-
-
电议
