电位衰减测试系统 电容器薄膜陷阱能级
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企业档案
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详细内容
电位衰减测试系统 电容器薄膜陷阱能级
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高压极化与准确控制
支持±30 kV宽范围高压输出,负载调整率≤0.5%,稳定性≤0.1%/h,确保极化过程稳定可靠
高精度控温加热台(室温~160℃,±0.2℃),结合湿度可调电极箱体,满足复杂环境模拟需求
高灵敏测量与快速响应
电位测量范围达±10 kV,精度1 V,采集频率>1次/秒,搭配5~20 ms高速响应,准确捕捉瞬态电位变化
配备采集卡与中文分析软件,自动提取陷阱分布参数,一键生成衰减曲线及分析报告
灵活电极配置与集成化设计
提供银/黄铜材质针、栅、板电极,电极间隙0~100 mm动态可调,适配不同样品形态与测试场景
集成化电极箱体整合加热台、支架及湿度模块,大幅提升实验效率与重复性
高稳定性与防护性
电压调整率≤0.1%,温度系数≤0.1%/℃,确保长时间测试数据一致性;输出电流限定≤1 mA,符合高压操作防护标准
温度系数:≤ 0.1 %/℃
测量范围:0 ~ ±10 kV
稳定性:时间漂移<100 ppm/小时(非累积);温度漂移<200 ppm/℃
极化电极:针、栅、板电极
电极材质:银或黄铜
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.

热门标签:表面电位衰减测试仪,介质电荷陷阱能级测定仪,绝缘材料表面电荷动态衰减测量系统
















