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多参数电学性能综合测定仪
价格：￥ 电议
品牌名称：$brandModel.Title型号：HCTD-3000 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:16:50
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详细内容
多参数电学性能综合测定仪
多参数电学性能综合测定仪由华测仪器生产，是一款为科研、材料开发、工业生产等领域设计的测试系统，功能材料电学综合测试系统集成了测量技术、自动化控制技术和效率高的数据分析算法，评估各类功能材料的电学性能，可用于功能材料铁电、压电、热释电、介电、绝缘电阻等电学测试，为材料科学家、工程师和研究人员提供测试支持
1.铁电参数测试功能
动态电滞回线测试频率
静态电滞回钱测试
脉冲测试
疲劳测试
保持力
印迹
漏电流测试
变温测试功能
2.绝缘电阻测试功能
高准确度的电压输出与电流测量，确保测试的品质，适用于功能材料在高温环境材料的数据的检测。例如：陶瓷材料、硅橡胶测试、PCB、云母也可做为科研院所新新材料的高温绝缘电阻的性能测试
3.压电参数测试功能
可进行压电陶瓷的唯静态d33等参数测试，也可通过高压放均由位移传感器（如勘怪 干涉仪）动态法测量压电系数测量
4.高温四探针测试功能
符合功能材料导体、半导体材料与其他新材料在高温环境下测试多样化的需求。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准及A.S.T.M，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途
5.热释电测试功能
主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。采用电流法进行测量材料的热释电电流、热释电系数、剩余极化强度对温度和时间的曲线
薄膜材料变温范围：－196℃~＋600℃
块体材料变温范围：RT~200℃、RT ~600℃、RT~800°C
6.介电温谱测试功能
用于分析宽频、高低温环境条件下功能材料的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样晶随温度、频率、时间、偏压变化的曲线
7.塞贝克系数／电阻测量系统
适用于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的多种热电性能分析；可根据用户需求配置薄膜测量选件，低温选件温度范围-100℃ ~200℃，高阻选件高至10MΩ
8.电卡效应测试功能
可以用于测试材料，在宽温度范围内的电卡性能
温度范围：-50℃~200℃；
热流时间范围：1s-1000s；
电压可达10kV；
波形：用户自定、脉冲、三角波、正弦波、任意波形、预定义波形
9.热激发极化电流测试仪TSDC
用于研究功能材料性能的一些关键因素，诸如分子弛豫、相转变、玻璃化温度等等，通过TSDC技术也可以比较直观的研究材料的弛豫时间等相关的介电特性
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive perｆormance evaluation of sensors, etc.
热门标签：绝缘电阻电学综合测试系统,电滞回线测试电学综合测试仪,功能材料电学综合测试系统
