直流电极加热介电温谱测试系统
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详细内容
直流电极加热介电温谱测试系统
直流电极加热介电温谱测试系统由华测仪器生产,可配合阻抗分析仪、高阻计、电化学工作站、数字原表设备进行功能材料电学的相关测试,采用直接联接测试仪表以减少测试导线的影响,电极加热采用直流电极加热方式,减少电网谐波对测量仪表的干扰。同时测试功能上也增加了电阻测试、TSDC等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量,解决了高低温环境下的电学测量的准确度
冷热台基本参数
加温方式:直流电极加热
控制方式:移相电子触发
试验温度:-185~450℃/RT~650℃
电源/额定功率上限:AC220V 50Hz 400W
温度精度:±0.25℃
升温速度:可调升温速度0.5±~60℃/min(用户可设定)
保护方式:过温、过流、过压
制冷方式:水循环
电极材质:铂金
测试电极:铂金
光学参数
适用光路:反射光路
窗片:可拆卸与更替的窗片
物镜工作距离:8.5mm
透光孔:台面默认无通光孔,可增设通光孔以支持透射光路
上盖窗片观察:窗片范围φ38mm,视角±60.7°
负温下窗片除霜:真空
温控参数
温度范围:-185℃~ 450℃/RT~650℃(负温需配液氮制冷系统)
传感器/温控方式:100Ω铂RTD / PID控制(含LVDC降噪电源)
加热/制冷速度:+80℃/min(100℃时),-50℃/min(100℃时)
加热/制冷精度:±0.25℃/min
温度分辨率:0.01℃
温度稳定性:±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
软件功能:可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线
结构参数
加热区/样品区:Ø 30 mm
样品腔高:6.3 mm *样品厚度由探针决定
放样:打开上盖后置入样品再点针,关上盖后无法移动探针
气氛控制:气密腔,可充入保护气体*另有真空腔型号
外壳制冷:可通循环水,以维持外壳温度在常温附近
安装方式:水平安装或垂直安装
台体尺寸/重量:210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g
电学参数
探针:默认为铼钨材质的弯针探针(可选其他种类电极)
探针座:杠杆式探针支架,点针力度更大,电接触性更好
点针:手动点针,每个探针座都可点到样品区上任意位置
探针接口:默认为BNC接头,可选三同轴接口
*可增设腔内接线柱(样品接电引线)
样品台面电位:默认为电接地,可选电悬空(作背电极),可选三同轴接口
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.

热门标签:高低温冷热台,高低温介电温谱测试系统,功能材料电学性能测试设备
















