当前位置： 阿仪网 > 物理仪器 > 试验机 > 材料试验机 > 北京华测试验仪器有限公司 > 产品展示 > 功能材料系列 > 功能材料电学综合测试系统 > 铁电压电热释电-----功能材料电学综合测试系统 厂家HC 系列
铁电压电热释电-----功能材料电学综合测试系统 厂家
价格：￥ 电议
品牌名称：北京华测型号：HC 系列 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:16:36
支付方式：
- 支付宝 微信 银行转账
产品完善度： 访问次数：737
新品推荐
- 空间电荷测试系统
- 铁电分析仪
- 高压功率放大器
- 冷热台
- 探针台
- 高压漏电起痕试验仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高温绝缘电阻率测试仪
- 50点耐压测试系统
- 耐电弧试验仪
- 电压击穿试验仪
- 绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
- 电容器温度特性评估系统
- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统
- 表面电位衰减系统
- 压电材料应变测试仪
- 导通电阻测试系统
- 变频电压击穿试验仪
- 真空晶圆退火炉
- 多功能任意波高压薄膜极化装置
- 高压直流电导测试系统
脉冲发生器
功率放大器系列
- 200V高压放大器
- 500V高压放大器
- 500V多通道高压放大器
- 700V高压放大器
- 1kv高压放大器
- 2kv高压放大器
- 2kv多通道高压放大器
- 4kv高压放大器
- 5kv高压放大器
- 5kv-HS高压放大器
- 8kv高压放大器
- 10kv高压放大器
- 10kv-HS高压放大器
- 20kv高压放大器
- 20kv-HS高压放大器
- 30kv高压放大器
- 40kv高压放大器
- 7kV高压放大器
- 50kV高压放大器
- 25kv高压放大器
工程塑料绝缘材料系列
- 高低温环境击穿耐压测试平台(变温电压击穿)
- 高压直流电源
- 高压漏电起痕试验系统
- 导电与防静电体积电阻率测试仪
- 绝缘诊断测试系统
- 耐腐蚀老化试验平台
- 绝缘材料电阻评价平台
- 大电流起弧试验仪
- 半导体封装材料TSDC测试平台
- 低压漏电起痕试验系统
- 工频介电常数测试仪
- 电压击穿试验仪
- 耐电弧试验仪
- 表面、体积电阻率测试仪(高阻计)
- 空间电荷测量系统
- 耐压绝缘测试仪
- 电容器温度特性评估系统
- 传感器多功能综合测试系统
- 介质损耗分析系统
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 高频高压绝缘电阻、介电测试系统
功能材料系列
- 漆包线击穿耐压试验仪
- 高温介电温谱仪
- 高压极化装置
- TSDC热刺激电流测试系统
- 红外光纤激光测振仪
- TSDC热激励去极化电流系统
- 铁电分析仪2000
- 铁电分析仪3000
- 铁电测试系统
- 高温绝缘电阻测试仪
- 半导体封装材料TSDC测试系统
- 电介质充放电测试系统
- 阻抗分析仪
- 功能材料电学综合测试系统
- 高压薄膜极化装置
- 探针台
- 压电系数测试仪
- 多通道介电/电阻测试模块
- 锂离子电池隔膜电弱点测试仪
- 闭孔温度破膜温度测试仪
- 50点耐压测试系统
- 高低温冷热台
- 储能新材料电学综合测试系统
- 热释电系数测试仪
- 高温介电温谱测试仪
- 教学用铁电分析仪
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 压电陶瓷强场介电性能分析仪
高压电源与高压驱动装置
半导体封装材料测试系统
储能科学与工程试验设备
改性塑料试验设备
绝缘材料试验设备
- 绝缘耐压测试仪
- 导电防静电体积电阻率测试仪
- 工频介电常数介质损耗测试仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高压漏电起痕试验仪2
- 耐电弧试验仪
- 表面体积电阻率试验仪
- 电压击穿试验仪
- 真空电热老化测试系统
- 多通道介电/电阻测试模块
- VD系列高压探头
- HCVD系列电阻分压器
- 半导体高低温绝缘电阻测试系统
- 多通道电流矩阵模块
高低温环境试验设备
静电试验设备系列
国标设备
附件及配件
冷热台系列
- TEC(帕尔贴)冷热台
- PE120帕尔贴冷热台
- 1400℃超高温原位光学加热台
- 1500℃超高温原位光学加热台
- -120℃~600℃光学冷热台
- -190℃~600℃光学冷热台(XY)
- 原位拉伸台
- 常规探针冷热台
电线电缆行业设备
企业档案
会员类型：旗舰版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累，可浏览访问
(41-90)良好信誉积累，可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累，可持续信赖
阿仪网旗舰版会员：15年
工商认证 【已认证】
最后认证时间：
注册号：**** 【已认证】
法人代表： 【已认证】
参观次数：2491080
详细内容
功能材料电学综合测试系统
铁电参数测试功能
Dynamic Hysteresis 动态电滞回线测试频率Static Hysteric 静态电滞回线测试；PUND 脉冲测试；Fatigue 疲劳测试；Retention保持力；Imprint印迹；Leakage current漏电流测试；Thermo Measurement 变温测试功能。
压电参数测试功能
可进行压电陶瓷的准静态d33等参数测试，也可通过高压放大器与位移传感器（如激光干涉仪）动态法测量压电系数测量。
热释电测试功能
主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。采用电流法进行测量材料的热释电电流、热释电系数、剩余化强度对温度和时间的曲线。薄膜材料变温范围：-196℃到+600℃；块体材料变温范围：室温到200℃、室温到600℃、室温到800℃
介电温谱测试功能用于分析宽频、高低温环境条件下功能材料的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线。也可进行压电陶瓷的居里温度测试。
热激发化电流测试仪 TSDC
用于研究材功材料性能的些关键因素，诸如分子弛豫、相转变、玻璃化温度等等，通过TSDC技术也可以比较直观的研究材料的弛豫时间、活化能等相关的介电特性。
绝缘电阻测试功能 电压输出与电流测量，保障测试的品质，适用于功能材料在高温环境材料的数据的检测。例如：陶瓷材料、硅橡胶测试、PCB、云母、四氟材料电阻测试、也可做为科研院所新材料的高温绝缘电阻的性能测试。
高温四探针测试功能符合功能材料导体、半导体材料与其它新材料在高温环境下测试多样化的需求。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
塞贝克系数/电阻测量系统适用于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的多种热电性能分析；可根据用户需求配置薄膜测量选件，低温选件温度范围-100℃到200℃，高阻选件高至10MΩ。
电卡效应测试功能还可以用于测试材料在宽温度范围内的电卡性能。温度范围：-50℃到200℃、热流时间范围：1s-1000s，zui大电压可达10kV，波形：用户自定、脉冲、三角波、正弦波、任意波形、预定义波形。
功能材料电学综合测试系统
用户可选择不同的配置
设备优势
本套系统可完成功能材料铁电、压电、热释电、介电、绝缘电阻等电学测试，以及高、低温环境下的电学测试。与国际电学检测仪器在通讯协议、数据库处理、软件兼容性做了大量的接口。无论在软件与硬件方面，使本套仪器在未来更易于扩展，更加节省改造时间与硬件成本。
性能优势
华测仪器依托多年高压控制、测试方面多年的技术成果，安全保护：增加TVS保护过压、过流、过温等技术，更加安全与可靠。软件设计：借鉴国际流品牌，在测试功能、数据处理、操作等更加人性化等方面做了大量的改进。
定制化服务
电学试验室拥有泰克、是德科技国际品牌大批检测设备；生产制造方面，公司有4轴、5轴CNC加工中心、超精磨床等大批生产、加工设备，ISO9001国际质量体系认证，在工装、夹具定制化方面更加方便、高效。
更优xiu的测试功能
HCTD3000铁电测试系统具有宽频率响应范围及宽测试电压范围，性价比非常高，满足了用户追求高性价的需求。主机内置电压档位有±10V，±30V，±100V，±200V和±500V可选。在±10V的内置电压下，电滞回线测试频率达到2MHz；在±500V的内置电压下，电滞回线测试频率达到±2kHz。此系统还可外部扩展电压到4kV和10kV，也可加载选件实现压电、热释电和磁电测试功能。此系统包含Vision基本铁电管理测试软件。此外还可外部扩展电压到4kV和10kV，Premier II在不改变样品连接的情况下可执行电滞回线，脉冲，漏电流，IV和CV测试，也可加载选件实现压电、热释电、磁电测试和晶体管特性测试功能。
标准配置
Dynamic Hysteresis 动态电滞回线测试频率；
PUND 脉冲测试：zui小脉冲宽度2μs，zui小上升时间1 μs；Fatigue 疲劳测试,zui大频率300kHz；
Retention 保持力测试；
Static Hysteric 静态电滞回线测试；
Imprint 印迹；
Leakage current 漏电流测试：100fA to 1A
更多测试功能
高温部分通过近红外炉实现zui高可实现RT~1500°c环境下测试低温部分通过冷热台实现可实现-180~450°c环境下测试高、低温介电温谱测试频率I zui大测试范围20HZ-30MHZ。
扩展测试装置
热门标签：热释电,铁电仪,压电
