铁电测试系统在 HfO₂基铁电薄膜存储性能表征中的应用_产品说明_技术文章

氧化铪（HfO₂）基铁电薄膜是新一代铁电存储器（FeRAM）的功能材料，具备与 CMOS 工艺兼容、超薄厚度、低功耗等优势，其电滞回线、疲劳特性、电荷保持能力、漏电流水平直接决定存储器件读写寿命与数据稳定性。Huace FE 铁电测试系统集成全套铁电标准测试功能，无需更换样品接线即可完成多方面性能表征，是 HfO₂薄膜存储机理研究与器件工艺优化的测试设备。

一、HfO₂铁电薄膜测试现存行业难点

HfO₂薄膜厚度仅纳米级，铁电信号微弱，且薄膜易出现界面弱点、氧空位迁移，造成漏电流偏大，常规设备无法同步采集电滞、疲劳、印记、保持等多组参数，测试时需要反复拆装样品，引入接触误差。同时铁电测试频率跨度宽，从低频静态回线到 MHz 高频动态回线缺一不可，多数单功能仪器无法覆盖全频域测试需求，难以完整分析薄膜畴翻转、电荷衰减规律，制约存储器件迭代研发。

二、集成多测试功能，无需换线完成全存储性能检测

Huace FE 内置全套标准铁电测试模块，同一样品接线状态下可完成十余项试验，匹配 HfO₂薄膜存储性能评价需求：

1.动态 / 静态电滞回线（DHM/SHM）：1mHz~1MHz 超宽频率区间，准确提取剩余极化、矫顽电压，判断薄膜铁电相占比；

2.疲劳测试 FM：上万次脉冲循环读写，观测极化衰减，评估存储器循环寿命；

3.保持测试 RM：长时间静置后检测剩余极化留存能力，表征数据保存稳定性；

4.印记 IM、漏电流 LM、脉冲 PM、击穿 BD 测试：同步分析薄膜界面弱点、漏电风险与耐压极限；设备搭载 16 位任意波形发生器，脉冲宽度 100ns~1s 连续可调，可准确模拟存储器实际读写脉冲工况。

三、宽频高压适配，匹配超薄薄膜微弱信号采集

主机内置 ±10V 输出，可外接高压放大器拓展测试电压，输出电流 20mA，电滞回线测试频率可达 1MHz，完整覆盖静态低频到高速读写高频测试场景。针对超薄 HfO₂薄膜微弱极化信号，设备内部低噪声运算放大电路降低信号损耗，准确区分铁电极化电流与薄膜漏电流，避免弱点电流掩盖真实畴翻转特征，保证测试曲线真实可靠。

四、模块化拓展，实现温电耦合联动分析

系统预留丰富扩展接口，可搭配高低温平台拓展介电温谱、TSDC 热刺激电流、热释电、高低温电阻等测试功能。科研人员可开展变温铁电试验，分析温度对 HfO₂薄膜剩余极化、疲劳速率的影响，厘清氧空位迁移、畴钉扎等失效机理，为退火工艺、掺杂改性提供量化数据支撑。整机集成机柜设计，集成工控处理单元，海量测试曲线实时运算存储，搭配 HuacePro 软件实现曲线可视化与参数一键导出。

五、支撑薄膜配方与 FeRAM 器件工艺优化

研发人员通过电滞回线对比不同 Si、Al 掺杂比例 HfO₂薄膜的铁电性能；依托疲劳、保持测试筛选退火温度与薄膜厚度方案，降低读写衰减与数据丢失风险；结合漏电流、击穿测试排查薄膜界面弱点，优化晶圆沉积、刻蚀、退火整套制备工艺。完整铁电表征数据可直接用于文章机理分析与存储器件工艺定型，大幅缩短新材料研发周期。

铁电测试系统, HfO₂铁电薄膜测试, FeRAM 存储电滞回线分析仪

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