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3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪
价格：￥电议
品牌名称：$brandModel.Title型号： 原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/7 7:45:14
产品摘要：3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，2个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品牌，远销海外，获得多项国内技术专利,技术国际领先。
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详细内容
3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，2个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品牌，远销海外，获得多项国内技术专利,技术国际领先。
| 3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪参数规格: |
◆ 2个样品预处理脱气站，2个样品分析站；
◆ 全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示；
◆ BEST多路歧管模块，英福康检漏仪出厂检测，保证仪器真空度和稳定性；
◆ 预处理：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；
(专利名称：静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置 专利号：ZL2011201369439)；
◆ 非阻隔式防污染装置，彻底解决样品污染系统，影响仪器稳定性的问题；
(专利名称:具有除尘防污染装置的静态容量法比表面及孔径分析仪.专利号：ZL201320045881.X)
(专利名称：静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸汽压测试装置.专利号：ZL201120136959.X) (专利名称：加盖装置及静态法比表面及孔径分析仪.专利号：ZL201420148358.40)
| 3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪工作原理： |
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