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比表面及孔容积分析仪

比表面及孔容积分析仪

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价格:¥245500

更新日期:2026/3/10 10:06:16

生 产 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:技术领先的高效型产品,同时进行4个样品多功能测试,彻底克服静态容量法测试效率低的技术瓶颈;高技术高效率及高性价比的完美结合.

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详细内容

比表面及孔容积分析仪V-sorb 4800P为静态容量法仪器,可同时分析和处理4个样品,全套产品包括测试裸机,电脑,打印机,气瓶和气体,并配有单独的样品处理机.可根据实际需求选配.

4站比表面及孔容积分析仪技术参数

测试方法及功能:真空静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析平均孔径测量,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定

测试模式:V-Sorb独创的集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体,供客户根据实际需要选择使用;采用“氮气+氦气标准测试模式”,符合国际标准,可确保结果的性和一致性,且操作简单;对于低温下可吸附氦气的样品,不适宜采用氦气测定自由空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果.

测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-2nm(微孔)、2nm-500nm(中孔或介孔);

测量精度:重复性误差小于1.5%

真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,消除因死体积变化引入的测量误差

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命

样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统必需相互独立,并且样品测试和样品脱气处理必需可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命

压力测量:采用压力分段测量的进口4支压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),2支0-10 Torr (0-1.33Kpa),必须提供进口检测证书

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%)

真空泵:真空泵内置仪器中,且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命.

分压范围:P/Po 可控范围达5x10-6-0.995

极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

标定气体:具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,不能仅仅只具备采用"氮气+空管"模式标定冷自由空间

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表

4站比表面及孔容积分析仪V-Sorb 4800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测试原理,众多科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,金埃谱比表面及平均孔径测量仪多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,金埃谱比表面及平均孔径测量仪测试结果的性和一致性进一步提高,金埃谱比表面及平均孔径测量仪测试过程的稳定性更强,金埃谱比表面及平均孔径测量仪达到国际同类产品水平,部分功能超越国外产品.

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