

MMS PC2能够在根据您的需要进行调整或扩展。无论涂镀层厚度、电导率或是铁素体含量,可以轻松使用MMS PC2进行正确和的测量。
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产品完善度:
更新时间:2026/10/1 7:23:15关注度:411
关键词标签:MMS,PC2,德国Fischer菲希尔,FISCHERSCOPE,MMSPC2
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FISCHERSCOPE MMSPC2
可以用在任何对质量要
求很高的地方:来料检测、成品检测及生产过程中的抽样或例行检测,并且适用于各个行业。
得益于它的现代设计,MMS PC2能够在根据您的需要进行调整或扩展。无论涂镀层厚度、
电导率或是铁素体含量,可以轻松使用MMS PC2进行正确和的测量。
MMS PC2 –一台适用于各种应用的测量仪器。
涂镀层厚度测试
可以对以下材料组合进行涂镀层的厚度测试:
•金属材料上的大多数涂镀层
•双涂层系统:油漆/锌/铁基材
•非导电材料上的金属镀层:如PCB上的铜层
•有机涂层,如油膜或脂膜
材料测试
•非铁磁性金属的电导率测试
•检测奥氏体或双相钢中的铁素体含量,判断焊缝质量
适用于各行各业
•汽车工业
•电子行业
•涂料工业
•涂镀层技术
•贵金属、手表、珠宝
•材料分析与材料测试
适用于各种场合
•来料和出厂检验中的质量控制
•生产过程中的抽样或例行检测
•持续生产控制
•可集成在质量管理系统和公司网络中
手动或自动测量
•探头接触后的自动触发测量
•按下按键或通过外部触发
•通过预定义的时间间隔来测量
•通过电动支架或可编程XY测量平台进行半自动测量
•通过PLC单元自动测量
•生产车间中的自动化测量
模块化设计
•由不同测试方法组成的多达八个测量模块,可以用于涂镀层厚度测量、电导率测试及铁素体含量测试。
使用手持式探头Z15NG-TC测量薄的有机涂层,如油
膜
根据beta背散射法,通过带有beta放射源的手持式探头进行测量,集成的温度传感器可以自动补偿beta射线在不同温度空气中的衰减。
使用V2EGA06H探头固定在马达驱动的测量台上来测量活塞上的镀铬层厚度
通过马达驱动的V12 MOT测量台可精确测量小尺寸样件
FISCHERSCOPE MMSPC2
®自动控制支架的上下运动及测量.
来料检测
用于来料检测的测量单元带有多个测量模块和探头,
将它装配在可移动桌面上来测量不同的零件
阳极氧化膜测量
为了测量不同几何形状的零件,测量单元可以同时装配多种探头,避免了反复更换探头的繁琐。
当选择合适的应用程式时,对应的探头即自动激活。铝阳极氧化膜的厚度测量及铝制品的电导率测试,
用于寻找其颜色差异的原因。
配置
•SIGMASCOPE®模块配ES40探头或ES24探头可进行电导率测试
•PERMASCOPE®模块配内腔测量探头FAI3.3-150或曲率补偿探头FTD3.3可测量氧化膜厚度
•加配V12 MOT测量头用于大量零件的半自动化测量
漆层的测量
用于以下应用的漆层厚度测量单元:
•非铁金属上的漆层厚度测量
•铁或钢上的漆层厚度测量
•双涂层测量,如铁或钢上镀锌再涂漆,可以同时测
量两层的厚度
配置
•PERMASCOPE模块配FD13H探头
•PHASCOPEDUPLEX模块配ESG20探头
•加配V12 MOT测量台用于钢板上油漆层自动扫面测量
印制电路板(PCB)的测量
适用于PCB上的几乎所有测量应用,对于某些情况下的超薄镀层,我们也建议使用我们的X射线荧光测厚仪类的仪器来测量。
搭配
•SIGMASCOPEPHASCOPE
2模块配ESL080V探头用于测量孔铜的厚度
•SIGMASCOPEPHASCOPE
1模块配ESD20 Cu
探头用于测量阻焊层下面的铜层厚度
•SR-SCOPE®模块配ERCU-D10探头用于测量多层板表面铜箔厚度厚度厚度而不受中间其它铜层的影响
•PERMASCOPE®模块配FTA3.3-5.6HF探头用于测量铜箔上的阻焊涂层和和保护性涂层的厚度,
配FKB10-OD探头用于测量PCB板的总厚度
电镀层测量
用于测量不同形状、不同材料组成以及不同表面处理状况的零件镀层厚度,是电镀公司用户的典型应用,
即使是在线路或粗糙表面也可以得到很好的测量重复性。
配置
•PERMASCOPE®模块配FGA06HMC探头用于测量小尺寸零件,配F20H探头用于测量粗糙表面,
配V7FKB4探头用于测量磷化膜
•SIGMASCOPE/PHASCOPE1模块配ESD20 Zn探头或ESD2.4探头用于测量铁或铸铁零件上的镀铜或镀锌层。
•加配V12 MOT或V12 BASE测量头用于在小尺寸零件如螺母或螺丝上的测量。
硬件
具备8个模块插槽的仪器基座,可用于不同的测量方法
测量方法
•磁性法(DIN EN ISO 2178)
•磁感应法(DIN EN ISO 2178, ASTM D7091)
•电涡流法(DIN EN ISO 2360, ASTM D7091)
•涡流相位法(DIN EN ISO 21968)
•微电阻法(DIN EN 14571)
•Beta背散射法(DIN EN ISO 3543, ASTM B567a)
测量值
涂镀层厚度,电导率,铁素体含量,温度
测量探头
模块化的插槽适用于所有FISCHER探头,*多可同时连接8个探头
软件
•基于WindowsCE软件程序
•软件支持多种欧洲和亚洲语言:德语,英语,法语,意大利语,西班牙语,捷克语,波兰语,土耳其语,中文和日语
•通过触屏、鼠标或键盘(USB)输入
•应用程式的存储,防止误操作的程序访问权限设定,上下限监控,离奇值控制,校准以及数据分组
测量结果存储
仪器的测量数据存储在应用程式中,此外还包括以下存储信息:
所有的设置信息,测量组信息,日期,时间及校准数据。
•默认模式:测量数据存储在应用程式的连续数组中,根据指定组宽n来对测量结果自动分组,并自动计算组平均值
•矩阵模式:测量数据存储在应用程式设定的矩阵数组中,可按照特定的顺序手动或自动地改变组以生成期望的组
多通道测量
通过*多8个探头在同一测量程式中同时显示并存储测量结果。
测量结果的显示
•数字显示:测量结果以列表显示,并重点放大显示*后一次测量结果
•上下限显示:在指定极限值内将测量值以图形化显示
•过程控制图(SPC):以x/R或x/s图表的形式显示控制图表
•简单显示:*后一次测量数值的显示
•测量值单位可选
–涂镀层厚度:公制或英制
–铁素体:Fe%或WRC-FN
–电导率:% IACS或MS/m
–温度:°C or °F
–其它测量单位的自定义,如g/m2
•测量结果显示分辨率可选
屏幕
大尺寸高分辨率彩色触屏。170 mm x 130 mm (W x H),分辨率800 x 600
测量数据获取
•探头接触时自动获取
•通过外部触发获取
•连续测量模式时通过按键获取
•探头接触或外部触发后,通过设定的时间间隔获取
评估
通过平均值、标准偏差、变异系数、*大值和*小值、测量次数、单一值和组统计值、过程能力因素计算等对一系列测量数
据进行统计评估。可按需得到多个数据组的Cp和Cpk;直方图,累积概率图,FDD图等。
尺寸(W x H x D)
360 mm x 170 mm x 270 mm
重量(全配时)
约5 kg
环境温度
+10°C ... +40°C
接口(标准)
•1 x COM1 – RS232接口
•1 x LAN网络接口
•4 x USB用于键盘、鼠标及打印机的连接
•1 x USB用于电脑的连接
•带有上下超限信号输出的多功能接口,外部触发接口
•连接插座,如外部触发按钮以获取测量数据
•电源适配器AC 12V/1.2 A
可连接打印机
通过USB (兼容2.0)连接的打印机,具备以下打印机语言仿真:PCL, ESC/P
文件
•利用打印模板输出单一数值、组数据及全部测量数据和特定公差。输出SPC图,直方图,累积概率图和FDD图
•具有用户特定信息的打印表格设计。仪器可存储任意数量的打印模板
数据存储
•仪器内部有256 MB的存储空间
•外部USB存储
•网络存储
数据输出
•通过USB接口在线或离线将测量结果输出到电脑
•通过RS232接口在线或离线将测量结果输出到电脑
•以文本文件格式输出结果打印表单,以Q-DAS或HTML格式导入Excel电子表格的文件