原位热分析仪(微区,100纳米分辨率)

主要特点

定点热分析空间分辨率：sub-100nm

＊ 直接能够『Add-On』所有 AFM
＊ 呈像模式：接触式和非接触式，以获得区域 AFM 形貌
＊ 同时进行 µ-DTA/µ-TMA 分析以进行微区材料热分析表征
＊ 定点热分析：膨胀，Tg，软化和熔融
＊ 温度范围：室温 ～ 500° C
＊ 升温/降温速率：0.1～ 1,500° C/分钟
＊ 应用于：热固性树脂，高分子混炼，药物，等相变化，热物性，材料接口分析

仪器介绍

微热分析 (µTATM) 技术结合扫描热成像 (SThM) 于『原子力显微镜 - AFM』, 而将原子力显微镜的一般探针以特殊热探针予以取代。这种特殊设计的热探针通过电流时, 除了提供热源也能测量阻抗。首先, ac 和 dc 热性质成像 (阻抗加热组件探头于一提供温度的振荡但同时维持固定的平均温度) 结合机械测量微TMA『µ-TMA』和微调幅式 DTA 『µ-MTDTA』分析选择的『微区面积』的热性质。

结合扫描热成像 (SThM) 和原子力显微镜 (AFM) 的技术使 得『微热分析 – µ-TA』证明在材料科学、药物学、微电子 产品和生物科技系统皆可以有广泛的应用。

样品既可以用探针做微区加热也可以配合热平台做整个样品的加热, 甚至于两种的结合使用。

利用温度的变化可以增加更多信息的获得, 尤其是利用热卡式和机械方式测量材料的物理性质, 计划进一步利用附加红外线放射以产生红外线光谱和利用 GC-MS 分析经热裂解产生出来的分解气体, 必会使得『微热分析 – µ-TA』成为高分辨的微区表征分析的工具。